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Embedded JTAG Solutions anwenden
Debuggen, Testen und Programmieren
Zynq-7000-SoCs (System-on-Chip) von Xilinx
Die "All-Programmable"-System-on-Chip (SoC)-Reihe Zynq-7000 von Xilinx bietet ein hohes Niveau an Programmierbarkeit zum hochflexiblen Design von SoC-basierenden Lösungen.
Hauptanwendungsgebiete der Zynq-Bausteine sind Regelung und Steuerung, Kommunikation, Sicherheitstechnik, Systemmanagement und -Analyse.
Die In-System-Technologie ChipVORX konfiguriert und steuert Test-, Debug- und Programmierfunktionen für die Zynq-7000-SoCs. Die ChipVORX-Modelle enthalten sämtliche notwendige strukturelle und funktionale Informationen zur Ansteuerung der Embedded-Hardware auf Kommandoebene.
Anwendungsbeispiel: Helmut BEYERS
Der elektrische Test mit dem JTAG-/Boundary-Scan
Die Helmut BEYERS GmbH aus Mönchengladbach ist ein mittelständischer Auftragsfertiger. Das Unternehmen arbeitet im Auftrag von OEM-Kunden aus der Telekommunikations-, Medizin- oder Haustechnik. Zunehmend kommen Anfragen aus den Bereichen intelligenter Elektronik für Industrie 4.0- und Smart-Home-Anwendungen. Von Nullserien, Prototypen bis hin zu 50.000er Losgrößen skaliert die Fertigung flexibel und setzt auch anspruchsvolle technologische Kundenwünsche um.
Herausforderung
- Kunden fordern Fehlertoleranz von teilweise < 1 %
- schwere Testbarkeit durch hohen BGA-Einsatz und fehlende Testpunkte
- Ergänzung zum In-Circuit-Test notwendig
- Einhalten von Taktzeiten
Lösung
- Kombination von Prüfstrategien für nahezu 100-prozentige Testtiefe
- schnelle Adaption von Prüflingen
- Testsystem in Kombination mit automatischer Baugruppenprogrammierung spart Zeit
- vollautomatische Programmierung sämtlicher ICs direkt im Prüfprozess integriert
Anwendungsbeispiel Infineon
Infineon Automotive-Power-ICs testen und programmieren mit VarioTAP
Die neueste Generation der AURIX-MultiCore-Bausteine sowie die TLE987x-Familie aus dem Bereich Automotive und Embedded Power von Infineon eignen sich besonders für Steuer-Applikationen wie zum Beispiel:
- Kraftstoffpumpen
- Klimaanlagen-Gebläse
- sensorbasierte Motoransteuerungen
- sicherheitskritische Anwendungen
Herausforderung
Durch die platzsparenden BGA-, bzw. VQFN-48-Gehäuse ist typischerweise keine direkte Kontaktierung mit externen Instrumenten möglich.
Unsere Lösung
VarioTAP ermöglicht den Zugriff auf die bausteineigenen Ressourcen über dessen Teststrukturen. Dadurch können sowohl statische wie auch dynamische Testpattern generiert werden, welche zudem mit anderen Testmethoden wie z.B. Boundary Scan kombiniert werden können.
Damit werden strukturelle Tests erweitert, bzw. funktionale oder diagnostische Tests überhaupt erst möglich.
Funktionale Schaltungstests für energieeffiziente i.MX6-Multimedia-Prozessoren von NXP
Basierend auf der ARM® Cortex™-A9-Architektur mit bis zu vier Kernen wurden die i.MX6-Prozessoren von NXP speziell für Unterhaltungs-, Industrie- und Automobilanwendungen entwickelt. Der Fokus der Funktionalität liegt in einer Kombination aus neuester 3D/2D-HD-Grafiktechnologie bei effizientem Energiemanagement.
Mit JEDOS führen Sie beispielsweise spezielle Test- und Programmierprozeduren für die i.MX6-Familie durch:
- Test und Kalibrierung von DDR-Bausteinen
- Test von High-Speed-Schnittstellen (PCIe)
- Laden von Flash-Bausteinen über externe Medien oder Kommunikationsinterfaces
Weiteres zu JTAG-Anwendungen
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» Embedded JTAG – Testen vom Prototypen bis zur Serie
(September 2020)
