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Embedded JTAG Solutions kombiniert mit Seica Compact ICT

Kombinierte Prüfverfahren für größere Testtiefe und optimierte Prüfkosten

Die Embedded JTAG Solutions mit dem JTAG/Boundary Scan Test von GÖPEL electronic können nun auch in die Seica Compact ICTs (In-Circuit-Test) integriert werden. Mit der Kombination der Prüfverfahren erhält der Anwender eine noch größere Testtiefe und optimiert Prüfkosten in der Produktion von elektronischen Baugruppen.

Mit der Integration wird eine optimale Ergänzung zwischen der GÖPEL electronic Software SYSTEM CASCON und dem In-Circuit Tester Compact von Seica erreicht. Das notwendige Hardware-Paket enthält mit dem SCANFLEX II CUBE die neueste Generation modularer JTAG/Boundary-Scan-Controller. In der maximalen Ausbaustufe ist noch ein I/O-Modul enthalten, das über  einen vorkonfigurierten Stecker mit dem analogen Subsystem der Seica Compact verbunden wird. Dieser Aufbau kann problemlos auch in bestehende Systeme integriert werden. Die Kombination der Software wird auf verschiedenen Ebenen erreicht. Einerseits können sämtliche im SYSTEM CASCON erstellten Testsequenzen einfach als funktionaler Testschritt in den VIVA-Testplan von Seica eingebunden werden. Die Ergebnisse und Diagnose-Meldungen werden dabei in den Testreport von Seica übernommen. Andererseits ist es möglich, interaktive Tests zu erstellen, in denen die Kanäle des Testers als virtuelle Boundary Scan Zellen genutzt werden. SYSTEM CASCON importiert die von der VIVA-Software exportierten Zugriffspunkte und erstellt daraus zusätzliche Testmuster.

Durch die Integration von SYSTEM CASCON in den Seica Compact ICT profitiert der Anwender nicht nur von den Vorteilen und Fähigkeiten beider Prüfverfahren. Gegenüber den Einzelverfahren kann er mit Hilfe des interaktiven Tests, bei dem SYSTEM CASCON die Kanäle des Testers aktiv in die Testgenerierung und -ausführung einbezieht, die gesamte Testabdeckung deutlich erhöhen. Die komplette Lösung wurde auf ein komfortables Zusammenspiel beider Systeme optimiert. So wurde bei der Auswahl der Hardwarekomponenten auf kompatible und empfohlene Schnittstellen geachtet. Durch die Verknüpfung der Software steuert der Anwender den gesamten Prüfablauf über einen einzigen Testplan in der VIVA-Software. Die SYSTEM CASCON-Software bleibt auf der Teststation komplett im Hintergrund.

Created by Matthias Müller | |   嵌入式JTAG解决方案
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SCANFLEX II CUBE Controller mit Software SYSTEM CASCOPN zur Integration in SEICA Compact ICT