Boundary Scan MeetUp

Die Kundenveranstaltung für Ihre individuellen Gesprächsthemen

In unserem Boundary Scan MeetUp geht es u.a. um die Erhöhung der Testabdeckung oder die Beschleunigung von Testabläufen und Programmierungen mit den Testwerkzeugen unserer Embedded JTAG Solutions. Als Kunde der GÖPEL electronic lernen Sie an diesem Event viele Details und Tricks für die bestmögliche Bedienung von SYSTEM CASCON und Co. kennen.

Füllen Sie das folgende Formlar aus und sichern Sie sich damit einen Platz in unseren spannenden Workshops!

Meine persönlichen Daten
Angaben zum Seminar
Das Boundary Scan MeetUp ist kostenfrei und findet am 19. und 20. April in Jena in den Geschäftsräumen der GÖPEL electronic statt:
Göschwitzer Straße 58/60, 07745 Jena
Workshops
Bitte wählen Sie maximal 8 Workshops, die Sie interessieren.
Alle Infos zu unseren Workshops zum Aufklappen:
  • Effiziente SYSTEM CASCON-Projekthandhabung

    In diesem Workshop lernen Sie, wie Sie Test- und Programmierprojekte effizient mit SYSTEM CASCON anlegen und optimieren. Unter anderem wird erklärt,

    • worauf Sie beim Datenimport achten müssen,
    • wie Sie Projekte bei kleineren Änderungen aktualisieren,
    • wie Sie SYSTEM CASCON-Projekte versionieren können,
    • wie Sie Projekte aus dem Labor in die Fertigung übertragen und worauf Sie hierbei besonders achten müssen.
  • Testprogramm-Debugging

    In diesem Workshop erfahren Sie, wie Sie SYSTEM CASCON-Fehlermeldungen deuten und bei Bedarf erweitern können. Unter anderem wird erklärt,

    • wie Fehlermeldungen aufgebaut sind,
    • an welchen Stellen Sie mehr Informationen ausgeben können,
    • wie Sie Schiebekettenfehlern auf den Grund gehen,
    • wie Sie Fertigungsfehler finden,
    • mit welchen Hilfsmitteln Sie Problemstellen einkreisen können.
  • Testabdeckung

    In diesem Workshop lernen Sie, wie Sie die aktuelle Testabdeckung eines Projektes ermitteln und bei Bedarf optimieren können. Unter anderem wird erklärt,

    • über welche Standard-Boardmittel heutige Embedded JTAG Solutions-Hardware verfügt,
    • welche Fehler durch SYSTEM CASCON erkannt werden können,
    • wie Sie die statische und auch dynamische Testabdeckung ermitteln und dokumentieren,
    • wie Sie den TCA sinnvoll für Ihre Anforderungen einstellen,
    • wie Sie die Testabdeckung durch Einbindung externer I/Os verbessern können.
  • SYSTEM CASCON in Kombination mit Automatic Test Equipment (ATE)

    In diesem Workshop erfahren Sie, wie SYSTEM CASCON mit anderen ATE interagiert. Unter anderem wird erklärt,

    • welche ATE-Systeme mit SYSTEM CASCON kombiniert werden können,
    • wie die Kommunikation und der Datenaustausch erfolgt,
    • wie Sie bestehende Projekte mit interaktiven Tests erweitern,
    • wie Sie die Testabdeckung zur Prüfoptimierung nutzen können.
  • Ist RAM-Test gleich RAM-Test?

    In diesem Workshop erfahren Sie Details zum Zugriff auf diverse Speichertypen. Unter anderem wird erklärt,

    • welche RAM-Typen auf Baugruppen weit verbreitet im Einsatz sind,
    • welche RAM-Testtypen es gibt und deren Einsatzgebiete, Unterschiede, Vor- und Nachteile,
    • ob und wann es sich generell lohnt, auf alternative Technologien zu Boundary Scan zu setzen.
  • Test und Programmierung von (Speicher-)ICs

    In diesem Workshop erfahren Sie Details zum Zugriff auf diverse Speichertypen. Unter anderem wird erklärt,

    • welche SPI-Boot Flash Applikationen auftreten können und wie Sie damit umgehen,
    • welche Hardware-Ressourcen (GPIO, PIO, MPP…) Sie einsetzen können,
    • wie Sie generische Zugriffe auf I2C und ähnliche Bausteine (EEPROM, PHY, Sensoren…) realisieren.
  • CASLAN

    In diesem Workshop erfahren Sie aktuelle Möglichkeiten im Umgang mit der Embedded JTAG Solutions-Sprache CASLAN. Unter anderem wird erklärt,

    • wie die generelle Strukturierung von CASLAN-Programmen aussieht,
    • welche Neuerungen in der jüngeren Vergangenheit hinzugekommen sind,
    • wie Sie Windows-DLL Dateien einbinden können, um vorhandene Funktionen zu verwenden,
    • wie Sie oft benötigte Testprogrammanteile mit INCLUDE Dateien realisieren,
    • wie Sie ein Gerät einbinden, um vollautomatische LED-Tests zu realisieren.
  • Interface Tests

    In diesem Workshop lernen Sie den Umgang mit komplexen Schaltungsblöcken auf Ihrem Prüfling, z.B. analoge Bereiche und Interfaces anhand einiger konkreter Applikationsbeispiele. Unter anderem wird erklärt,

    • wie Sie komplexe Schaltungsbereiche bei Bedarf zusammenfassen,
    • wie Sie mit I2C Clock Stretching umgehen,
    • was Sie bei CAN-Interfacetests beachten müssen.
  • Der Tester-On-Chip

    In diesem Workshop lernen Sie den Umgang mit den MPP Kanälen und CION-LX I/O Modulen. Unter anderem wird erklärt,

    • welche Tests Sie mit dem CION-LX Baustein realisieren können,
    • wie Sie CION-LX Tests einfach in der SYSTEM CASCON-GUI zusammenstellen.

     

  • IP-Technologien

    In diesem Workshop lernen Sie Herausforderungen im Umgang mit erweiterten Test- und Programmiertechnologien zu meistern. Unter anderem wird erklärt,

    • wie Sie die relevanten Informationen zu Ihrem µP finden,
    • warum einige µP initialisiert werden müssen und wie das genau passiert,
    • wie Sie den Boundary-Scan-Verbindungstest durch Nutzung von µP-GPIO Ressourcen erweitern,
    • wie Sie anhand verschiedener Ansätze den Test von High-Speed-Schnittstellen umsetzen können,
    • welche Möglichkeiten Sie für die Programmierung Ihres FPGA Boot-Flash haben.
  • SYSTEM CASCON News

    In diesem Workshop erhalten Sie einen kurzen Einblick in die stattfindende SYSTEM CASCON-Entwicklung. Unter anderem wird gezeigt,

    • welche Features Sie im kommenden SYSTEM CASCON-Release erwarten können,
    • welche Features sich daran anschließen.
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Claudia Mock - Eventmanagement
女士 Claudia Mock