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Multi-Panel-Programmierung im Takaya Flying-Prober durch Integrationslösung

Programmierung der Prüflingsbaugruppen direkt über die Nadeln des Flying Probe Systems

Die Embedded JTAG Solutions-Systemintegration von GÖPEL electronic für die Flying Probe Systeme von Takaya ist um eine zusätzliche Variante erweitert worden. Damit kann eine Programmierung der Prüflingsbaugruppen direkt über die Nadeln des Flying Probe Systems erfolgen. Zudem unterstützt die Lösung eine sequentielle Abarbeitung im Multipanel. Dadurch werden Handlingschritte im Produktionsprozess eingespart.

Ein speziell konzipiertes Embedded JTAG Solutions Integrationspaket von GÖPEL electronic dient zur  Ausführung von Programmieralgorithmen für Bausteine wie Flash, FPGA, CPLD, MCU oder anderer zu programmierender Komponenten. Das Besondere bei diesem Integrationspaket ist die Anbindung an die Flying Probes der Takaya APT. Das heißt, die Programmierung erfolgt direkt über die platzierten Nadeln (Probes), eine manuelle Kontaktierung entfällt. Somit lässt sich die Baustein-Programmierung in ein vollautomatisiertes Inline-System mit Be- und Entlader einbinden. Durch die reibungslose Interaktion der Takaya APT und GÖPEL electronic Software können elektronische Baugruppen erst MDA getestet, dann programmiert und zuletzt funktionsgetestet werden. Auf diese Weise werden Handlingschritte eingespart. Komponententest, Programmierung und Funktionstest erfolgen nun auf einem System. Zudem ist die Lösung überaus flexibel, was Softwareänderungen und das Programmieren dynamischer Daten anbelangt.

Created by Matthias Müller | |   嵌入式JTAG解决方案
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Flying Probe Tester APT1400F von Takaya mit Embedded JTAG Solutions Hardware SCANFLEX II CUBE und Software SYSTEM CASCON von GÖPEL electronic