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Funktionstest mit Embedded JTAG Solutions

Kombination von Embedded JTAG Solutions mit Funktionstest

Der Funktionstest prüft die Funktionsanforderungen einer Baugruppe und hat sich als ein zuverlässiges Instrument zur Qualitätssicherung etabliert.  Jedoch führen die immer komplexeren Baugruppen zu hohem Aufwand bei der Prüfprogrammerstellung.

Die Kontrolle sämtlicher Funktionen eines hochkomplexen Prüflings ist mit dem Funktionstest nur schwer realisierbar, und steht oft in keinem angemessenen wirtschaftlichen Verhältnis.

Eine Kombination von Funktionstest und Embedded JTAG Solutions hat den Vorteil, dass Embedded JTAG Solutions nicht die Funktion des einzelnen Schaltkreises überprüft, sondern dessen Pins zum Treiben und Messen auf den Leiterbahnen benutzt. Somit gestaltet sich der Test einer Schnittstelle nach außen als äußerst einfach. Die Überprüfung von Funktionen, die im „Normalbetrieb“ der Baugruppe eher selten erreicht werden, lassen sich somit einfach testen. Des Weiteren erreicht man mit Embedded JTAG Solutions eine Diagnose auf Pin-Ebene, was für eine eventuelle Reparatur der Baugruppe nützlich sein kann.

Integrationen in Funktionstester sind kundenspezifisch

Integrationen in Funktionstester sind zumeist sehr kundenspezifisch und können in verschiedenen Varianten implementiert werden. Die angegebenen Lösungen stellen einen kleinen Ausschnitt aus bereits realisierten Projekten dar.

Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
+49 3641 6896 701 Fon

Vorteile der Kombination mit Funktionstest

Erhöhung der Testtiefe

Fehlerdiagnose auf Pin-Ebene

einfache Testprogrammerstellung

Programmierung der Baugruppe

Ansteuerung von Funktionen mit den Technologien der Embedded JTAG Solutions

JTAG/Boundary Scan Integration in Funktionstester

Zusätzliche Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene

Speziell konzipierte Integrationspakete in verschiedenen Leistungsklassen enthalten eine auf das ATE (Automatic Test Equipment) abgestimmte Hardware- und Softwarekonfiguration. Die Funktionen der Softwareplattform SYSTEM CASCON sind in die ATE-Software des Funktionstests integriert. Ein gemeinsamer Fehlerreport vervollständigt die Integrationslösung.

Mit dieser Kombination der Prüftechnologien verfügt der Anwender über eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus. Im Gegensatz zu einzelnen Systemen bietet die Integration mit JTAG/Boundary Scan deutliche Vorteile in Testabdeckung, Diagnosetiefe und Prozessoptimierung.

Integrieren Sie Embedded JTAG Solutions in Ihr System

Systemintegration in Funktionstester von 6TL

Variante 1 mit SCANFLEX II Controller

  • SFX II CUBE Controller
  • Adapterkarte mit VPC-Schnittstelle (Virginia Panel Corp.)
  • galvanische Trennung aller GÖPEL-Signale bei Inaktivität 
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • 6 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM

Variante 2 auf Basis von PCI Express

  • SCANFLEX Controller auf PCIe-Basis
  • Transceiverkarte mit VPC-Schnittstelle
  • 16 TAP-Anschlüsse für JTAG, SWD, SBW, PIC1x oder BDM

Beide Varianten lassen sich beliebig mit Hardware auf VPC-Basis erweitern. Mögliche Zusatzoptionen sind:

  • Karte für Powermanagement auf 16 UUTs
  • Erweiterung mit 128 MPP Kanälen
  • Testpattern-Karte mit 128 I/O Kanälen
  • analoge Messkarte mit 128 Kanälen

 

 

Systemintegration in Funktionstester von Eiger Design

Variante 1 mit SCANBOOSTER

  • SCANBOOSTER Controller

  • 2 single ended TAPs für JTAG

Variante 2 mit SCANFLEX II Controller

  • SFX II CUBE Controller
  • bis zu 8 TAP-Anschlüsse
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM

Weitere Informationen:

SCANBOOSTER

SCANFLEX II CUBE

Systemintegration in Funktionstester von LXinstruments

  • SFX II CUBE Controller
  • Adapterkarte mit VPC-Schnittstelle (Virginia Panel Corp.)
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • 6 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • galvanische Trennung aller UUT GNDs beim Nutzentest
  • kundenspezifischer Ausbau mit verschiedenen Varianten möglich

Weitere Informationen:

SCANFLEX II CUBE

SCANFLEX TAP Interface Cards

Systemintegration in Funktionstester von National Instruments

  • SCANFLEX Controller/Transceiver auf PXI-Basis
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • 4 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • mögliche PXI-Erweiterung mit 192 I/O-Kanälen pro Slot
  • Einbindung in Teststand, LabView und CVI/Labwindows

Weitere Informationen:

SCANFLEX Controller SFX-PXI 1149

SCANFLEX TAP Interface Cards

Systemintegration in Funktionstester von Test-OK

Variante 1 mit SCANBOOSTER

  • SCANBOOSTER Controller als Plug-on Modul
  • 2 single ended TAPs für JTAG

Variante 2 mit SCANFLEX II Controller 

  • SFX II CUBE Controller
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM

Weitere Informationen:

SCANBOOSTER

SCANFLEX II CUBE

 

Systemintegration in Funktionstester von Visatronic

Variante 1 mit SCANBOOSTER

  • SCANBOOSTER Controller
  • 2 single ended TAPs für JTAG

Variante 2 mit SCANFLEX II Controller 

  • SFX II CUBE Controller
  • bis zu 8 TAP-Anschlüsse
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM

Weitere Informationen:

SCANBOOSTER

SCANFLEX II CUBE

Applicable technologies for integrations

Embedded JTAG Solutions:
Boundary Scan
Boundary Scan
ChipVORX
IP based software technology
VarioTAP
Processor based emulation technology
Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
+49 3641 6896 701 Fon