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使用嵌入式JTAG解决方案进行功能测试

嵌入式JTAG解决方案与功能测试(FT)相结合

功能测试早已被确定是质量保证的可靠工具,但现在的设计日益复杂,使得测试程序的创建变得困难并且耗时。目前,测试高度复杂的UUT的每项功能几乎成为不可能。

由于嵌入式JTAG解决方案不测试电路的功能,但使用其引脚来驱动和测量印刷电路板的走线,因此功能测试和嵌入式JTAG解决方案的结合具有重要意义。因此,接口的测试非常简单。对于“正常操作”期间很少能够实现的功能评估,可以非常轻松地进行测试。此外,嵌入式JTAG解决方案可在引脚级进行故障诊断,这对后续修复印刷电路板而言非常有帮助作用。

在功能测试器中集成特定于具体客户

在功能测试系统中集成通常非常特定于具体客户,能够以不同的形式实现。列出的解决方案仅代表一小部分已经实施的项目。

与功能测试系统结合的优势

增加测试深度

引脚级别的故障诊断

测试程序的生成变得更加简单

PCB编程

嵌入式JTAG解决方案技术功能的控制

 嵌入式JTAG解决方案与功能测试(FT)相结合

板卡和系统级的其他测试选项

经过专门设计的集成套件,具有各种性能等级,其中包含针对ATE(自动测试设备)量身定制的硬件和软件配置。

SYSTEM CASCON软件平台的功能集成到用于功能测试仪的ATE软件中。

通用错误报告,进一步完善集成解决方案。

通过这些测试技术组合,在整个产品生命周期中,用户可以从板卡和系统级别的众多附加测试选项中高度受益。

与单个系统相比,在测试覆盖范围、诊断深度和过程优化方面,集成具有显著的优势。

第三方ATE合作伙伴

在6TL功能测试中实现系统集成

带有SCANFLEX II控制器的选项1

  • SFX II CUBE控制器
  • 带VPC接口的适配器卡(Virginia Panel Corp.)
  • 不活动期间对所有GÖPEL信号进行电隔离
  • 差分信号传输到适配器
  • 6个TAP接口卡(TIC模块)连接器
  • 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM

基于PCI Express的选项2

  • 带有PCIe的SCANFLEX控制器
  • 带VPC接口的收发器卡
  • 16个T适用于JTAG、SWD、SBW、PIC1x或BDM的TAP连接

两个版本均可以根据需要,使用基于VPC的硬件进行扩展。

可用附加硬件如下:

  • 用于16个UUT上的电源管理卡
  • 具有128个MPP通道的扩展
  • 具有128个I/O通道的测试模式卡
  • 具有128个通道的模拟测量卡

 

 

在Eiger Design功能测试中实现系统集成

带有SCANBOOSTER的选项1

  • SCANBOOSTER控制器
  • 2个用于JTAG的单端TAP

带有SCANFLEX II控制器的选项2

  • SFX II CUBE控制器
  • 多达8个TAP连接
  • 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM

更多信息:

SCANBOOSTER

SCANFLEX II CUBE

在LXinstruments功能测试中实现系统集成

  • SFX II CUBE控制器
  • 带VPC接口的适配器卡(Virginia Panel Corp.)
  • 差分信号传输到适配器
  • 6个TAP接口卡(TIC模块)连接器
  • 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM
  • 面板测试中所有UUT GND的电隔离
  • 客户特定扩展,可以采用不同的形式

更多信息:

SCANFLEX II CUBE

SCANFLEX TAP接口卡

在National Instruments功能测试中实现系统集成

  • 基于PXI的SCANFLEX控制器/收发器
  • 差分信号传输到适配器
  • 4个TAP接口卡(TIC模块)连接器
  • 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM
  • PXI扩展,每个插槽可以具有192个I/O通道
  • 与Teststand、LabView和CVI/Labwindows集成

更多信息:

SCANFLEX控制器SFX-PXI 1149

SCANFLEX TAP接口卡

在Test-OK功能测试中实现系统集成

带有SCANBOOSTER的选项1

  • SCANBOOSTER控制器作为插件模块
  • 2个用于JTAG的单端TAP

带有SCANFLEX II控制器的选项2 

  • SFX II CUBE控制器
  • 差分信号传输到适配器
  • 多达8个TAP接口卡(TIC模块)连接
  • 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM

更多信息:

SCANBOOSTER

SCANFLEX II CUBE

 

 

在Visatronic功能测试中实现系统集成

带有SCANBOOSTER的选项1

  • SCANBOOSTER控制器
  • 2个用于JTAG的单端TAP

带有SCANFLEX II控制器的选项2 

  • SFX II CUBE控制器
  • 多达8个TAP连接
  • 可以适配JTAG、SWD、SBW、PIC1x和BDM

更多信息:

SCANBOOSTER

SCANFLEX II CUBE

适用技术

嵌入式JTAG解决方案:
边界扫描
边界扫描
ChipVORX
基于IP的软件技术
VarioTAP
处理器的测试和编程