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使用JTAG接口对嵌入式系统进行测试和编程——其中的工作原理是什么？
测试方面的问题与晶体管本身一样古老。现代电子器件的复杂性越来越高增加，而访问的可能性却越来越小。经常使用的测试方法是在线测试（ICT）和飞针测试（FPT）等，但是，如果用于球栅阵列（BGA）、芯片级封装（CSP）以及最小设计（例如01005）时，则达到了各自的极限。问题的症结在于，现代组件不仅只是缺乏使用测针接触所有信号的空间。由于对信号质量会造成负面影响，使用常规方法进行测试变得越来越艰难。在开发新组件时，这已经给开发人员带来了极大的挑战。
边界扫描（IEEE 1149.1标准）
由于测试访问不断减少，测试仪的引脚型电子器件越来越多地转移到电路中。因此，开发出一种设计集成的引脚电子器件，通过JTAG测试总线（联合测试行动小组）对其进行控制。这就是IEEE 1149.1标准的边界扫描方法。
其特别之处在于，寄存器体系架构的开放式可扩展性，以及JTAG接口及其传输协议的多功能性。这些功能使得JTAG/边界扫描成为测试、调试、编程和仿真的非侵入式新方法和标准的技术基础：嵌入式JTAG解决方案。
什么是嵌入式JTAG解决方案？
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