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SCANFLEX II - 用于嵌入式测试和编程的高性能控制器

SCANFLEX® II CUBE

SCANFLEX II CUBE是新一代的模块化JTAG/边界扫描控制器。基于最新的多核处理器和FPGA,SCANFLEX II CUBE为嵌入式JTAG解决方案开辟了新的道路。SCANFLEX II CUBE的多功能架构使得用户可以在单一平台上灵活组合多种技术并实现高性能。

  • 嵌入式板卡测试:能显著提高复杂电路板的测试深度,甚至不需要指针
  • 嵌入式功能测试与嵌入式编程并行
  • 不需要外部程序员

特性

SCANFLEX II CUBE

  • 8个独立、并行的测试访问端口(TAP),最高可达100 MHz
  • 同步操作嵌入式测试、调试和编程
  • 可编程、多功能64通道I/O信号单元
  • 适用于各种处理器调试接口的可编程TAP协议
  • 支持多达31个并行控制的SCANFLEX I/O模块
  • 可通过USB 3.0和千兆局域网进行控制

SCANFLEX® II BLADE 4 RMx1/2/3

1, 2 or 3 SFX II BLADE 4 in a 19 inch 1U housing

SCANFLEX II CUBE 的工业版本,设在带有1、2或3个单元的19英寸1U外壳中

  • 四个独立的并行测试访问端口(TAP),最高100 MHz
  • 支持多达30个并行控制的SCANFLEX I/O模块
  • 每个单独的控制器均为独立型,具有独立的USB/LAN和电源端口

SCANFLEX® II BLADE 8 RMxX-A/B/C

Zweimal acht TAPs (Test Access Ports) zur Ausführung einer Vielzahl unterschiedlicher Testprojekte simultan

  • einheitliche Steuerplattform mit 1 x 8 oder 2 x 8 unabhängigen, echt parallelen Test Access Ports (TAP) für bis zu 100 MHz
  • 1 bzw. 2 programmierbare, multifunktionale 64 Kanal I/O Mixed-Signal-Einheiten
  • Unterstützung von bis zu 30 bzw. 60 SFX I/O-Modulen
  • USB 3.0 und Gbit LAN Steuerinterfaces

Erweiterungen zum SCANFLEX II Controller

Funktionen von Schnittstellen überprüfen

Mit dem SFX II ITM (Interface Tester Master) Eigenschaften unterschiedlichster Schnittstellen wie RS232, I2C und SPI oder komplexe Interfaces, wie USB, LAN und Media-Verbindungen systematisch testen. Auch der simultane Schnittstellentest an mehreren Prüflingen wird unterstützt.

» Erfahren Sie mehr zum Funktionstest von Schnittstellen

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