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可测性设计

在开发过程中,通过适当措施提高可测性并降低成本

在设计过程中便已开始避免电子设备中的错误。 为了尽早避免制造错误,对于后续测试,必须考虑基于电路的可能性。遵循一定的建议,可以大幅度增加后续测试总成的能力 —— 显著降低成本。

在《可测性设计指南》中,提供了有关实现稳定的嵌入式JTAG解决方案以及最佳测试覆盖率的建议。 

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Ralph Dreßler, Sales in China
先生 Ralph Dressler
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