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Von Embedded Board Test bis Embedded Programming
Um den Herausforderungen im Produktions- und Entwicklungsalltag zu begegnen, ist eine umfassende Fehlererkennung im Produktlebenszyklus durch den Einsatz von Embedded JTAG Solutions erforderlich. Mit unserer passenden Webinarreihe ist ein kompakter Einblick in die faszinierende Welt von Embedded JTAG Solutions garantiert.
Verborgene Fehler mit Embedded JTAG Solutions entdecken
Im Umfeld von Elektronik-Entwicklung und Fertigung hat man immer wieder mit dem Eisberg-Phänomen zu kämpfen: heimtückische Fehler im Prozess, die später gar nicht oder zumindest nicht auf den ersten Blick sichtbar sind. Der Anteil dieser unsichtbaren Gefahren wird größer durch zunehmende Bauteildichte und verdeckte Lötstellen. Um den Herausforderungen auch im Produktions- und Entwicklungsalltag zu begegnen, braucht es die richtigen Werkzeuge.
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Unsichtbare Gefahren frühzeitig erkennen
Die Gefahren nicht sichtbarer und diagnostizierbarer Fehler durch zunehmende Bauteildichte und verdeckte Lötstellen lauern überall: in der Entwicklung, der Produktion oder im Feld. Unsere Embedded JTAG Solutions überwinden diese Grenzen der Fehlererkennung.
Referenten: Thomas Wenzel, Martin Borowski, Jan Heiber
Den Blick unter die Oberfläche wagen
Fehler sind mit dem bloßen Auge immer schwerer zu detektieren. Das gezielte Lokalisieren unsichtbarer Strukturfehler erfordert ausgeklügelte Lösungen. "Embedded JTAG Solutions" ermöglicht es funktionale Fehler zu finden - vom Design bis zur Fertigung.
Referenten: Thomas Wenzel, Ricardo Schmidt, Alexander Labrada-Diaz
Immer die richtige Ausrüstung für spannende Einsätze
Eine verbesserte Fehlerabdeckung, höhere Testeffizienz und eine schnellere Geschwindigkeit bei der Programmierung machen Embedded JTAG Turnkey Solutions möglich. Wie das gelingt, wird informativ und kompakt präsentiert.
Referent: Alexander Beck
Funktionsfehler prozessübergreifend detektieren
Die immer größeren Aufwände bei der Fehlererkennung können mit der Nutzung von funktionalen Testverfahren auf Basis von eingebetteten Instrumenten verbessert werden. Aufgezeigt werden die Theorie des Funktionstests, EJS Technologien, sowie Testapplikationen und Fallstudien.
Referenten: Thomas Wenzel, Martin Borowski, Alexander Labrada-Diaz
Entdecken Sie die Smart Speed Boosters
Egal ob serielle Flashes (eMMC, I²C, SPI), parallele Flashes (NAND, NOR) oder komplexe Bausteine (Prozessor, Controller, FPGA, CPLD). Erfahren Sie mehr über die neuen Möglichkeiten vielseitiger Programmierungen mit Embedded Instruments!
Referenten: Ricardo Wenzel, Martin Borowski, Jan Heiber
