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SCANFLEX II CUBE

用于嵌入式测试和编程的高性能控制器

用于嵌入式测试和编程的高性能控制器

SCANFLEX II CUBE是新一代的模块化JTAG/边界扫描控制器。基于最新的多核处理器和FPGA,SCANFLEX II CUBE为嵌入式JTAG解决方案开辟了新的道路。SCANFLEX II CUBE的多功能架构使得用户可以在单一平台上灵活组合多种技术并实现高性能。

  • 嵌入式板卡测试:能显著提高复杂电路板的测试深度,甚至不需要指针
  • 嵌入式功能测试与嵌入式编程并行
  • 不需要外部程序员
Ralph Dreßler, Sales in China
先生 Ralph Dressler
requests only in English
+852-6192-2151 电话
13 十一月 18 - 16 十一月 18

electronica 2018

Category: JULIET

特性

  • 8个独立、并行的测试访问端口(TAP),最高可达100 MHz
  • 同步操作嵌入式测试、调试和编程
  • 可编程、多功能64通道I/O信号单元
  • 适用于各种处理器调试接口的可编程TAP协议
  • 支持多达31个并行控制的SCANFLEX I/O模块
  • 可通过USB 3.0和千兆局域网进行控制