SCANFLEX II - JTAG/Boundary-Scan-Controller für Embedded Tests und Programmierung

SCANFLEX® II CUBE

SCANFLEX II CUBE ist die neue Generation modularer JTAG/Boundary-Scan-Controller. Gestützt auf modernsten Multi-Core-Prozessoren und FPGAs eröffnet das System neue Wege zur Unterstützung der Embedded JTAG Solutions. Durch die multifunktionale Architektur des SCANFLEX II CUBE kann der Anwender zahlreiche Technologien flexibel und mit hoher Performance auf nur einer Plattform kombinieren:

  • Embedded Board Test: deutlich verbesserte Prüftiefe für komplexe Boards auch ohne Einsatz von Nadeln
  • Embedded Functional Test parallel zu Embedded Programming
  • keine externen Programmer notwendig

Features

SCANFLEX II CUBE

  • acht unabhängige, echt parallele Test Access Ports (TAP) für bis zu 100 MHz
  • synchronisierte Ausführungen von Embedded Test-, Debug- und Programmier-Operationen
  • programmierbare, multifunktionale 64 Kanal I/O Mixed-Signaleinheit
  • programmierbare TAP-Protokolle für eine Vielzahl von Prozessor Debug-Interfaces
  • Unterstützung von bis zu 31 parallel angesteuerten SCANFLEX I/O-Modulen
  • Ansteuerung über USB 3.0 oder Gbit LAN

SCANFLEX® II BLADE 4 RMx1/2/3

1, 2 oder 3 SFX II BLADE 4 in einem 19″ 1HE Gehäuse

die industrielle Version des SCANFLEX II CUBE in einem 19″ 1HE Gehäuse mit 1, 2 oder 3 Einheiten

  • vier unabhängige, echt parallele Test Access Ports (TAP) für bis zu 100 MHz
  • Unterstützung von bis zu 30 parallel angesteuerten SCANFLEX I/O-Modulen
  • jeder einzelne Controller ist unabhängig, mit separaten USB/LAN und Power-Anschluss

SCANFLEX® II BLADE 8 RMxX-A/B/C

Zweimal acht TAPs (Test Access Ports) zur Ausführung einer Vielzahl unterschiedlicher Testprojekte simultan

  • einheitliche Steuerplattform mit 1 x 8 oder 2 x 8 unabhängigen, echt parallelen Test Access Ports (TAP) für bis zu 100 MHz
  • 1 bzw. 2 programmierbare, multifunktionale 64 Kanal I/O Mixed-Signal-Einheiten
  • Unterstützung von bis zu 30 bzw. 60 SFX I/O-Modulen
  • USB 3.0 und Gbit LAN Steuerinterfaces

Erweiterungen zum SCANFLEX II Controller

Funktionen von Schnittstellen überprüfen

Mit dem SFX II ITM (Interface Tester Master) Eigenschaften unterschiedlichster Schnittstellen wie RS232, I2C und SPI oder komplexe Interfaces, wie USB, LAN und Media-Verbindungen systematisch testen. Auch der simultane Schnittstellentest an mehreren Prüflingen wird unterstützt.

» Erfahren Sie mehr zum Funktionstest von Schnittstellen

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