SCANFLEX II —— 用于嵌入式测试和编程的控制器

SCANFLEX II CUBE是新一代的模块化JTAG/边界扫描控制器。基于最新的多核处理器和FPGA，SCANFLEX II CUBE为嵌入式JTAG解决方案开辟了新的道路。SCANFLEX II CUBE的多功能架构使得用户可以在单一平台上灵活组合多种技术并实现高性能。

嵌入式板卡测试：能显著提高复杂电路板的测试深度，甚至不需要指针
嵌入式功能测试与嵌入式编程并行
不需要外部程序员

8个独立、并行的测试访问端口（TAP），最高可达100 MHz
同步操作嵌入式测试、调试和编程
可编程、多功能64通道I/O信号单元
适用于各种处理器调试接口的可编程TAP协议
支持多达31个并行控制的SCANFLEX I/O模块
可通过USB 3.0和千兆局域网进行控制

SCANFLEX II BLADE 4 RMx1/2/3

SCANFLEX II CUBE 的工业版本，设在带有1、2或3个单元的19英寸1U外壳中

四个独立的并行测试访问端口（TAP），最高100 MHz
支持多达30个并行控制的SCANFLEX I/O模块
每个单独的控制器均为独立型，具有独立的USB/LAN和电源端口

einheitliche Steuerplattform mit 1 x 8 oder 2 x 8 unabhängigen, echt parallelen Test Access Ports (TAP) für bis zu 100 MHz
1 bzw. 2 programmierbare, multifunktionale 64 Kanal I/O Mixed-Signal-Einheiten
Unterstützung von bis zu 30 bzw. 60 SFX I/O-Modulen
USB 3.0 und Gbit LAN Steuerinterfaces

Mit dem SFX II ITM (Interface Tester Master) Eigenschaften unterschiedlichster Schnittstellen wie RS232, I2C und SPI oder komplexe Interfaces, wie USB, LAN und Media-Verbindungen systematisch testen. Auch der simultane Schnittstellentest an mehreren Prüflingen wird unterstützt.

» Mehr zum Testen von Schnittstellen