Test · Measurement · Inspection

采用嵌入式JTAG解决方案的在线测试仪（ICT）

嵌入式JTAG解决方案集成到在线测试仪（ICT）中

在线测试（ICT）是目前应用最广泛的技术，因为其工作原理可以发现所有可电气检测的故障。但是由于元件尺寸越来越小，并且由于窄宽网和多层电路板更加复杂，其功能一直受到访问困难的制约。

嵌入式JTAG解决方案没有访问限制。只要难以进行机械访问、甚至印刷电路板上可能存在为数不多的边界扫描组件，这种组合便非常有利。

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Steffen Kamprad - Sales Manager
先生 Steffen Kamprad
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集成到在线测试仪的优势

总体系统极为快速，包含嵌入式JTAG解决方案和在线测试仪

故障覆盖范围极高，也适用于高度紧凑的印刷电路板

节省测试点，降低钉板适配器成本

因为根据其核心能力来应用每种测试技术，测试程序生成简便

板卡和系统级的其他测试选项

经过专门设计的集成套件，具有各种性能等级，其中包含针对ATE（自动测试设备）量身定制的硬件和软件配置。SYSTEM CASCON软件平台的功能集成到ATE软件中，以进行在线测试。通用错误报告，进一步完善集成解决方案。

通过这些测试技术组合，在整个产品生命周期中，用户可以从板卡和系统级别的众多附加测试选项中高度受益。与单个系统相比，在测试覆盖范围、诊断深度和过程优化方面，集成具有显著的优势。

使用ICT进行边界扫描

第三方ATE合作伙伴

Digitaltest MTS 30/180/300/888中的系统集成

  • 基于PCIe的SCANFLEX控制器
  • TAP收发器作为用于真空和电缆接口的插入卡
  • 不活动期间对所有GÖPEL信号进行电隔离
  • 差分信号传输到适配器
  • 6个TAP接口卡（TIC模块）连接器
  • JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
  • JTAG/边界扫描和ICT之间通过混合卡实现交互式测试
  • Digitaltest MTS ICT专用版CASCON GALAXY
  • 用于集成到CITE的通信链接软件（CLS）

有关更多信息，请参阅手册

⇒ Digitaltest ICT集成手册

⇒ SCANFLEX控制器SFX-PCIe 1149

Digitaltest

我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于Keysight HP3070/3070/i3070/i5000。

Keysight 3070中的系统集成

带有实用工具卡的选项1

  • Keysight实用工具卡的插件模块
  • 2个用于JTAG的单端TAP

基于PCI Express的选项2

  • SCANFLEX PCIe控制器
  • TAP收发器作为插入卡或性能端口
  • 4个用于JTAG的单端TAP
  • 不活动期间对所有GÖPEL信号进行电隔离

基于SCANFLEX II CUBE的选项3

  • SFX II CUBE控制器作为内部或外部解决方案
  • 差分信号传输到适配器
  • 最多8个TAP接口卡（TIC模块）连接器
  • JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
  • 不活动期间对所有GÖPEL信号进行电隔离
  • Keysight 3070专用版CASCON GALAXY
  • 用于从测试计划中进行选择的通信链接软件（CLS）

有关更多信息，请参阅手册

⇒ Keysight ICT集成手册

⇒ SCANFLEX控制器SFX-PCIe 1149

⇒ SCANFLEX II CUBE

Keysight Technologies

Rohde & Schwarz TSVP中的系统集成

  • 基于PXI的SCANFLEX控制器/收发器
  • 基于PXI的SCANFLEX控制器/收发器
  • 差分信号传输到适配器
  • 4个TAP接口卡（TIC模块）连接器
  • JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
  • JTAG/边界扫描与PMB矩阵之间交互式测试
  • 采用PSAM/PSU进行模拟测量和激励
  • Rohde & Schwarz TSVP专用版CASCON GALAXY

