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Anmeldung zur Test Convention connect

das Prüftechnologie-Event im digitalen Gewand

Die Test Convention connect ist eine rein digitale, kostenlose Webkonferenz zu den Themen Baugruppen-Inspektion, Elektronik-Prüftechnologien, Embedded Test und Programmierung. In 90-Minuten-Websessions wird breitgefächertes Expertenwissen zu technologischen Fortschritten, Entwicklungen neuer Systeme und Problemlösungen vermittelt.

Melden Sie sich im folgenden Formular zu einer oder mehreren Sessions an und wählen Sie Ihre Interessengebiete. 

Persönliche Daten
Inspektionslösungen
Vortrag
Von der Bestückkontrolle bis zur Lötstellenprüfung - Smarte und ganzheitliche Inspektionslösungen im THT-Prozess

Workshop
THT-Bestückkontrolle mit dem MultiEyeS plus

Vortrag
Der schnelle Weg zum AOI-Programm - mit Musterbaugruppe oder Digitalem Zwilling?

Workshop
Erstellung von AOI-Prüfprogrammen mit MagicClick

Vortrag
Einsatz und Parametrierung von 3D-Messfunktionen auf SMD- und THT-Baugruppen

Workshop
3D-Messung mit AOI an SMD- und THT-Baugruppen

Vortrag
AXI Systeme zur Erhöhung der Prüfabdeckung - Möglichkeiten und Grenzen

Workshop
AXI Systeme in der Praxis - Hardware und Software

Embedded JTAG Solutions
Vortrag
Systemintegrationen in ICT, FPT und FKT

Workshop
Komplettlösungen für die Produktion - JULIET, BARCUDA und RAPIDO

Vortrag
SYSTEM CASCON 4.8.0 - Übersicht der neuen Features

Workshop
SYSTEM CASCON 4.8.0 - Ein Blick in die Details

Vortrag
JTAG/Boundary Scan Projektentwicklung von Anfang bis Ende

Workshop
Vom Labor in die Produktion - Projektüberführung und Troubleshooting

Vortrag
Die nächste Generation der Prozessor Emulation - JEDOS II

Workshop
Prozessor Emulation - Wege und Möglichkeiten für Test und Programmierung

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