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嵌入式JTAG解决方案

使用JTAG接口对嵌入式系统进行测试和编程——其中的工作原理是什么?

测试方面的问题与晶体管本身一样古老。现代电子器件的复杂性越来越高增加,而访问的可能性却越来越小。经常使用的测试方法是在线测试(ICT)和飞针测试(FPT)等,但是,如果用于球栅阵列(BGA)、芯片级封装(CSP)以及最小设计(例如01005)时,则达到了各自的极限。问题的症结在于,现代组件不仅只是缺乏使用测针接触所有信号的空间。由于对信号质量会造成负面影响,使用常规方法进行测试变得越来越艰难。在开发新组件时,这已经给开发人员带来了极大的挑战。

边界扫描(IEEE 1149.1标准)

由于测试访问不断减少,测试仪的引脚型电子器件越来越多地转移到电路中。因此,开发出一种设计集成的引脚电子器件,通过JTAG测试总线(联合测试行动小组)对其进行控制。这就是IEEE 1149.1标准的边界扫描方法。

其特别之处在于,寄存器体系架构的开放式可扩展性,以及JTAG接口及其传输协议的多功能性。这些功能使得JTAG/边界扫描成为测试、调试、编程和仿真的非侵入式新方法和标准的技术基础:嵌入式JTAG解决方案。 

嵌入式JTAG解决方案的要素

  • 嵌入式电路板测试
    嵌入式电路板测试的作用是验证功能电路板的连接。因此,在最简便的情况下,使用边界扫描、微控制器和FPGA资源,查找短路、未焊接的引脚或负载电阻。
  • 嵌入式编程
    除了验证无缺陷连接以及对DUT进行功能测试之外,各种数据的编程也是一项重要挑战。最重要的是,不断增长的数据量以及编程速度方面的要求不断提高,均构成了主要障碍。采用嵌入式JTAG解决方案时,测试系统可以最优化地适应您的特定要求。
  • 嵌入式功能测试
    当今的测试策略需要的不仅仅只是简单测试电路板连接。除了正确可靠的接触之外,还必须测试电路板和组件的功能。这正是采用嵌入式功能测试之处。

什么是嵌入式JTAG解决方案?

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