Embedded Functional Test (Smart FCT)

Smarter Funktionstest von Baugruppen mit Pin-genauer Fehlerdiagnose ohne Firmware

Heutige Teststrategien erfordern mehr als das einfache Prüfen von Signalverbindungen. Der Test von elektronischen Baugruppen wird zunehmend komplexer. Speziell die Diagnose des gefundenen Fehlers stellt uns vor immense Herausforderungen. Die Erstellung der eigenen Firmware für einen klassischen Funktionstest von Leiterplatten ist zudem zeitaufwendig und kompliziert.

Dabei findet funktionales Testen moderner Elektronik mithilfe der Intelligenz bestückter Bausteine auf spannungsversorgten Baugruppen statt. Mit den Instrumenten und Lösungen von GÖPEL electronic sparen Sie Zeit und sichern die Qualität Ihrer Produkte. 

Neben der einwandfreien Verbindung müssen vor allem auch Board- und Bauteilfunktion überprüft werden. Diese Anforderungen gruppieren wir unter dem Begriff Embedded Functional Test.

Der smarte Funktionstest (Smart FCT) hilft dabei effektiv eine Baugruppe direkt nach der Produktion standardisiert zu testen und zu programmieren. Somit werden Fehler sehr früh in der Produktion aufgedeckt und Pin-genau identifiziert. Im Idealfall auch gleich repariert. 

Smart FCT ermöglicht die Einbindung funktionaler Tests wie z.B. 

  • RAM-Verbindungstest
  • Zugriff auf I²C und SPI-Bausteine
  • Messen und Auswerten von analogen Prozessoreingängen
  • dynamische Speichertests
  • Test von Highspeed-Schnittstellen wie z.B. Gigabit Ethernet

Programmierte Testfunktionen, sogenannte Test-IPs (Intellectual Property), kommen für den Test in FPGAs oder Prozessoren zur Anwendung. Typischerweise werden solche Tests in Kombination zu bestehenden strukturellen Tests (z.B. Boundary Scan (IEEE 1149.1)) mithilfe dieser Art von Software eingesetzt.

Im Gegensatz zum strukturellen kann der funktionale Test auch Fehler im dynamischen Bereich lokalisieren, z.B. fehlende oder falsche Terminierungswiderstände am RAM-Bausteinen. Und im Gegensatz zum klassischen Funktionstest wird keine Board-spezifische Firmware benötigt. 

Um die absolute Fehlerfreiheit sicherzustellen, wird der klassische Funktionstest nur noch ergänzend als End-Of-Line Test kurz vor der Auslieferung ausgeführt. Damit ist dieser stark reduziert auf die wesentlichen Elemente und wird meist mit der Standardfirmware ausgeführt. Der Smart FCT kommt typischerweise bei intelligenten Platinen wie z.B. Steuer Elektronik im Bereich bis 24 V zum Einsatz.

Die Technologien des smarten Funktionstests (kombinierbar nach Bedarf)

Beispiele für Applikationen mit Embedded Functional Test

Abhängig von der Ziel-Applikation steuert der Embedded Functional Test entweder die JTAG-Schnittstelle mit

TCK (Test ClocK),
TMS (Test Mode Select),
TDI (Test Data Input),
TDO (Test Data Output),
TRST (Test ReSeT)

oder eine andere Debug-Schnittstelle

 

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