嵌入式板测试
嵌入式板测试是一种使用内置电路的现代测试技术。各种技术的应用有一共同点:测试方案的产生和应用均发生在同一系统中。测试系统由独特的模块化控制硬件和软件组成。
嵌入式板测试允许对管脚和网络进行数字和静态测试,还可以集成功能测试,包括访问12C和SPI器件、测量和模拟处理器输入、动态存储器测试和高速接口测试(例如USB 3.0)。

Beispiele für Applikationen mit Embedded Board Test
Abhängig von der Ziel-Applikation steuert der Embedded Board Test entweder die JTAG-Schnittstelle mit
TCK (Test ClocK),
TMS (Test Mode Select),
TDI (Test Data Input),
TDO (Test Data Output),
TRST (Test ReSeT)
oder eine andere Debug-Schnittstelle.