飞针测试仪（FPT）和嵌入式JTAG解决方案

飞针测试程序是测试离散模拟组件的灵活解决方案。飞针测试仪具有非常精确的测针（“探针”），特别适合中小批量生产。通过将FPT与嵌入式JTAG解决方案相结合，飞针测试的不足之处及其执行速度可降到最低水平。

这种组合的特别优势在于，能够将探针应用于虚拟边界扫描单元，从而可以使用嵌入式JTAG解决方案来测试先前无法测试的走线。

集成飞针测试仪（FPT）的优势

故障覆盖范围极高，即使是高度紧凑的板卡

由于避免了标本专用的适配器，因此具有高度的灵活性和快速的开发时间

可以在元件焊点上接触，实现“没有测试点的测试”

每种测试程序均为专门应用技术，创建测试程序非常简便

由于可以减少测试步骤，因此整体系统速度加快

经过专门设计的集成套件，具有各种性能等级，其中包含针对ATE（自动测试设备）量身定制的硬件和软件配置。SYSTEM CASCON软件平台的功能集成到用于飞针测试仪的ATE软件中。通用错误报告，进一步完善集成解决方案。

通过这些测试技术组合，在整个产品生命周期中，用户可以从板卡和系统级别的众多附加测试选项中高度受益。与单个系统相比，在测试覆盖范围、诊断深度和过程优化方面，集成具有显著的优势。

在Acculogic FLS中实现系统集成
- SFX II CUBE控制器
- 差分信号传输到接触模块
- 多达8个TAP接口卡（TIC模块）连接
- 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM
- Acculogic Scorpion FLS专用版CASCON GALAXY
- 用于集成到集成器的通信链接软件（CLS）
更多信息：
⇒ SCANFLEX II CUBE
我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于Digitaltest MTS505/Condor。
在Digitaltest Condor中实现系统集成
- 基于PCIe的SCANFLEX控制器
- TAP收发器作为插入机架中的插入卡
- 不活动期间对所有GÖPEL信号进行电隔离
- 差分信号传输到飞针区域
- 6个TAP接口卡（TIC模块）连接
- 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM
- JTAG/边界扫描与飞针之间互动式测试
- Digitaltest Condor专用版CASCON GALAXY
- 用于集成到CITE的通信链接软件（CLS）
有关更多信息，请参阅产品宣传页：
⇒ Digitaltest FPT集成手册
⇒ SCANFLEX控制器SFX-PCIe 1149
我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于Polar Instruments GRS550。
在Polar Instruments GRS中实现系统集成
带有SCANBOOSTER II的选项1
- SCANBOOSTER II控制器
- 2个用于JTAG的单端TAP
基于SCANFLEX II CUBE的选项3
- SFX II CUBE控制器
- 带有SFX-5704测量模块的SFX II CUBE控制器
- “飞针对齐”和“测试点检测”
- JTAG/边界扫描与飞针之间互动式测试
- Polar Instruments专用版CASCON GALAXY
- 用于集成到主动测试的通信链接软件（CLS）
有关更多信息，请参阅产品宣传页：
⇒ Polar FPT集成手册
⇒ SCANBOOSTER II
⇒ SCANFLEX II CUBE
⇒ SCANFLEX I/O模块SFX-5704
我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于Pilot H4/L4/M4/V8。
在Seica Pilot中实现系统集成
- 带有SFX-5704测量模块的SFX II CUBE控制器
- 多达8个TAP接口卡（TIC模块）连接
- 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM
- JTAG/边界扫描与飞针之间互动式测试
- Seica Pilot专用版CASCON GALAXY
- 用于集成到VIVA的通信链接软件（CLS）
有关更多信息，请参阅产品宣传页：
⇒ Seica FPT集成手册
⇒ SCANFLEX II CUBE
⇒ SCANFLEX I/O模块
我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于SPEA 4020/4040/4050/4060/4080。
在SPEA飞针中实现系统集成
- SFX II CUBE控制器
- 多达8个TAP接口卡（TIC模块）连接
- 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM
- JTAG/边界扫描与飞针之间互动式测试
- SPEA飞针专用版CASCON GALAXY
- 用于集成到Leonardo的通信链接软件（CLS）
有关更多信息，请参阅产品宣传页：
⇒ SPEA FPT集成手册
⇒ SCANFLEX II CUBE
我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于Takaya APT1400F/1600FD/9411CE/9600CE。
在Takaya APT中实现系统集成
- 带有SFX-5704测量模块的SFX II CUBE控制器
- 多达8个TAP接口卡（TIC模块）连接
- 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM
- JTAG/边界扫描与飞针之间互动式测试
- Takaya APT专用版CASCON GALAXY
- 用于集成到APT-SW的通信链接软件（CLS）
有关更多信息，请参阅产品宣传页：
⇒ Takaya FPT集成手册
⇒ SCANFLEX II CUBE
⇒ SCANFLEX I/O模块

Um die Testabdeckung zu erhöhen, setzt die Trützschler Group In-Circuit-Tester und Flying-Probe-Tester von SPEA ein und kombiniert diese mit den Boundary-Scan-Integrationspaketen von GÖPEL electronic. Die Einbindung dieses IEEE1149.1 Teststandards ermöglicht tiefgehende Test- und Programmieroptionen auf Chip-, Board- und Systemebene – während des gesamten Produktlebenszyklus‘. Die nahtlose Integration sorgt für ein schnelles Gesamtsystem, das gerade bei kompakten Baugruppen eine hohe Testabdeckung und Kosteneinsparungen durch reduzierten Testpunktbedarf erreicht.

» Fachartikel lesen