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嵌入式板测试

嵌入式板测试是一种使用内置电路的现代测试技术。各种技术的应用有一共同点:测试方案的产生和应用均发生在同一系统中。测试系统由独特的模块化控制硬件和软件组成。

嵌入式板测试允许对管脚和网络进行数字和静态测试,还可以集成功能测试,包括访问12C和SPI器件、测量和模拟处理器输入、动态存储器测试和高速接口测试(例如USB 3.0)。

短路、电阻器缺失、未焊接管脚和BGA球等典型产品故障,以及高速数据传输错误均能被快速高效地检测出来。执行时间短,故障诊断准确,可将维修成本降至最低。

Ralph Dreßler, Sales in China
先生 Ralph Dressler
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+85239832191 电话

四种可组合技术构成嵌入式板测试的核心。

该标准化方案,简化访问FPGA、处理器、控制器和CPLD等复杂器件,不需要详细的硬件知识。

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FPGA based tests (ChipVORX)

该方案将FPGA逻辑集成到测试中。使用 ChipVORX甚至可以简单高效地解决复杂的测试应用问题。通过通用FPGA模式(无需单独调整)可实现对内部千兆链路和其他功能(频率测量、闪存存取和RAM测试)的访问。

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 VarioTAP

处理器特有模式允许处理器进入调试模式。使用VarioTAP这一独特功能进行模拟寄存器、闪存存取和实时RAM测试。支持JTAG端口和其他调试接口。

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Processor-based tests with a universal (JEDOS)

使用JEDOS(针对测试和编程应用进行优化)可以实现具有图形用户界面的复杂功能测试。这些测试为彻底的内存测试、高效的闪存访问或接口测试(以太网、USB等)。测试可以在最短合理时间内实现,且不需要特殊的硬件知识。

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