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Embedded Functional Test

Einbindung funktionaler Tests wie z.B. den Zugriff auf I²C und SPI Bausteine

Heutige Teststrategien erfordern mehr als das einfache Prüfen von Boardverbindungen. Neben der einwandfreien Kontaktierung müssen vor allem auch die Board- und Bauteilfunktion überprüft werden. Diese Testanforderungen und die dazugehörigen Strategien gruppieren wir unter dem Embedded Functional Test zusammen — funktionales Testen moderner Elektronik mithilfe der Intelligenz bereits bestückter Bausteine. 

Die Erstellung und Anwendung von Testszenarien findet komplett in einem System statt, welches durch eine gemeinsame Steuerhardware und eine gemeinsame Steuersoftware gebildet wird.

Der Embedded Functional Test ermöglicht die Einbindung funktionaler Tests wie z.B. den Zugriff auf I²C und SPI Bausteine, das Messen und Auswerten von analogen Prozessoreingängen, dynamische Speichertests bis hin zum Test von Highspeed Schnittstellen wie z.B. USB 3.0. Typischerweise werden diese Tests als Erweiterung zu bestehenden strukturellen Tests (Boundary Scan, ICT oder Flying Probe) eingesetzt.

Auch Fehler im dynamischen Bereich werden durch den Embedded Functional Test entdeckt, was bei einem rein statischen Test im Normalfall nicht möglich ist. Im Gegensatz zum klassischen Funktionstest wird keine boardspezifische Firmware benötigt. 

Der Begriff Embedded Functional Test vereint insgesamt vier Technologien, die je nach Bedarf kombiniert werden können.

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