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Automatischer Verbindungstest von Nicht-Boundary-Scan-fähigen Mikrocontrollern

Erhebliche Verbesserung der Prüfabdeckung durch emulierte Boundary-Scan-Struktur

In der Test- und Programmiersoftware SYSTEM CASCON integriert GÖPEL electronic ein neues Feature unter der Bezeichnung „Emulation Based Interconnection Test“ (EmuBIT). Dadurch werden Module des Microcontrollers nutzbar gemacht, was den Baustein zu einem Testinstrument umfunktioniert. Durch die Einbindung des eigentlich Nicht-Boundary-Scan-fähigen Mikroprozessors in Verbindungstests kann die Prüfabdeckung auf der Baugruppe erheblich erhöht werden.

EmuBIT emuliert dabei eine Boundary-Scan-Struktur in den Microcontroller, so dass viele Pins  – insbesondere die GPIOs Ports (General Purpose In Out ports) - genauso genutzt werden können, wie es mit Boundary-Scan-Zellen möglich wäre. Dadurch kann der Microcontroller automatisch in Verbindungstests zusammen mit anderen Boundary-Scan-Bauteilen eingebunden werden.

Bisher war es nur schwer möglich, die Pins Nicht-Boundary-Scan-fähiger Mikroprozessoren automatisiert im Fertigungsprozess zu testen. Dazu musste speziell angepasste Software entwickelt werden, was mit sehr hohem Zeit- und Ressourcenaufwand verbunden war. Mit der neuen EmuBIT-Technologie fällt dieser zusätzliche Aufwand weg, da die Tests nun vollautomatisiert in der Plattformsoftware SYSTEM CASCON generiert und ausgeführt werden. Es sind keinerlei Kenntnisse über die internen Strukturen des Mikroprozessors/-controllers mehr notwendig, was auch Elektronikfertigern (EMS-Dienstleistern) hilft, Tests im Fertigungsprozess anzubieten und einfach umzusetzen.

Durch den Einsatz standardisierter Testpattern für den Verbindungstest können Fehler Pin-genau lokalisiert werden. Bei früheren funktionalen Testmethoden konnte nicht immer auf die Boarddaten zugegriffen werden, was jedoch für eine optimale Fehlerauswertung unabdingbar ist. Mit der EmuBIT-Technologie können jetzt Fehler sowohl im Schaltplan, als auch im Layout der Baugruppe exakt angezeigt werden.

 

Created by Matthias Müller | |   嵌入式JTAG解决方案
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Emulation Based Interconnection Test EmuBIT
Testabdeckung ohne EmuBIT (oben) und Testabdeckung mit EmuBIT (unten)