Nächster Termin am  03. Feb '22

Fehlererkennung durch Embedded Instruments und Digital Twins


Unsichtbare Gefahren rechtzeitig erkennen

Innovative Produkte mit höchster Qualität entwickeln, produzieren und nachhaltige Zuverlässigkeit im Einsatz sicherstellen - das sind entscheidende Eckpfeiler für den Markterfolg jedes Elektronikunternehmens.

Dabei kommen immer neuen Designtechnologien Schlüsselfunktionen für die kontinuierliche Miniaturisierung, wachsenden Verarbreitungsgeschwindigkeit, für steigende Funktionskomplexität zu. Allerdings haben diese Innovationen auch eine Kehrseite, denn sie verändern in starkem Maße das Fehlerspektrum, erschweren zunehmend die Erkennung, Diagnose und Lokalisierung von Defekten und führen zu immer komplexeren Betriebssituationen im Zusammenwirken von Software und Hardware.

GÖPEL electronic hat sich diesen Herausforderungen angenommen und zur Adressierung der oftmals unsichtbaren Gefahren eine neue holistische Philosophie des Einsatzes von sogenannten Embedded Instruments entwickelt und technologisch in die Praxis überführt.

Das kostenfreie Webinar analysiert die unterschiedlichen Gefahren anhand von spezifischen Referenzmodellen, erklärt die Philosophie von Embedded Instruments, stellt die dafür entwickelten Produktlösungen und Systemtechnologien vor und demonstriert anhand von Fallstudien die hervorragende praktische Effizienz der Methoden.


Für wen ist das Webinar interessant

  • Test-Manager, die sich mit aktuellen und zukünftigen Möglichkeiten des Embedded Test im Zusammenspiel mit weiteren Testressourcen bis hin zu ATE vertraut machen möchten
  • Hardware-Entwickler, die Werkzeuge zum Analysieren von Baugruppen und Schaltungsanteilen benötigen
  • Testingenieure, die Embedded Test- und Programmier-Verfahren bereits einsetzen, für die der klassische Boundary Scan nicht ausreicht

Sprecher

Thomas Wenzel, Martin Borowski, Jan Heiber

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Fakten
  • • 03. Feb '22 10:00 - 11:00 Uhr
Veranstalter
Frank Amm

Frank Amm
+4936416896741  Telefon
f.amm@goepel.com  Mail

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