嵌入式板测试

嵌入式板测试是一种使用内置电路的现代测试技术。各种技术的应用有一共同点：测试方案的产生和应用均发生在同一系统中。测试系统由独特的模块化控制硬件和软件组成。

嵌入式板测试允许对管脚和网络进行数字和静态测试，还可以集成功能测试，包括访问12C和SPI器件、测量和模拟处理器输入、动态存储器测试和高速接口测试（例如USB 3.0）。

短路、电阻器缺失、未焊接管脚和BGA球等典型产品故障，以及高速数据传输错误均能被快速高效地检测出来。执行时间短，故障诊断准确，可将维修成本降至最低。

Depending on the target application the Embedded Board Test manages either the JTAG interface with

TCK (Test ClocK),
TMS (Test Mode Select),
TDI (Test Data Input),
TDO (Test Data Output),
TRST (Test ReSeT)

or another debug interface.

基于JTAG的测试访问（边界扫描）
该标准化方案，简化访问FPGA、处理器、控制器和CPLD等复杂器件，不需要详细的硬件知识。
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基于FPGA的测试（ChipVORX）
该方案将FPGA逻辑集成到测试中。使用 ChipVORX甚至可以简单高效地解决复杂的测试应用问题。通过通用FPGA模式（无需单独调整）可实现对内部千兆链路和其他功能（频率测量、闪存存取和RAM测试）的访问。
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基于处理器的测试（VarioTAP）
处理器特有模式允许处理器进入调试模式。使用VarioTAP这一独特功能进行模拟寄存器、闪存存取和实时RAM测试。支持JTAG端口和其他调试接口。
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配备通用固件（JEDOS）的基于处理器的测试
使用JEDOS（针对测试和编程应用进行优化）可以实现具有图形用户界面的复杂功能测试。这些测试为彻底的内存测试、高效的闪存访问或接口测试（以太网、USB等）。测试可以在最短合理时间内实现，且不需要特殊的硬件知识。
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