JTAG Technologie - beyond boundaries

Sind Sie bereit die Grenzen von JTAG/Boundary Scan zu überwinden?

Um elektronische Baugruppen zu überprüfen war das JTAG/Boundary Scan Testverfahren seinerzeit revolutionär und stellte einen technologischen Sprung dar. Doch nicht die Möglichkeiten der Testbarkeit digitaler Komponenten, die als hervorragende und kostengünstige Ergänzung zu anderen Testverfahren galten, machten den sogenannten JTAG Test zu einem zukunftsfähigen Instrument. Der wahre Wert liegt in den grenzenlosen Möglichkeiten, die der Standard IEEE 1149 eröffnet hat.

Die aktuelle JTAG Technologie - die Embedded JTAG Solutions

Weil die Möglichkeiten so vielfältig sind, nennen wir unsere Test- und Programmierlösungen „Embedded JTAG Solutions“. Sie stehen auf den drei Säulen für verschiedene Technologie- und Einsatzgebiete, die Sie vielleicht schon kennen: Embedded Board Test, Embedded Functional Test und Embedded Programming. Diese drei Säulen beschreiben konkrete Anwendungsszenarien, denen Sie täglich in Ihrer Elektronik-Entwicklung oder –Produktion begegnen.

Die Leistungsstufen: Standard, Professional und Expert

Diese drei Säulen sind jedoch lange nicht das gesamte Leistungsspektrum. Denn wir untergliedern alle drei Pfeiler in nochmals drei horizontale Ebenen – in die Leistungsstufen: Standard (Boundary Scan), Professional (Boundary Scan Plus) und Expert (IP Plus). Die unterste Ebene Standard beschreibt klassische Test- und Programmierverfahren (Debug / Testing) basierend auf dem Boundary-Scan-Standard IEEE 1149.1. Die Level Professional und Expert liegen in ihrer Leistungsfähigkeit weit darüber. Sie nutzen integrierte Chip-Ressourcen und ermöglichen höchste Prüf- und Programmiergeschwindigkeiten für anspruchsvolle und komplexe Elektronik-Baugruppen.

Die sich daraus ergebende Matrix ermöglicht einen Gesamtüberblick über die aktuellen Embedded JTAG Solutions und ihre Anwendungsfälle. Hinter ihr stehen zahlreiche Hardwarelösungen, wie SCANFLEX, SCANBOOSTER oder CION sowie die Softwareplattform SYSTEM CASCON.

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Aktueller Fachartikel zu Beyond Boundaries

Was genau es mit "Beyond Boundaries" auf sich hat, welche Test- und Programmieraufgaben jenseits der Grenzen von JTAG/Boundary Scan möglich sind und der Zusammenhang zwischen Levels, Säulen und einer Matrix: der aktuelle Fachartikel gibt Ihnen Erklärungen dazu. 

Embedded JTAG Solutions

Test- und Programmierapplikationen

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IP operated

Test- und Programmierapplikationen basierend
auf fortgeschrittenen IP-Technologien

IP operated und Boundary Scan

Test- und Programmierapplikationen auf Grundlage von
Boundary Scan (IEEE 1149.x) im Zusammenspiel
mit IP-basierenden Technologien

Boundary Scan

Test- und Programmierapplikationen basierend
auf Boundary Scan (IEEE 1149.x)

Stress

Stress
Signalwechsel finden mit exakter oder höherer Funktionsgeschwindigkeit und abweichenden Parametern des/der steuernden Pins statt.

Nominal-Speed

Nominal-Speed
Signalwechsel finden mit der Funktionsgeschwindigkeit des/der steuernden Pins statt.

Speed Level 3Speed Level 3
Speed Level 2Speed Level 2
At-Speed

At-Speed
Signalwechsel finden unterhalb der Funktionsgeschwindigkeit des/der steuernden Pins statt.

Speed Level 1Speed Level 1
Static

Static
Der Signalwechsel läuft weit unterhalb der Funktionsgeschwindigkeit des/der steuernden Pins ab.

Test

Die Testgeschwindigkeit ist immer auf ein Pin oder eine Pin-Gruppe bezogen und hängt ab vom geplanten Einsatz in der zukünftigen Applikation.

Embedded Board TestEmbedded Board Test

Embedded Board Test

Der Embedded Board Test dient der Überprüfung funktionstüchtiger Boardverbindungen. Hierbei werden zum Beispiel Kurzschlüsse, ungelötete Pins oder fehlende Pull-Widerstände erkannt.

