Nächster Termin am
14. Mai '25
Ein smarter Funktionstest mit PIN-genauer Fehlerdiagnose
Melden Sie sich an und freuen Sie sich auf folgende spannende Themen:
- Überblick über erweiterte funktionale Teststrategien
- Einsatz und Nutzen eingebetteter Testinstrumente
- Umsetzung funktionaler Tests im Prototypen- und Serientest
- Einfache Erstellung effektiver Testverfahren
Sprecher
Alexander Labrada Diaz, Senior Applikationsingenieur EJS