Test Convention Connect

Test Convention connect是一个纯数字的免费网络会议，主题是装配检测、电子测试技术以及嵌入式测试和编程。在90分钟的网络会议中，提供了关于技术进步、新系统开发和问题解决的广泛的专家知识。

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检验解决方案

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从装配控制到焊点检测--THT工艺中智能和整体的检测解决方案

1月31日，星期一，10:00 - 11:00 UTC (EN)

1月31日，星期一，17:00 - 18:00 UTC (EN)

用于提高测试覆盖率的AXI系统--可能性和局限性

2月1日，星期二，10:00 - 11:30 UTC (EN)

2月1日，星期二，17:00 - 18:30 UTC (EN)

多条道路通向目标--带AOI和坏板处理的THT制造概念

2月2日，星期三，10:00 - 11:00 UTC (EN)

2月2日，星期三，17:00 - 18:00 UTC (EN)

AOI程序的快速方法/组装好的PCB的数字双胞胎

2月7日，星期一，10:00 - 11:00 UTC (EN)

2月7日，星期一，17:00 - 18:00 UTC (EN)

嵌入式JTAG解决方案

请选择时间
请注意，大会是以英语进行的。

SYSTEM CASCON 4.8.0 - 新功能概述

2月8日，星期二，10:00 - 11:30 UTC (EN)

2月8日，星期二，17:00 - 18:30 UTC (EN)

ICT、FPT和FKT及车间的系统集成

2月9日，星期三，10:00 - 11:30 UTC (EN)

2月9日，星期三，17:00 - 18:30 UTC (EN)

JTAG/边界扫描项目开发从开始到结束及研讨会

2月10日，星期四，上午10:00 - 11:30 UTC (EN)

2月10日，星期四，下午17:00 - 18:30 UTC (EN)

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