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JTAG Technologie - beyond boundaries
Sind Sie bereit die Grenzen von JTAG/Boundary Scan zu überwinden?
Um elektronische Baugruppen zu überprüfen war das JTAG/Boundary Scan Testverfahren seinerzeit revolutionär und stellte einen technologischen Sprung dar. Doch nicht die Möglichkeiten der Testbarkeit digitaler Komponenten, die als hervorragende und kostengünstige Ergänzung zu anderen Testverfahren galten, machten den sogenannten JTAG Test zu einem zukunftsfähigen Instrument. Der wahre Wert liegt in den grenzenlosen Möglichkeiten, die der Standard IEEE 1149 eröffnet hat.
Die aktuelle JTAG Technologie - die Embedded JTAG Solutions
Weil die Möglichkeiten so vielfältig sind, nennen wir unsere Test- und Programmierlösungen „Embedded JTAG Solutions“. Sie stehen auf den drei Säulen für verschiedene Technologie- und Einsatzgebiete, die Sie vielleicht schon kennen: Embedded Board Test, Embedded Functional Test und Embedded Programming. Diese drei Säulen beschreiben konkrete Anwendungsszenarien, denen Sie täglich in Ihrer Elektronik-Entwicklung oder –Produktion begegnen.
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Embedded JTAG Solutions
Test- und Programmierapplikationen in der JTAG Matrix
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Test- und Programmierapplikationen basierend
auf fortgeschrittenen IP-Technologien
Test- und Programmierapplikationen auf Grundlage von
Boundary Scan (IEEE 1149.x) im Zusammenspiel
mit IP-basierenden Technologien
Test- und Programmierapplikationen basierend
auf Boundary Scan (IEEE 1149.x)
Stress
Signalwechsel finden mit exakter oder höherer Funktionsgeschwindigkeit und abweichenden Parametern des/der steuernden Pins statt.
Nominal-Speed
Signalwechsel finden mit der Funktionsgeschwindigkeit des/der steuernden Pins statt.
At-Speed
Signalwechsel finden unterhalb der Funktionsgeschwindigkeit des/der steuernden Pins statt.
Static
Der Signalwechsel läuft weit unterhalb der Funktionsgeschwindigkeit des/der steuernden Pins ab.
Die Testgeschwindigkeit ist immer auf ein Pin oder eine Pin-Gruppe bezogen und hängt ab vom geplanten Einsatz in der zukünftigen Applikation.
Embedded Board Test
Der Embedded Board Test dient der Überprüfung funktionstüchtiger Boardverbindungen. Hierbei werden zum Beispiel Kurzschlüsse, ungelötete Pins oder fehlende Pull-Widerstände erkannt.
Test- und Programmierapplikationen basierend
auf fortgeschrittenen IP-Technologien
IP-gesteuerter semistruktureller Test
Test- und Programmierapplikationen auf Grundlage von
Boundary Scan (IEEE 1149.x) im Zusammenspiel
mit IP-basierenden Technologien
Struktureller Test durch Kombination von Boundary Scan- und IP-Operationen
Test- und Programmierapplikationen basierend
auf Boundary Scan (IEEE 1149.x)
Struktureller und parametrischer Test mit Boundary Scan
Embedded Functional Test
In diesem Verfahren werden in erster Linie die Prüflings- und Bauteilfunktionen überprüft, die über das simple Verifizieren der Verbindungen hinausgehen. Dabei nutzen wir die Instrumente, die Ihr Prüfling bereitstellt.
IP-gesteuerter funktionaler Test
Funktionaler Test durch Kombination von Boundary Scan und IP-Operationen
Funktionaler Test mit Boundary Scan
Embedded Programming
Unter Nutzung der Boundary-Scan- und Hardware-Ressourcen werden On-Chip oder externe Flash-Bausteine programmiert. Vor allem zunehmende Dateigrößen und die damit wachsenden Ansprüche an die Programmiergeschwindigkeit sind heute Schlüsselelemente bei der Baugruppenfertigung.
IP-gesteuerte Programmierung von Flashspeichern und μControllern
IP-gesteuerte Programmierung von Flashspeichern und μControllern
Programmierung von Flashspeichern und Konfiguration der (C)PLDs/FPGAs durch Boundary Scan
Geschwindigkeit
Hohe bis sehr hohe Programmiergeschwindigkeit
Im Level "Expert" mit IP plus werden die höchsten Programmiergeschwindigkeiten im Bereich der GBytes/s erreicht. Hier können Daten über schnelle Kommunikationsschnittstellen, wie Ethernet, übertragen werden.
Embedded JTAG Solutions
Expert
(IP plus)
Expert (IP plus)
Hier klicken und mehr über das Expert-Level (IP plus) erfahren.
Geschwindigkeit
Mittlere bis hohe Programmiergeschwindigkeit
Im Level "Professional" mit Boundary Scan plus werden höhere Programmiergeschwindigkeiten im Bereich der kBytes/s erreicht.
Embedded JTAG Solutions
Professional
(Boundary Scan plus)
Professional (Boundary Scan plus)
Hier klicken und mehr über das Professional-Level (Boundary Scan plus) erfahren.
Geschwindigkeit
Niedrige bis mittlere Programmiergeschwindigkeit
Im Level "Standard" mit Boundary Scan werden nur niedrige Programmiergeschwindigkeiten von wenigen Bytes/s bis kBytes/s erreicht.
Embedded JTAG Solutions
Standard
(Boundary Scan)
Standard (Boundary Scan)
Hier klicken und mehr über das Standard-Level (Boundary Scan) erfahren.
Die Programmiergeschwindigkeit richtet sich nach der Menge der zu übertragenden Daten und ist von vielen Faktoren abhängig. Ohne Kenntnis über die Applikation sind genaue Aussagen deshalb in der Regel nicht möglich. Angaben zur Geschwindigkeit sind immer subjektiv und von Einsatz sowie vom Nutzen abhängig.
Gering Bytes/sec
Mittel KBytes/sec
Hoch MBytes/sec
Sehr hoch GBytes/sec
Die Leistungsstufen: Standard, Professional und Expert
Diese drei Säulen sind jedoch lange nicht das gesamte Leistungsspektrum. Denn wir untergliedern alle drei Pfeiler in nochmals drei horizontale Ebenen – in die Leistungsstufen: Standard (Boundary Scan), Professional (Boundary Scan Plus) und Expert (IP Plus). Die unterste Ebene Standard beschreibt klassische Test- und Programmierverfahren (Debug / Testing) basierend auf dem Boundary-Scan-Standard IEEE 1149.1. Die Level Professional und Expert liegen in ihrer Leistungsfähigkeit weit darüber. Sie nutzen integrierte Chip-Ressourcen und ermöglichen höchste Prüf- und Programmiergeschwindigkeiten für anspruchsvolle und komplexe Elektronik-Baugruppen.
Die sich daraus ergebende Matrix ermöglicht einen Gesamtüberblick über die aktuellen Embedded JTAG Solutions und ihre Anwendungsfälle. Hinter ihr stehen zahlreiche Hardwarelösungen, wie SCANFLEX, SCANBOOSTER oder CION sowie die Softwareplattform SYSTEM CASCON.
Fachartikel zu Beyond Boundaries
Was genau es mit "Beyond Boundaries" auf sich hat, welche Test- und Programmieraufgaben jenseits der Grenzen von JTAG/Boundary Scan möglich sind und der Zusammenhang zwischen Levels, Säulen und einer Matrix: der aktuelle Fachartikel gibt Ihnen Erklärungen dazu.
"Die Grenzen von JTAG/Boundary Scan überwinden" Fachartikel | 1 MB
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