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Funktionstest mit Embedded JTAG Solutions
Kombination von Embedded JTAG Solutions mit Funktionstest
Der Funktionstest prüft die Funktionsanforderungen einer Baugruppe und hat sich als ein zuverlässiges Instrument zur Qualitätssicherung etabliert. Jedoch führen die immer komplexeren Baugruppen zu hohem Aufwand bei der Prüfprogrammerstellung.
Die Kontrolle sämtlicher Funktionen eines hochkomplexen Prüflings ist mit dem Funktionstest nur schwer realisierbar, und steht oft in keinem angemessenen wirtschaftlichen Verhältnis.
Eine Kombination von Funktionstest und Embedded JTAG Solutions hat den Vorteil, dass Embedded JTAG Solutions nicht die Funktion des einzelnen Schaltkreises überprüft, sondern dessen Pins zum Treiben und Messen auf den Leiterbahnen benutzt. Somit gestaltet sich der Test einer Schnittstelle nach außen als äußerst einfach. Die Überprüfung von Funktionen, die im „Normalbetrieb“ der Baugruppe eher selten erreicht werden, lassen sich somit einfach testen. Des Weiteren erreicht man mit Embedded JTAG Solutions eine Diagnose auf Pin-Ebene, was für eine eventuelle Reparatur der Baugruppe nützlich sein kann.
Integrationen in Funktionstester sind kundenspezifisch
Integrationen in Funktionstester sind zumeist sehr kundenspezifisch und können in verschiedenen Varianten implementiert werden. Die angegebenen Lösungen stellen einen kleinen Ausschnitt aus bereits realisierten Projekten dar.
Vorteile der Kombination mit Funktionstest
Erhöhung der Testtiefe
Fehlerdiagnose auf Pin-Ebene
einfache Testprogrammerstellung
Programmierung der Baugruppe
Ansteuerung von Funktionen mit den Technologien der Embedded JTAG Solutions
Zusätzliche Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene
Speziell konzipierte Integrationspakete in verschiedenen Leistungsklassen enthalten eine auf das ATE (Automatic Test Equipment) abgestimmte Hardware- und Softwarekonfiguration. Die Funktionen der Softwareplattform SYSTEM CASCON sind in die ATE-Software des Funktionstests integriert. Ein gemeinsamer Fehlerreport vervollständigt die Integrationslösung.
Mit dieser Kombination der Prüftechnologien verfügt der Anwender über eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus. Im Gegensatz zu einzelnen Systemen bietet die Integration mit JTAG/Boundary Scan deutliche Vorteile in Testabdeckung, Diagnosetiefe und Prozessoptimierung.
Integrieren Sie Embedded JTAG Solutions in Ihr System
Systemintegration in Funktionstester von 6TL
Variante 1 mit SCANFLEX II Controller
- SFX II CUBE Controller
- Adapterkarte mit VPC-Schnittstelle (Virginia Panel Corp.)
- galvanische Trennung aller GÖPEL-Signale bei Inaktivität
- differentielle Signalübertragung in den Adapter
- 6 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
Variante 2 auf Basis von PCI Express
- SCANFLEX Controller auf PCIe-Basis
- Transceiverkarte mit VPC-Schnittstelle
- 16 TAP-Anschlüsse für JTAG, SWD, SBW, PIC1x oder BDM
Beide Varianten lassen sich beliebig mit Hardware auf VPC-Basis erweitern. Mögliche Zusatzoptionen sind:
- Karte für Powermanagement auf 16 UUTs
- Erweiterung mit 128 MPP Kanälen
- Testpattern-Karte mit 128 I/O Kanälen
- analoge Messkarte mit 128 Kanälen
Weitere Informationen: 
SFX/VPC-AMC128(H/L)Anwendung der GÖPEL electronic-Technologien für Integrationen
Embedded JTAG Solutions:
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