17. Sep '20

Prototypentest in der Elektronikentwicklung


Embedded JTAG Solutions – Testen vom Prototypen bis zur Serie

Bereits im Prototypen und Entwicklungsstatus spielt das Testen eine große Rolle. Mit den Embedded JTAG Solutions können Baugruppen ohne spezielle Prüfsoft- und Hardware analysiert werden. Von Verbdindungstests, über das Messen von analogen Spannungen bis hin zum Test funktionaler Anteile einer Baugruppe lassen sich bereits im Prototypenstatus kritische Bereiche analysieren und auswerten.

Aber wie macht man die Testabdeckung sichtbar? Ein neues Software-Werkzeug hilft dabei, problematische Bereiche zu identifizieren (z.B. ungetestete Bereiche) und Zeit bei der Analyse und Testprogrammerstellung zu sparen (z.B. durch mehrfaches Testen), wobei auch die Art des Testens (statischer, dynamischer, funktionaler Test, Stresstest) in die Betrachtungen einfließt. Auch im Rahmen der Minimalisierung von Baugruppen können mit Hilfe der Embedded JTAG Solutions Möglichkeiten zur Optimierung des Prüflings und des Testsystems ausfindig gemacht werden.

Durch die Einführung der Embedded JTAG Solutions in den Entwicklungszyklus und den Prototypentest wird die Überführung in die Serienproduktion vereinfacht und beschleunigt. Bereits entwickelte Testschritte können einfach nachgenutzt und an das Produktionsumfeld angepasst werden, wodurch weitere Zeit- und Kostenersparnisse entstehen

 

Sprecher

Alexander Labrada Diaz, GÖPEL electronic

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Fakten
  • 17. Sep '20 10:00 - 11:00 Uhr
Veranstalter
Frank Amm

Frank Amm
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f.amm@goepel.com  Mail

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