可测性设计

在设计过程中便已开始避免电子设备中的错误。 为了尽早避免制造错误，对于后续测试，必须考虑基于电路的可能性。遵循一定的建议，可以大幅度增加后续测试总成的能力 —— 显著降低成本。

在《可测性设计指南》中，提供了有关实现稳定的嵌入式JTAG解决方案以及最佳测试覆盖率的建议。