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Embedded World 2019: Automotive Test Solutions & Embedded JTAG Solutions

Testinstrumente aus der Cloud // SCANFLEX II // Automotive-Kommunikationscontroller

Die Embedded-Community versammelt sich vom 26. bis 28. Februar im Messezentrum Nürnberg. GÖPEL electronic zeigt die neuesten Lösungen im Bereich der Embedded JTAG Solutions sowie Automotive Test Solutions an Stand 271, Halle 4.

Im Fokus steht ein neuer Weg der Nutzung von FPGAs als integrierte Testzentren. Diese Testinstrumente werden dabei automatisiert aus einer Cloud generiert und in den FPGA geladen. ChipVORX SI (Synthetic Instruments) erlaubt somit einfaches Konfigurieren statt aufwendiges Programmieren. Der Anwender kann mit dieser Technologie leistungsstarke Funktionen wie Real-Time DDR-RAM Tests, Stresstests von LAN Interfaces oder Frequenzmessungen ausführen.

Für Validierung und Prototypentest sowie Programmierung von Embedded-Elektronik wird der leistungsstarke Controller SCANFLEX II gezeigt.  Die Hardware-Plattform nutzt die Logik von Prüflings-Schaltkreisen, um komplexe Boards mit stark reduziertem physikalischem Zugriff zu testen und zu programmieren. Durch ihre multifunktionale Architektur bietet SCANFLEX II Cube zahlreiche Einsatzmöglichkeiten.

Die neueste Generation Multibus-Kommunikationscontroller  mit dem Namen Serie 62 zielt speziell auf Embedded-Elektronik im Automotive-Bereich ab. Die neue Architektur bietet dem Anwender bis zu 18 unabhängige Bus-Interfaces für CAN, CAN-FD, FlexRay, Automotive Ethernet und LIN. Hieraus resultieren zahlreiche Konfigurations- und damit Applikationsmöglichkeiten für eine optimale Anpassung an den Prüfling bzw. an die Prüfaufgabe. Für Infotainment-Tests präsentiert sich der Video Dragon als Frame Generator und Frame Grabber, um Hochgeschwindigkeits-LVDS-Verbindungen zu testen. Das dient der Qualitätssicherung von Kameras und Sensoren sowie Displays im Automobil.

 

Created by Matthias Müller | |   Veranstaltungen
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Automotive Test Solutions und Embedded JTAG Solutions - Live auf der Embedded World 2019