嵌入式功能测试

利用嵌入式功能测试实现的本机组件智能对现代电子产品进行功能测试。测试方案的产生和应用完全发生在一个系统中，该系统由通用控制硬件和通用控制软件组成。

嵌入式功能测试允许集成功能测试，诸如：访问12C和SPI组件、测量与评估模拟处理器输入、动态内存测试和高速接口测试（例如USB3.0）等功能测试。这些测试通常作为现有结构测试（边界扫描、ICT或飞针测试）的扩展被使用。

嵌入式功能测试还可能检测动态范围内的误差，正常情况下这是单纯的统计测试无法实现的。与传统的功能测试相比，该测试不需要特定板固件。

Abhängig von der Ziel-Applikation steuert der Embedded Functional Test entweder die JTAG-Schnittstelle mit

TCK (Test ClocK),
TMS (Test Mode Select),
TDI (Test Data Input),
TDO (Test Data Output),
TRST (Test ReSeT)

oder eine andere Debug-Schnittstelle.

基于JTAG的测试访问（边界扫描）
该标准化方案，简化访问FPGA、处理器、控制器和CPLD等复杂器件，不需要详细的硬件知识。
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基于FPGA的测试（ChipVORX）
该方案将FPGA逻辑集成到测试中。使用 ChipVORX甚至可以简单高效地解决复杂的测试应用问题。通过通用FPGA模式（无需单独调整）可实现对内部千兆链路和其他功能（频率测量、闪存存取和RAM测试）的访问。
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基于处理器的测试（VarioTAP）
处理器特有模式允许处理器进入调试模式。使用VarioTAP这一独特功能进行模拟寄存器、闪存存取和实时RAM测试。支持JTAG端口和其他调试接口。
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配备通用固件（JEDOS）的基于处理器的测试
使用JEDOS（针对测试和编程应用进行优化）可以实现具有图形用户界面的复杂功能测试。这些测试为彻底的内存测试、高效的闪存访问或接口测试（以太网、USB等）。测试可以在最短合理时间内实现，且不需要特殊的硬件知识。
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四种可组合科技构成嵌入式功能测试的核心