Professional-Level mit Boundary Scan plus

Noch schneller testen und dynamische Fehler diagnostizieren

Im Professional-Level werden höhere Zugriffsgeschwindigkeiten erreicht ( At-Speed oder Nominal-Speed). Die Testgeschwindigkeit liegt zwar weiterhin in den meisten Applikationen unter der eigentlichen Boardfunktion, ist jedoch deutlich schneller als beim herkömmlichen Boundary Scan Test, sodass wir nicht mehr von statischen Signalewechseln ausgehen.

Grundlegend wird jetzt die Testgeschwindigkeit durch den Debug-Zugriff definiert. So kann zum Beispiel ein RAM-Verbindungstest mit "Boundary Scan plus" auch dynamische Probleme an Terminierungswiderständen detektieren und diagnostizieren.

Auch beim Programmieren können durch die Verwendung von VarioTAP, bzw. ChipVORX, deutlich höhere Geschwindigkeiten erreicht werden (im Bereich von kBytes/s bis MBytes/s).

Hier im Professional-Level werden Test und Programmierung über die JTAG-Schnittstelle oder eine Debug-Schnittstelle gesteuert, z.B. über SWD (ARM), DAP (Infineon) und andere.

Der Embedded Board Test im Professional-Level

Struktureller Test durch Kombination von Boundary Scan und IP-Operationen

Applikationen:

  • interaktiver Test zwischen Boundary Scan Pins und µ-Prozessor-GPIOs
  • Kurzschlussfreiheit zwischen Boundary Scan und µ-Prozessor-GPIO Netzen
  • Detektierung offener Pins (Boundary Scan und µ-Prozessor-GPIO)
  • fehlende oder falsche Pull-Widerstände an µ-Prozessor-GPIO

Der Embedded Functional Test im Professional-Level

Funktionaler Test durch Kombination von Boundary Scan und IP-Operationen

Applikationen:

  • dynamischer RAM-Verbindungstest mit FPGA oder µ-Prozessor
  • dynamischer Zugriff auf Non-Boundary-Scan-Elemente
  • Level Shifter, Treiber ICs, Analogschalter
  • Logik-Bausteine
  • Speicher, RTC, Sensoren, PHY…
  • funktionale Interface-Tests
  • GPIO, I2C, SPI, UART, USBx, LAN, CAN, PCIe ...

Embedded Programming im Professional-Level

IP-gesteuerte Programmierung von Flashspeichern und μControllern

Applikationen:

  • Programmierung im MB-Datenbereich
  • (C)PLD/FPGA-Konfiguration mit eingebettetem Instrument
  • FPGA (Boot-)EEPROM / Flashprogrammierung
  • µ-Prozessor OnChip-Flashprogrammierung
  • µ-Prozessor Flashprogrammierung
  • I2C, SPI, Microwire, NOR, NAND, PCM, eMMC ...

Testgeschwindigkeit

Die Testgeschwindigkeit ist immer auf einen Pin oder eine Pin-Gruppe bezogen und hängt vom geplanten Einsatz in der zukünftigen Applikation ab.

Static

Der Signalwechsel läuft weit unterhalb der Funktionsgeschwindigkeit des/der steuernden Pins ab. Üblicherweise handelt es sich dabei um Boundary Scan- oder GPIO-gesteuerte Zugriffe, die aufgrund der seriellen Schiebevorgänge über die JTAG-Schnittstelle langsam ablaufen (z.B. das Blinken einer LED mit Bestätigung durch den Bediener).

At-Speed

Signalwechsel finden unterhalb der Funktionsgeschwindigkeit des/der steuernden Pins statt, z.B. bei der Beschleunigung des RAM-Verbindungstests oder der beschleunigten Flashprogrammierung.

Nominal-Speed

Signalwechsel finden mit der Funktionsgeschwindigkeit des/der steuernden Pins statt, z.B. bei der Boot-Flashprogrammierung mit einem eingebetteten FPGA-Instrument.

Programmiergeschwindigkeit

Die Programmiergeschwindigkeit richtet sich nach der Menge der zu übertragenden Daten und ist von mehreren Faktoren abhängig. Ohne Kenntnis über die Applikation sind genaue Aussagen deshalb in der Regel nicht möglich. Angaben zur Geschwindigkeit sind immer subjektiv und vom Einsatz abhängig.

Mittlere bis hohe Programmiergeschwindigkeit 

Im Level Professional mit Boundary Scan plus werden höhere Programmiergeschwindigkeiten im Bereich von kBytes/s bis MBytes/s erreicht. 

Anwendungen aus dem Hause GÖPEL electronic

Mit den folgenden kombinierbaren Technologien findet das Professional-Level Anwendung

  • JTAG-basierte Tests

    Das standardisierte Boundary Scan-Verfahren nach IEEE 1149.1  spricht komplexe Bausteine wie FPGAs, Prozessoren, Controller und CPLDs einfach an. Detaillierte Hardwarekenntnisse sind nicht notwendig.

    » Erfahren Sie mehr zu Boundary Scan

  • FPGA-basierte Tests

    Mit dem Verfahren ChipVORX wird die FPGA-Logik in den Test eingebunden. Mithilfe universeller FPGA-Modelle greifen Sie ohne weitere Anpassungen auf standardisierte Funktionalitäten zu. Dadurch lassen sich klassische Boundary Scan Tests und Programmierungen stark beschleunigen aber auch untypische Tests, wie Frequenzmessungen realisieren.

    » Erfahren Sie mehr zu ChipVORX

  • µProzessor-basierte Tests

    Ein prozessor-spezifisches Modell bringt den IC in den Debug-Modus. Danach werden interne Funktionalitäten (Register, Speicherbereiche, komplexe Controller angesprochen, um analoge Messungen, At-Speed-Flashprogrammierungen oder auch At-Speed-RAM-Tests auszuführen. Dazu können sowohl der JTAG-Port als auch andere Debug-Interfaces verwendet werden.

    » Erfahren Sie mehr zu VarioTAP

Als Basis aller Tests und Programmierungen ist die Hardwarearchitektur SCANFLEX II zur Ansteuerung aller Prüflinge bestens geeignet. 

» Erfahren Sie mehr zu SCANFLEX II

Für Einsteiger ist der kostengünstige Controller SCANBOOSTER II zu empfehlen. Er eignet sich bestens für Standardapplikationen mit geringeren Performanceanforderungen.

» Erfahren Sie mehr zu SCANBOOSTER II

 

Weitere interessante Produkte der GÖPEL electronic

BARCUDA VP230

BARCUDA - die Komplettlösung für Test & Programmierung elektronischer Baugruppen. Bis zu 32 Baugruppen parallel bearbeiten. Mit BARCUDA VP230 prüfen und programmieren Sie Baugruppen mit oder ohne JTAG/Boundary Scan – ganz ohne aufwendige Konfiguration eines speziellen hauseigenen Testsystems.

» BARCUDA VP230