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Embedded JTAG Solutions anwenden
Inbetriebnahme von Prototypen
Haben auch Sie immer wieder Probleme bei der Inbetriebnahme Ihrer Prototypen?
Der zunehmende Fachkräftemangel und der damit verbundene Zeitdruck führen dazu, dass es sich heute fast kein Entwickler mehr leisten kann, Tage und Wochen in die Inbetriebnahme seiner Prototypen zu investieren.
Oft ist die Firmware der Platine nicht fertig oder einfach noch nicht fehlerfrei. Wir zeigen Ihnen, wie Sie Ihre Hardware nicht nur schnell auf Löt- und Bestückungsfehler überprüfen, sondern auch durchschnittlich zwei Wochen pro Projekt bei der Fehlersuche einsparen können.
Pingenaue Fehlerdiagnose
Fehlfunktion Ihrer Elektronik erkannt – finden Sie sofort die Ursache?“
Um zu prüfen, ob eine Leiterplatte korrekt funktioniert, wird heute in der Regel ein Funktions- oder End-of-Line-Test durchgeführt. Dabei geht es eigentlich nicht darum, Fehler zu finden, sondern die Fehlerfreiheit sicherzustellen. Denn wird der Fehler erst hier gefunden, ist es meist teuer und sehr zeitaufwendig, diesen auch präzise zu lokalisieren, damit eine Reparatur möglich ist. Wir zeigen Ihnen wie Sie einen Hardwarefehler in wenigen Sekunden pingenau finden und optional auch anzeigen können.
Programmierung und Testen
Elektrische Tests kombiniert mit blitzschneller Programmierung!
Bei immer umfangreicheren Datenmengen und steigenden Kosten für Prüf- und Programmieradapter kann es sinnvoll sein, einen elektrischen Test direkt mit der Programmierung zu kombinieren. Letztere erfolgt natürlich erst nach einem PASS-Test. Somit wird nur eine kombinierte Test- und Programmierstation benötigt.
Effiziente Inbetriebnahme von Prototypen mit dem SCANFLEX Board Grabber
Fehlt Ihnen auch oft die dritte Hand? Flexible Platinenaufnahme mit der Möglichkeit, Nadeln manuell zu setzen.
Gerade bei der Inbetriebnahme von Prototypen oder beim Test von Kleinserien steht aus Kostengründen oft kein Nadeladapter zur Verfügung. Der Board Grabber kann dieses Problem effektiv lösen.
Debuggen, Testen und Programmieren
Zynq-7000-SoCs (System-on-Chip) von Xilinx
Die "All-Programmable"-System-on-Chip (SoC)-Reihe Zynq-7000 von Xilinx bietet ein hohes Niveau an Programmierbarkeit zum hochflexiblen Design von SoC-basierenden Lösungen.
Hauptanwendungsgebiete der Zynq-Bausteine sind Regelung und Steuerung, Kommunikation, Sicherheitstechnik, Systemmanagement und -Analyse.
Die In-System-Technologie ChipVORX konfiguriert und steuert Test-, Debug- und Programmierfunktionen für die Zynq-7000-SoCs. Die ChipVORX-Modelle enthalten sämtliche notwendige strukturelle und funktionale Informationen zur Ansteuerung der Embedded-Hardware auf Kommandoebene.
Anwendungsbeispiel: HANZA Beyers GmbH
Der elektrische Test mit dem JTAG-/Boundary-Scan
Die HANZA Beyers GmbH aus Mönchengladbach ist ein mittelständischer Auftragsfertiger. Das Unternehmen arbeitet im Auftrag von OEM-Kunden aus der Telekommunikations-, Medizin- oder Haustechnik. Zunehmend kommen Anfragen aus den Bereichen intelligenter Elektronik für Industrie 4.0- und Smart-Home-Anwendungen. Von Nullserien, Prototypen bis hin zu 50.000er Losgrößen skaliert die Fertigung flexibel und setzt auch anspruchsvolle technologische Kundenwünsche um.
Herausforderung
- Kunden fordern Fehlertoleranz von teilweise < 1 %
- schwere Testbarkeit durch hohen BGA-Einsatz und fehlende Testpunkte
- Ergänzung zum In-Circuit-Test notwendig
- Einhalten von Taktzeiten
Lösung
- Kombination von Prüfstrategien für nahezu 100-prozentige Testtiefe
- schnelle Adaption von Prüflingen
- Testsystem in Kombination mit automatischer Baugruppenprogrammierung spart Zeit
- vollautomatische Programmierung sämtlicher ICs direkt im Prüfprozess integriert
Anwendungsbeispiel Infineon
Infineon Automotive-Power-ICs testen und programmieren mit VarioTAP
Die neueste Generation der AURIX-MultiCore-Bausteine sowie die TLE987x-Familie aus dem Bereich Automotive und Embedded Power von Infineon eignen sich besonders für Steuer-Applikationen wie zum Beispiel:
- Kraftstoffpumpen
- Klimaanlagen-Gebläse
- sensorbasierte Motoransteuerungen
- sicherheitskritische Anwendungen
Herausforderung
Durch die platzsparenden BGA-, bzw. VQFN-48-Gehäuse ist typischerweise keine direkte Kontaktierung mit externen Instrumenten möglich.
Unsere Lösung
VarioTAP ermöglicht den Zugriff auf die bausteineigenen Ressourcen über dessen Teststrukturen. Dadurch können sowohl statische wie auch dynamische Testpattern generiert werden, welche zudem mit anderen Testmethoden wie z.B. Boundary Scan kombiniert werden können.
Damit werden strukturelle Tests erweitert, bzw. funktionale oder diagnostische Tests überhaupt erst möglich.
Funktionale Schaltungstests für energieeffiziente i.MX6-Multimedia-Prozessoren von NXP
Basierend auf der ARM® Cortex™-A9-Architektur mit bis zu vier Kernen wurden die i.MX6-Prozessoren von NXP speziell für Unterhaltungs-, Industrie- und Automobilanwendungen entwickelt. Der Fokus der Funktionalität liegt in einer Kombination aus neuester 3D/2D-HD-Grafiktechnologie bei effizientem Energiemanagement.
Mit JEDOS führen Sie beispielsweise spezielle Test- und Programmierprozeduren für die i.MX6-Familie durch:
- Test und Kalibrierung von DDR-Bausteinen
- Test von High-Speed-Schnittstellen (PCIe)
- Laden von Flash-Bausteinen über externe Medien oder Kommunikationsinterfaces
Weiteres zu JTAG-Anwendungen
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» Embedded JTAG – Testen vom Prototypen bis zur Serie
(September 2020)
