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Expert-Level mit IP plus

Nominal- bis Stress-Level-Test

Im höchsten Expert-Level, IP Plus, werden auch die höchsten Geschwindigkeiten erreicht. Wir sprechen nun vom Nominal-, bzw. Stress-Level-Test. Bei Nominal-Speed wird mit der Geschwindigkeit der Pinfunktion getestet. Bei noch höheren Geschwindigkeiten und/oder erweiterten Parametern spricht man vom Stress-Level-Test. Dabei wird die Spezifikation sogar überstiegen. Die Tests in diesem Level zeigen, ob Ihre Baugruppe bereits im Grenzbereich arbeitet oder nahe der Ausfallgrenze liegt.

Eine typische Test-Applikation ist zum Beispiel ein Bit Error Rate Test an Highspeed-Schnittstellen. Beim Programmieren werden im IP Plus Level die höchsten Geschwindigkeiten erreicht (> MBytes/s), indem Programmierdaten auch über Kommunikationsschnittstellen (z.B. Ethernet) übertragen werden.

Hier im Expert-Level werden die Tests und Programmierungen über die JTAG-Schnittstelle oder eine Debug-Schnittstelle gesteuert, z.B.  über SWD (ARM), DAP (Infineon) und andere. Die Programmierdaten können dabei am Steuerinterface vorbei und über eine Kommunikationsschnittstelle übertragen werden. 

Heute gebräuchliche und weit verbreitete Kommunikationsschnittstellen sind z.B. USB, Ethernet, CAN und andere.

Der Embedded Board Test im Expert-Level

IP-gesteuerter semistruktureller Test

Applikationen:

  • FPGA-basierter BERT (Bit Error Rate Test)
    • Darstellung von Augendiagrammen
    • Produktionstauglichkeit durch Multi-Point-Messung

Der Embedded Functional Test im Expert-Level

IP-gesteuerter funktionaler Test

Applikationen:

  • dynamischer Zugriff auf Non-Boundary-Scan-Elemente
  • funktionaler RAM-Test, RAM-Zellentest, RAM-Stresstest
  • DDR RAM-Kalibrierung
  • funktionale Interface-Tests
  • Ethernet-Stresstest FERT (Frame Error Rate Test)

Embedded Programming im Expert-Level

IP-gesteuerte Programmierung von Flashspeichern und μControllern

Applikationen:

  • Programmierung im GB-Datenbereich
  • FPGA (Boot-)EEPROM / Flashprogrammierung
  • µ-Prozessor OnChip-Flashprogrammierung
  • µ-Prozessor Flash Programmierung
  • I2C, SPI, Microwire, NOR, NAND, PCM, eMMC ...
  • Verwendung von Kommunikationsschnittstellen

Testgeschwindigkeit

Die Testgeschwindigkeit ist immer auf ein Pin oder eine Pin-Gruppe bezogen und hängt vom geplanten Einsatz in der zukünftigen Applikation ab .

Nominal-Speed

Signalwechsel finden mit der Funktionsgeschwindigkeit des/der steuernden Pins statt, z.B. bei der Boot-Flashprogrammierung mit einem eingebetteten FPGA-Instrument.

Stress

Signalwechsel finden mit exakter oder höherer als der Funktionsgeschwindigkeit und/oder abweichenden Parametern des/der steuernden Pins statt. 

Programmiergeschwindigkeit

Die Programmiergeschwindigkeit richtet sich nach der Menge der zu übertragenden Daten und ist von mehreren Faktoren abhängig. Ohne Kenntnis über die Applikation sind genaue Aussagen deshalb in der Regel nicht möglich. Angaben zur Geschwindigkeit sind immer subjektiv und vom Einsatz abhängig.

Hohe bis sehr hohe Programmiergeschwindigkeit

Im Level Expert mit IP plus werden die höchsten Programmiergeschwindigkeiten im Bereich von MBytes/s bis hin zu GBytes/s erreicht. Hier können die Nutzdaten über schnelle Kommunikationsschnittstellen, wie z.B. Ethernet, übertragen werden.   
 

Anwendungen aus dem Hause GÖPEL electronic

Mit den folgenden kombinierbaren Technologien findet das Expert-Level Anwendung

  • JTAG-basierte Tests

    Das standardisierte Boundary Scan-Verfahren nach IEEE 1149.1  spricht komplexe Bausteine wie FPGAs, Prozessoren, Controller und CPLDs einfach an. Detaillierte Hardwarekenntnisse sind nicht notwendig.

    » Erfahren Sie mehr zu Boundary Scan

  • FPGA-basierte Tests

    Mit dem Verfahren ChipVORX wird die FPGA-Logik in den Test eingebunden. Mithilfe universeller FPGA-Modelle greifen Sie ohne weitere Anpassungen auf standardisierte Funktionalitäten zu. Dadurch lassen sich klassische Boundary Scan Tests und Programmierungen stark beschleunigen aber auch untypische Tests, wie Frequenzmessungen realisieren.

    » Erfahren Sie mehr zu ChipVORX

  • µProzessor-basierte Tests

    Ein prozessor-spezifisches Modell bringt den IC in den Debug-Modus. Danach werden interne Funktionalitäten (Register, Speicherbereiche, komplexe Controller angesprochen, um analoge Messungen, At-Speed-Flashprogrammierungen oder auch At-Speed-RAM-Tests auszuführen. Dazu können sowohl der JTAG-Port als auch andere Debug-Interfaces verwendet werden.

    » Erfahren Sie mehr zu VarioTAP

  • Prozessorbasierte Tests mit universeller Firmware

    Mithilfe von JEDOS  werden komplexe funktionale Tests mit Hilfe einer grafischen Oberfläche realisiert. Speicherzellen-Tests, rasend schnelle Flashprogrammierung oder Schnittstellentests (Ethernet, USB, …) erstellt man ohne spezielle Hardwarekenntnisse in kürzester Zeit.

    » Erfahren Sie mehr zu JEDOS

Als Basis aller Tests und Programmierungen ist die Hardwarearchitektur SCANFLEX II zur Ansteuerung aller Prüflinge bestens geeignet. 

» Erfahren Sie mehr zu SCANFLEX II