飞针测试仪(FPT)和嵌入式JTAG解决方案

集成飞针测试仪(FPT)

飞针测试程序是测试离散模拟组件的灵活解决方案。飞针测试仪具有非常精确的测针(“探针”),特别适合中小批量生产。通过将FPT与嵌入式JTAG解决方案相结合,飞针测试的不足之处及其执行速度可降到最低水平。

这种组合的特别优势在于,能够将探针应用于虚拟边界扫描单元,从而可以使用嵌入式JTAG解决方案来测试先前无法测试的走线。

集成飞针测试仪(FPT)的优势

故障覆盖范围极高,即使是高度紧凑的板卡

由于避免了标本专用的适配器,因此具有高度的灵活性和快速的开发时间

可以在元件焊点上接触,实现“没有测试点的测试”

每种测试程序均为专门应用技术,创建测试程序非常简便

由于可以减少测试步骤,因此整体系统速度加快

板卡和系统级的其他测试选项

经过专门设计的集成套件,具有各种性能等级,其中包含针对ATE(自动测试设备)量身定制的硬件和软件配置。SYSTEM CASCON软件平台的功能集成到用于飞针测试仪的ATE软件中。通用错误报告,进一步完善集成解决方案。

通过这些测试技术组合,在整个产品生命周期中,用户可以从板卡和系统级别的众多附加测试选项中高度受益。与单个系统相比,在测试覆盖范围、诊断深度和过程优化方面,集成具有显著的优势。

第三方ATE合作伙伴

  • 在Acculogic FLS中实现系统集成

    • SFX II CUBE控制器
    • 差分信号传输到接触模块
    • 多达8个TAP接口卡(TIC模块)连接
    • 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM
    • Acculogic Scorpion FLS专用版CASCON GALAXY
    • 用于集成到集成器的通信链接软件(CLS)

    更多信息:

    SCANFLEX II CUBE

  • 我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于Digitaltest MTS505/Condor。

    在Digitaltest Condor中实现系统集成

    • 基于PCIe的SCANFLEX控制器
    • TAP收发器作为插入机架中的插入卡
    • 不活动期间对所有GÖPEL信号进行电隔离 
    • 差分信号传输到飞针区域
    • 6个TAP接口卡(TIC模块)连接
    • 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM
    • JTAG/边界扫描与飞针之间互动式测试
    • Digitaltest Condor专用版CASCON GALAXY
    • 用于集成到CITE的通信链接软件(CLS)

    有关更多信息,请参阅产品宣传页:

    Digitaltest FPT集成手册

    SCANFLEX控制器SFX-PCIe 1149

  • 我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于Polar Instruments GRS550。

    在Polar Instruments GRS中实现系统集成

    带有SCANBOOSTER II的选项1

    • SCANBOOSTER II控制器
    • 2个用于JTAG的单端TAP

    基于SCANFLEX II CUBE的选项3

    • SFX II CUBE控制器
    • 带有SFX-5704测量模块的SFX II CUBE控制器
    • “飞针对齐”和“测试点检测”
    • JTAG/边界扫描与飞针之间互动式测试
    • Polar Instruments专用版CASCON GALAXY
    • 用于集成到主动测试的通信链接软件(CLS)

    有关更多信息,请参阅产品宣传页:

    Polar FPT集成手册

    SCANBOOSTER II

    ⇒ SCANFLEX II CUBE

    SCANFLEX I/O模块SFX-5704

  • 我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于Pilot H4/L4/M4/V8。

    在Seica Pilot中实现系统集成

    • 带有SFX-5704测量模块的SFX II CUBE控制器
    • 多达8个TAP接口卡(TIC模块)连接
    • 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM
    • JTAG/边界扫描与飞针之间互动式测试
    • Seica Pilot专用版CASCON GALAXY
    • 用于集成到VIVA的通信链接软件(CLS)

    有关更多信息,请参阅产品宣传页:

    Seica FPT集成手册

    SCANFLEX II CUBE

    SCANFLEX I/O模块

  • 我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于SPEA 4020/4040/4050/4060/4080。

    在SPEA飞针中实现系统集成

    • SFX II CUBE控制器
    • 多达8个TAP接口卡(TIC模块)连接
    • 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM
    • JTAG/边界扫描与飞针之间互动式测试
    • SPEA飞针专用版CASCON GALAXY
    • 用于集成到Leonardo的通信链接软件(CLS)

    有关更多信息,请参阅产品宣传页:

    SPEA FPT集成手册

    SCANFLEX II CUBE

  • 我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于Takaya APT1400F/1600FD/9411CE/9600CE。

    在Takaya APT中实现系统集成

    • 带有SFX-5704测量模块的SFX II CUBE控制器
    • 多达8个TAP接口卡(TIC模块)连接
    • 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM
    • JTAG/边界扫描与飞针之间互动式测试
    • Takaya APT专用版CASCON GALAXY
    • 用于集成到APT-SW的通信链接软件(CLS)

    有关更多信息,请参阅产品宣传页:

    Takaya FPT集成手册

    SCANFLEX II CUBE

    SCANFLEX I/O模块

适用技术

嵌入式JTAG解决方案:

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Steffen Kamprad - Sales Manager
先生 Steffen Kamprad