有关更多信息，请参阅手册

⇒ Rohde & Schwarz ICT集成手册

⇒ SCANFLEX控制器SFX-PXI 1149

Rohde & Schwarz

我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于Seica Compact SL/TK/Multi/Power/XL。

Seica Compact中的系统集成

  • SFX II CUBE控制器带有SFX-5704测量模块
  • 差分信号传输到适配器
  • 最多8个TAP接口卡（TIC模块）连接器
  • JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
  • JTAG/边界扫描与ICT之间交互式测试
  • Seica Compact专用版CASCON GALAXY
  • 用于集成到VIVA的通信链接软件（CLS）

有关更多信息，请参阅手册

⇒ Seica ICT集成手册

⇒ SCANFLEX II CUBE

⇒ SCANFLEX I/O模块

    Seica

    我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于SPEA 3030 Compact/Inline/Multimode/Multi Core。

    SPEA 3030中的系统集成

    • SFX II CUBE控制器
    • 差分信号传输到适配器
    • 最多8个TAP接口卡（TIC模块）连接器
    • JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
    • JTAG/边界扫描与ICT之间交互式测试
    • SPEA 3030专用版CASCON GALAXY
    • 用于集成到Leonardo的通信链接软件（CLS）

    有关更多信息，请参阅手册

    ⇒ SPEA ICT集成手册

    ⇒ SCANFLEX II CUBE

    SPEA

    我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于Teradyne Spectrum和TestStation TSx。

    Teradyne Teststation中的系统集成

    • 基于PCIe的SCANFLEX控制器
    • TAP收发器作为插入卡
    • 不活动期间对所有GÖPEL信号进行电隔离 
    • 差分信号传输到适配器
    • 4个TAP接口卡（TIC模块）连接器
    • JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
    • 带有8个TAP版本作为单端版本
    • 采用可选CION模块的交互式测试
    • Teradyne专用版CASCON GALAXY
    • 用于集成到GR228x/Navigate的通信链接软件（CLS）
    • 在线运行中支持TSx05x系列

    有关更多信息，请参阅手册

    ⇒ Teradyne Teststation ICT集成手册

    ⇒ Teradyne Spectrum ICT集成手册

    ⇒ SCANFLEX控制器SFX-PCIe 1149

    Teradyne

    TRI TR5001 Series II中的系统集成

    • SFX II CUBE控制器
    • ICT接口（例如VPC）的适配卡
    • 不活动期间对所有GÖPEL信号进行电隔离 
    • 差分信号传输到适配器
    • 6个TAP接口卡（TIC模块）连接器
    • JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
    • JTAG/边界扫描与ICT之间交互式测试
    • TRI专用版CASCON GALAXY
    • 用于集成到ETR5x的通信链接软件（CLS）

    有关更多信息，请参阅手册

    ⇒ TRI ICT集成手册

    ⇒ SCANFLEX II CUBE

    TRI集成

    我们嵌入式JTAG解决方案的集成可用于VIAVI 42/52/58xx。

    VIAVI 58xx中的系统集成

    • 基于PXI的SCANFLEX控制器/收发器
    • 差分信号传输到适配器
    • 4个TAP接口卡（TIC模块）连接器
    • JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
    • JTAG/边界扫描与DTP卡之间交互式测试
    • VIAVI专用版CASCON GALAXY

    VIAVI 42xx/52xx中的系统集成

    • SFX II CUBE控制器
    • 差分信号传输到适配器
    • 最多8个TAP接口卡（TIC模块）连接器
    • JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM可以适配
    • VIAVI专用版CASCON GALAXY

    有关更多信息，请参阅手册

    ⇒ VIAVI ICT集成手册

    ⇒ SCANFLEX II CUBE

    ⇒ SCANFLEX控制器SFX-PXI 1149

    VIAVI

    适用技术

    嵌入式JTAG解决方案:
    边界扫描
    边界扫描
    ChipVORX
    基于IP的软件技术
    VarioTAP
    处理器的测试和编程

    More about In-Circuit-Tester (ICT)

    更多英文版信息

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