嵌入式板测试

嵌入式板测试是一种使用内置电路的现代测试技术。各种技术的应用有一共同点：测试方案的产生和应用均发生在同一系统中。测试系统由独特的模块化控制硬件和软件组成。

嵌入式板测试允许对管脚和网络进行数字和静态测试，还可以集成功能测试，包括访问12C和SPI器件、测量和模拟处理器输入、动态存储器测试和高速接口测试（例如USB 3.0）。

短路、电阻器缺失、未焊接管脚和BGA球等典型产品故障，以及高速数据传输错误均能被快速高效地检测出来。执行时间短，故障诊断准确，可将维修成本降至最低。

Abhängig von der Ziel-Applikation steuert der Embedded Board Test entweder die JTAG-Schnittstelle mit

TCK (Test ClocK),
TMS (Test Mode Select),
TDI (Test Data Input),
TDO (Test Data Output),
TRST (Test ReSeT)

oder eine andere Debug-Schnittstelle.

基于JTAG的测试访问（边界扫描）
该标准化方案，简化访问FPGA、处理器、控制器和CPLD等复杂器件，不需要详细的硬件知识。
» 了解更多BoundaryScan
基于FPGA的测试（ChipVORX）
该方案将FPGA逻辑集成到测试中。使用 ChipVORX甚至可以简单高效地解决复杂的测试应用问题。通过通用FPGA模式（无需单独调整）可实现对内部千兆链路和其他功能（频率测量、闪存存取和RAM测试）的访问。
» 了解更多ChipVORX
基于处理器的测试（VarioTAP）
处理器特有模式允许处理器进入调试模式。使用VarioTAP这一独特功能进行模拟寄存器、闪存存取和实时RAM测试。支持JTAG端口和其他调试接口。
» 了解更多 VarioTAP
配备通用固件（JEDOS）的基于处理器的测试
使用JEDOS（针对测试和编程应用进行优化）可以实现具有图形用户界面的复杂功能测试。这些测试为彻底的内存测试、高效的闪存访问或接口测试（以太网、USB等）。测试可以在最短合理时间内实现，且不需要特殊的硬件知识。
» 了解更多 JEDOS