EFX-Podiumsdiskussion: Wer findet den Fehler wirklich? – Qualität zwischen Wahrheit und Illusion

Podiumsdiskussion auf der EFX in Stuttgart

In der Elektronikfertigung sichern vielfältige Prüfverfahren die Qualität – von AOI und AXI bis hin zu In-Circuit-Test, Boundary Scan und Funktionstest. Doch welche Methode liefert tatsächlich die höchste Fehlerabdeckung, und wo entstehen unnötige Kosten oder redundante Prüfungen? In dieser Podiumsdiskussion treffen Experten unterschiedlicher Prüftechnologien aufeinander und diskutieren offen ihre Stärken, Schwächen und Grenzen. Die aktive Mitarbeit der Zuhörer ist ausdrücklich erwünscht! 

Moderatoren: Enrico Zimmermann und Susann Fischer