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SCANFLEX II - JTAG/Boundary-Scan-Controller für Embedded Tests und Programmierung

SCANFLEX® II CUBE

Hochleistungscontroller SCANFLEX II CUBE

SCANFLEX II CUBE ist die neue Generation modularer JTAG/Boundary-Scan-Controller. Gestützt auf modernsten Multi-Core-Prozessoren und FPGAs eröffnet das System neue Wege zur Unterstützung der Embedded JTAG Solutions. Durch die multifunktionale Architektur des SCANFLEX II CUBE kann der Anwender zahlreiche Technologien flexibel und mit hoher Performance auf nur einer Plattform kombinieren:

  • Embedded Board Test: deutlich verbesserte Prüftiefe für komplexe Boards auch ohne Einsatz von Nadeln
  • Embedded Functional Test parallel zu Embedded Programming
  • keine externen Programmer notwendig
Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
03641-6896-732 Fon

SCANFLEX® II BLADE 4 RMx1/2/3

1, 2 oder 3 SFX II BLADE 4 in einem 19″ 1HE Gehäuse

Features

SCANFLEX II CUBE

  • acht unabhängige, echt parallele Test Access Ports (TAP) für bis zu 100 MHz
  • synchronisierte Ausführungen von Embedded Test-, Debug- und Programmier-Operationen
  • programmierbare, multifunktionale 64 Kanal I/O Mixed-Signaleinheit
  • programmierbare TAP-Protokolle für eine Vielzahl von Prozessor Debug-Interfaces
  • Unterstützung von bis zu 31 parallel angesteuerten SCANFLEX I/O-Modulen
  • Ansteuerung über USB 3.0 oder Gbit LAN

Features

SCANFLEX II BLADE 4 RMx1/2/3

die industrielle Version des SCANFLEX II CUBE in einem 19″ 1HE Gehäuse mit 1, 2 oder 3 Einheiten

  • vier unabhängige, echt parallele Test Access Ports (TAP) für bis zu 100 MHz
  • Unterstützung von bis zu 30 parallel angesteuerten SCANFLEX I/O-Modulen
  • jeder einzelne Controller ist unabhängig, mit separaten USB/LAN und Power-Anschluss
Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
03641-6896-732 Fon