Im höchsten Expert-Level, IP Plus, werden auch die höchsten Geschwindigkeiten erreicht. Wir sprechen nun vom Nominal-, bzw. Stress-Level-Test. Bei Nominal-Speed wird mit der Geschwindigkeit der Pinfunktion getestet. Bei noch höheren Geschwindigkeiten und/oder erweiterten Parametern spricht man vom Stress-Level-Test. Dabei wird die Spezifikation sogar überstiegen. Die Tests in diesem Level zeigen, ob Ihre Baugruppe bereits im Grenzbereich arbeitet oder nahe der Ausfallgrenze liegt.
Eine typische Test-Applikation ist zum Beispiel ein Bit Error Rate Test an Highspeed-Schnittstellen. Beim Programmieren werden im IP Plus Level die höchsten Geschwindigkeiten erreicht (> MBytes/s), indem Programmierdaten auch über Kommunikationsschnittstellen (z.B. Ethernet) übertragen werden.
Hier im Expert-Level werden die Tests und Programmierungen über die JTAG-Schnittstelle oder eine Debug-Schnittstelle gesteuert, z.B. über SWD (ARM), DAP (Infineon) und andere. Die Programmierdaten können dabei am Steuerinterface vorbei und über eine Kommunikationsschnittstelle übertragen werden.
Heute gebräuchliche und weit verbreitete Kommunikationsschnittstellen sind z.B. USB, Ethernet, CAN und andere.
Applikationen:
Applikationen:
Applikationen:
Die Testgeschwindigkeit ist immer auf einen Pin oder eine Pin-Gruppe bezogen und hängt vom geplanten Einsatz in der zukünftigen Applikation ab.
Nominal-Speed
Signalwechsel finden mit der Funktionsgeschwindigkeit des/der steuernden Pins statt, z.B. bei der Boot-Flashprogrammierung mit einem eingebetteten FPGA-Instrument.
Stress
Signalwechsel finden mit exakter oder höherer als der Funktionsgeschwindigkeit und/oder abweichenden Parametern des/der steuernden Pins statt.
Die Programmiergeschwindigkeit richtet sich nach der Menge der zu übertragenden Daten und ist von mehreren Faktoren abhängig. Ohne Kenntnis über die Applikation sind genaue Aussagen deshalb in der Regel nicht möglich. Angaben zur Geschwindigkeit sind immer subjektiv und vom Einsatz abhängig.
Hohe bis sehr hohe Programmiergeschwindigkeit
Im Level Expert mit IP plus werden die höchsten Programmiergeschwindigkeiten im Bereich von MBytes/s bis hin zu GBytes/s erreicht. Hier können die Nutzdaten über schnelle Kommunikationsschnittstellen, wie z.B. Ethernet, übertragen werden.
JTAG-basierte Tests
Das standardisierte Boundary Scan-Verfahren nach IEEE 1149.1 spricht komplexe Bausteine wie FPGAs, Prozessoren, Controller und CPLDs einfach an. Detaillierte Hardwarekenntnisse sind nicht notwendig.
FPGA-basierte Tests
Mit dem Verfahren ChipVORX wird die FPGA-Logik in den Test eingebunden. Mithilfe universeller FPGA-Modelle greifen Sie ohne weitere Anpassungen auf standardisierte Funktionalitäten zu. Dadurch lassen sich klassische Boundary Scan Tests und Programmierungen stark beschleunigen aber auch untypische Tests, wie Frequenzmessungen realisieren.
µProzessor-basierte Tests
Ein prozessor-spezifisches Modell bringt den IC in den Debug-Modus. Danach werden interne Funktionalitäten (Register, Speicherbereiche, komplexe Controller angesprochen, um analoge Messungen, At-Speed-Flashprogrammierungen oder auch At-Speed-RAM-Tests auszuführen. Dazu können sowohl der JTAG-Port als auch andere Debug-Interfaces verwendet werden.
Prozessorbasierte Tests mit universeller Firmware
Mithilfe von JEDOS werden komplexe funktionale Tests mit Hilfe einer grafischen Oberfläche realisiert. Speicherzellen-Tests, rasend schnelle Flashprogrammierung oder Schnittstellentests (Ethernet, USB, …) erstellt man ohne spezielle Hardwarekenntnisse in kürzester Zeit.
Als Basis aller Tests und Programmierungen ist die Hardwarearchitektur SCANFLEX II zur Ansteuerung aller Prüflinge bestens geeignet.
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