在线测试（ICT）与嵌入式板卡测试相结合

在线测试（ICT）是目前应用最广泛的技术，因为其工作原理可以发现所有可电气检测的故障。但是由于元件尺寸越来越小，并且由于窄宽网和多层电路板更加复杂，其功能一直受到访问困难的制约。

嵌入式JTAG解决方案没有访问限制。只要难以进行机械访问、甚至印刷电路板上可能存在为数不多的边界扫描组件，这种组合便非常有利。

您需要帮助吗？

请联系我们!

先生 Steffen Kamprad

requests only in English

+49 3641 6896 714 电话

ejs.sales@goepel.asia

集成到在线测试仪的优势

总体系统极为快速，包含嵌入式JTAG解决方案和在线测试仪

故障覆盖范围极高，也适用于高度紧凑的印刷电路板

节省测试点，降低钉板适配器成本

因为根据其核心能力来应用每种测试技术，测试程序生成简便

经过专门设计的集成套件，具有各种性能等级，其中包含针对ATE（自动测试设备）量身定制的硬件和软件配置。SYSTEM CASCON软件平台的功能集成到ATE软件中，以进行在线测试。通用错误报告，进一步完善集成解决方案。

通过这些测试技术组合，在整个产品生命周期中，用户可以从板卡和系统级别的众多附加测试选项中高度受益。与单个系统相比，在测试覆盖范围、诊断深度和过程优化方面，集成具有显著的优势。

Digitaltest MTS 30/180/300/888中的系统集成
- 基于PCIe的SCANFLEX控制器
- TAP收发器作为用于真空和电缆接口的插入卡
- 不活动期间对所有GÖPEL信号进行电隔离
- 差分信号传输到适配器
- 6个TAP接口卡（TIC模块）连接器
- JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
- JTAG/边界扫描和ICT之间通过混合卡实现交互式测试
- Digitaltest MTS ICT专用版CASCON GALAXY
- 用于集成到CITE的通信链接软件（CLS）
有关更多信息，请参阅手册
⇒ Digitaltest ICT集成手册
⇒ SCANFLEX控制器SFX-PCIe 1149
我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于Keysight HP3070/3070/i3070/i5000。
Keysight 3070中的系统集成
带有实用工具卡的选项1
- Keysight实用工具卡的插件模块
- 2个用于JTAG的单端TAP
基于PCI Express的选项2
- SCANFLEX PCIe控制器
- TAP收发器作为插入卡或性能端口
- 4个用于JTAG的单端TAP
- 不活动期间对所有GÖPEL信号进行电隔离
基于SCANFLEX II CUBE的选项3
- SFX II CUBE控制器作为内部或外部解决方案
- 差分信号传输到适配器
- 最多8个TAP接口卡（TIC模块）连接器
- JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
- Keysight 3070专用版CASCON GALAXY
- 用于从测试计划中进行选择的通信链接软件（CLS）
有关更多信息，请参阅手册
⇒ Keysight ICT集成手册
⇒ SCANFLEX控制器SFX-PCIe 1149
⇒ SCANFLEX II CUBE
Rohde & Schwarz TSVP中的系统集成
- 基于PXI的SCANFLEX控制器/收发器
- 基于PXI的SCANFLEX控制器/收发器
- 差分信号传输到适配器
- 4个TAP接口卡（TIC模块）连接器
- JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
- JTAG/边界扫描与PMB矩阵之间交互式测试
- 采用PSAM/PSU进行模拟测量和激励
- Rohde & Schwarz TSVP专用版CASCON GALAXY
有关更多信息，请参阅手册
⇒ Rohde & Schwarz ICT集成手册
⇒ SCANFLEX控制器SFX-PXI 1149
我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于Seica Compact SL/TK/Multi/Power/XL。
Seica Compact中的系统集成
- SFX II CUBE控制器带有SFX-5704测量模块
- 差分信号传输到适配器
- 最多8个TAP接口卡（TIC模块）连接器
- JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
- JTAG/边界扫描与ICT之间交互式测试
- Seica Compact专用版CASCON GALAXY
- 用于集成到VIVA的通信链接软件（CLS）
有关更多信息，请参阅手册
⇒ Seica ICT集成手册
⇒ SCANFLEX II CUBE
⇒ SCANFLEX I/O模块
我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于SPEA 3030 Compact/Inline/Multimode/Multi Core。
SPEA 3030中的系统集成
- SFX II CUBE控制器
- 差分信号传输到适配器
- 最多8个TAP接口卡（TIC模块）连接器
- JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
- JTAG/边界扫描与ICT之间交互式测试
- SPEA 3030专用版CASCON GALAXY
- 用于集成到Leonardo的通信链接软件（CLS）
有关更多信息，请参阅手册
⇒ SPEA ICT集成手册
⇒ SCANFLEX II CUBE
我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于Teradyne Spectrum和TestStation TSx。
Teradyne Teststation中的系统集成
- 基于PCIe的SCANFLEX控制器
- TAP收发器作为插入卡
- 不活动期间对所有GÖPEL信号进行电隔离
- 差分信号传输到适配器
- 4个TAP接口卡（TIC模块）连接器
- JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
- 带有8个TAP版本作为单端版本
- 采用可选CION模块的交互式测试
- Teradyne专用版CASCON GALAXY
- 用于集成到GR228x/Navigate的通信链接软件（CLS）
- 在线运行中支持TSx05x系列
有关更多信息，请参阅手册
⇒ Teradyne Teststation ICT集成手册
⇒ Teradyne Spectrum ICT集成手册
⇒ SCANFLEX控制器SFX-PCIe 1149
TRI TR5001 Series II中的系统集成
- SFX II CUBE控制器
- ICT接口（例如VPC）的适配卡
- 不活动期间对所有GÖPEL信号进行电隔离
- 差分信号传输到适配器
- 6个TAP接口卡（TIC模块）连接器
- JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
- JTAG/边界扫描与ICT之间交互式测试
- TRI专用版CASCON GALAXY
- 用于集成到ETR5x的通信链接软件（CLS）
有关更多信息，请参阅手册
⇒ TRI ICT集成手册
⇒ SCANFLEX II CUBE
我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于VIAVI 42/52/58xx。
VIAVI 58xx中的系统集成
- 基于PXI的SCANFLEX控制器/收发器
- 差分信号传输到适配器
- 4个TAP接口卡（TIC模块）连接器
- JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
- JTAG/边界扫描与DTP卡之间交互式测试
- VIAVI专用版CASCON GALAXY
VIAVI 42xx/52xx中的系统集成
- SFX II CUBE控制器
- 差分信号传输到适配器
- 最多8个TAP接口卡（TIC模块）连接器
- JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
- VIAVI专用版CASCON GALAXY
有关更多信息，请参阅手册
⇒ VIAVI ICT集成手册
⇒ SCANFLEX II CUBE
⇒ SCANFLEX控制器SFX-PXI 1149