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10. Dez '19

Für jeden die richtige Integration


Die Miniaturisierung von Elektronik ist längst alltäglich geworden - damit einhergehend auch steigende Anforderungen an das Elektronikdesign und an die Produktion. Fehlender Platz für Testpunkte aber auch die steigenden Geschwindigkeiten und Datenraten sorgen mitunter für hitzige Diskussionen zwischen der Fertigung und der Entwicklung. Und so stellt sich die Frage:  Wie kann man sich trotz dessen aus dieser verzwickten Lage befreien und für volle Funktionsweise garantieren? Es gibt kein Prüfverfahren, welches Ihnen eine 100 %-Testabdeckung gewährleistet. Einen Lösungsansatz bietet die Kombination von verschiedener Technologien und Testverfahren. Diese kann viel mehr leisten - und für echte Einsparungen im Produktions- und Testprozess sorgen.

Highlights des Webinars

  • Vorteile einer Integration von JTAG/Boundary Scan in andere Testverfahren wie Flying-Probe-Test (FPT), In-Circuit-Test (ICT) oder Funktionstest
  • die optimale Balance von Kosten und Zykluszeiten finden
  • Leistung von JTAG/Boundary Scan im Zusammenspiel mit anderen Testverfahren
  • u.v.m.

Sprecher

Alexander Beck, GÖPEL electronic GmbH

 

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Fakten
  • 10. Dez '19 10:00 - 11:00 Uhr
Veranstalter
Frank Amm

Frank Amm
+4936416896741  Telefon
f.amm@goepel.com  Mail

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