» Erfahren Sie mehr zum Embedded Board Test

IP operated

Test- und Programmierapplikationen basierend
auf fortgeschrittenen IP-Technologien

IP operated semistruktureller Test

IP-gesteuerter semistruktureller Test

über eine Debugschnittstelle oder eine Kommunikations-schnittstelle

Nominal-Speed bis Stress
IP operated und Boundary Scan

Test- und Programmierapplikationen auf Grundlage von
Boundary Scan (IEEE 1149.x) im Zusammenspiel
mit IP-basierenden Technologien

IP operated Boundary Scan struktureller Test

Struktureller Test durch Kombination von Boundary Scan- und IP-Operationen

über eine Debugschnittstelle gesteuert

Static bis At-Speed
Boundary Scan

Test- und Programmierapplikationen basierend
auf Boundary Scan (IEEE 1149.x)

Boundary Scan struktureller Test

Struktureller und parametrischer Test mit Boundary Scan

über JTAG-Schnittstelle

Static
Embedded Functional TestEmbedded Functional Test

Embedded Functional Test

In diesem Verfahren werden in erster Linie die Prüflings- und Bauteilfunktionen überprüft, die über das simple Verifizieren der Verbindungen hinausgehen. Dabei nutzen wir die Instrumente, die Ihr Prüfling bereitstellt.

» Erfahren Sie mehr zum Embedded Functional Test

IP operated funktionaler Test

IP-gesteuerter funktionaler Test

über eine Debugschnittstelle oder eine Kommunikations-schnittstelle

Nominal-Speed bis Stress
IP operated Boundary Scan funktionaler Test

Funktionaler Test durch Kombination von Boundary Scan und IP-Operationen

über eine Debugschnittstelle gesteuert

Static bis At-Speed
Boundary Scan funktionaler Test

Funktionaler Test mit Boundary Scan

über JTAG-Schnittstelle

Static
Embedded ProgrammingEmbedded Programming

Embedded Programming

Unter Nutzung der Boundary-Scan- und Hardware-Ressourcen werden On-Chip oder externe Flash-Bausteine programmiert. Vor allem zunehmende Dateigrößen und die damit wachsenden Ansprüche an die Programmiergeschwindigkeit sind heute Schlüsselelemente bei der Baugruppenfertigung.

» Erfahren Sie mehr zu Embedded Programming

IP operated Programmierung

IP-gesteuerte Programmierung von Flashspeichern und μControllern

mit Datenübertragung über eine Kommunikations-schnittstelle

Highspeed bis Ultra-Highspeed
IP operated Programmierung

IP-gesteuerte Programmierung von Flashspeichern und μControllern

über eine Debugschnittstelle

Mediumspeed bis Highspeed
Boundary Scan Programmierung

Programmierung von Flashspeichern und Konfiguration der (C)PLDs/FPGAs durch Boundary Scan

über JTAG-Schnittstelle

Lowspeed bis Mediumspeed
SVG mit img-Tag laden
hohe bis sehr hohe
Geschwindigkeit

Hohe bis sehr hohe Programmiergeschwindigkeit
Im Level "Expert" mit IP plus werden die höchsten Programmiergeschwindigkeiten im Bereich der GBytes/s erreicht. Hier können Daten über schnelle Kommunikationsschnittstellen, wie Ethernet, übertragen werden.

Stern SymbolStern SymbolStern Symbol

Embedded JTAG Solutions
Expert
(IP plus)

Expert (IP plus)
Hier klicken und mehr über das Expert-Level (IP plus) erfahren.

SVG mit img-Tag laden
mittlere bis hohe
Geschwindigkeit

Mittlere bis hohe Programmiergeschwindigkeit
Im Level "Professional" mit Boundary Scan plus werden höhere Programmiergeschwindigkeiten im Bereich der kBytes/s erreicht.

Stern SymbolStern Symbol

Embedded JTAG Solutions
Professional
(Boundary Scan plus)

Professional (Boundary Scan plus)
Hier klicken und mehr über das Professional-Level (Boundary Scan plus) erfahren.

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niedrige bis mittlere
Geschwindigkeit

Niedrige bis mittlere Programmiergeschwindigkeit
Im Level "Standard" mit Boundary Scan werden nur niedrige Programmiergeschwindigkeiten von wenigen Bytes/s bis kBytes/s erreicht.

Stern Symbol

Embedded JTAG Solutions
Standard
(Boundary Scan)

Standard (Boundary Scan)
Hier klicken und mehr über das Standard-Level (Boundary Scan) erfahren.

Die Programmiergeschwindigkeit richtet sich nach der Menge der zu übertragenden Daten und ist von vielen Faktoren abhängig. Ohne Kenntnis über die Applikation sind genaue Aussagen deshalb in der Regel nicht möglich. Angaben zur Geschwindigkeit sind immer subjektiv und von Einsatz sowie vom Nutzen abhängig.

Gering Bytes/sec
Mittel KBytes/sec
Hoch MBytes/sec
Sehr hoch GBytes/sec

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