GÖPEL electronic
Prüftechnologien, die Freude bereiten: Enjoy Testing!
Die GÖPEL electronic GmbH entwickelt und fertigt als weltweit führender Anbieter elektrische und optische Mess- und Prüftechnik sowie Test- und Inspektionssysteme für elektronische Bauelemente, bestückte Leiterplatten, Industrieelektronik und Kfz-elektronische Systeme. Die Geschäftsbereiche sind Automotive Test Solutions, Embedded JTAG Solutions, Industrieller Funktionstest und Inspektionslösungen (AOI, AXI, SPI, IBV).
Anwendung finden unsere Automotive-Produkte in Testszenarien für Kfz-Steuergeräte, Autositze, Buskommunikation, Akustik- und Geräuschanalysen sowie im End-of-Line- und eMobility-Bereich.
Leistungsstarkes Testen und Programmieren für Elektronik-Entwicklung- und Produktion bieten wir unter Nutzung der JTAG-Schnittstelle an. Für Industrie-Elektronik und SPS-Systeme sind unsere Prüfsysteme individuell angepasst und kundenorientiert.
Heute schon ein Türchen geöffnet?
Wissen und Freude im Advent bei GÖPEL electronic.
Neuigkeiten aus dem Hause GÖPEL electronic
FlashFOX bringt frischen Wind: neue Features und 4-Kanal-Version
Effiziente Testabdeckungsanalyse mit KI-Unterstützung
Eine Plattform, eine Software – einzigartig
Im Fokus: Smarte JTAG-Lösungen und neue Inspektionsplattform
TIC-Erweiterungsmodule für SCANFLEX II Controller-Familie
Video Dragon unterstützt MIPI A-PHY®
Revolution in der THT-Inspektion
Unterstützung von aktionkinderschutz e.V.
Erhöhung von Testabdeckung und -tiefe durch interaktive Tests
Neue Generation Netzwerktester NG+
Boundary Scan und Automotive Test Solutions auf der embedded world 2024
MultiEyeS plus mit Augmented Reality-basierter Bestückassistenz
Innovative JTAG Integration für Seica Flying Prober
FlashFOX auf dem Siegerpodest des productronica innovation awards
Innovatives MultiEyeS plus für smarte Inspektion und beste Montagequalität
Innovationskraft trifft Vielfalt auf der productronica
Erstklassige Teststrategien setzen Akzente in der MOTORWORLD
Zukunft gestalten - Einblicke in den Automotive Thüringen Branchenreport 2023
Große Nachfrage nach Robotik-Setup bestätigt Testautomatisierungs-Trend
TISAX®-Assessment erstklassig durchlaufen
Erfolgreiche Zertifizierung im Lieferantenportal JOSCAR
Leistungsstarke, intelligente Test-Technologien auf Automotive Testing Expo
Neues 3D Lotpasteninspektionssystem mit zukunftsweisender Technologie
Technik zum Anfassen und individuelles Vortragsprogramm auf ETFN
Agentek ist neuer Vertriebspartner für hochwertige Inspektionslösungen in Israel
Automotive-Prüftechnologien auf der VECS 2023
Neues SCANFLEX TIC Modul für die Programmierung von Mikrocontrollern
Neueste Test- und Inspektionslösungen auf der SMTconnect
SYSTEM CASCON 4.9.0 erhöht Geschwindigkeit, Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit
Video Dragon – Universelle Prüftechnik für Automotive-Steuergeräte mit Video-Schnittstellen
Technologietag EMIL macht Electronic Manufacturing & Inspektions-Lösungen erlebbar
PILOT AOI Version 7 bietet mehr Flexibilität und Automatisierung
Highlights der Testtechnologien von Boundary Scan bis Automotive Test auf der embedded world
GÖPEL electronic eröffnet Niederlassung in Malaysia
OiTec wird neuer GATE-Partner für GÖPEL electronic
Inspektionslösungen mit IPC-CFX-Standard
SCANFLEX II Controller setzt neue Maßstäbe
Neueste Test- und Inspektionslösungen auf der electronica
Neue Generation Flash Programmer für die Produktion
Emulation serieller Bus-Interfaces für flexiblen Test und Programmierung
Neues Infotainment-Testsystem ermittelt haptische Kennzahlen
TRI-Testsysteme können um Embedded JTAG Solutions erweitert werden
Neue KI-basierte Assistenzfunktion für Verifikations- und Reparaturplätze
Doppelseitige 3D-Prüfung von THT-Baugruppen
Ultra-kompakter JTAG/Boundary-Scan-Controller für Labor und Produktion
Neue Generation 3D AOI reduziert Pseudofehler
Haptik- und Akustiktest auf der Sensor+Test
Künstliche Intelligenz in der Elektronikfertigung
Optimierte AOI-Programmierung mit digitalem Zwilling
Sicherheitslücke log4j - GÖPEL electronic Produkte geprüft
Neue SYSTEM CASCON Software-Version mit zahlreichen Features
SCANFLEX II Controller jetzt auch als PXIe-Variante
Neue JEDOS-Generation für SoC-Funktionstest
Integrierter Test von digitalen und analogen I/O-Signalen
Neue Offline-Programmiersoftware für AXI-Systeme
MultiPanel und VIVA 64 Bit Support für Seica-Integration
productronica 2021: smarte Test- und Inspektionslösungen
Neues Inline-Röntgensystem mit hoher Flexibilität und Präzision
Automotive Days im Oktober
Kürzere AOI-Prüfzeit mit neuer PILOT AOI Version
Intelligenter Leiterplattentransport für Röntgensystem
Neue AOI-Software-Version mit erweiterten 3D-Möglichkeiten
Embedded JTAG Solutions für SPEA4020
Neues System zur 3D-Selektivlötstellenkontrolle
Emulationstechnologie VarioTAP für zwei weitere Prozessoren von STMicroelectronics verfügbar
Neue Test- und Programmierlösung für die Elektronikfertigung
GÖPEL electronic stages test technology event in digital guise
Trainingseinheiten für Produktionsmitarbeiter
Erweiterte Mensch-Maschine-Kommunikation für Röntgensystem
Neuer JTAG/Boundary Scan Controller für Test und Programmierung in hohem Takt
GÖPEL electronic ermöglicht Aufrüstung vom 2D- zum 3D-AOI-System
Cyber-Security im Fahrzeug: Automotive-Kommunikationscontroller unterstützen SecOC
GÖPEL electronic veranstaltet Prüftechnologie-Event im digitalen Gewand
JTAG/Boundary Scan Integration in Takaya 1600FD mit Multiprobe-Option
CTview - neue 3D-Volumenansicht zur vereinfachten Fehlerklassifikation am AXI-System
Einheitliches Austauschformat im Fertigungsprozess
Neues kosteneffizientes JTAG-Technologie-Bündel für den Einstieg
Neue Serie kostengünstiger 3D-AOI-Systeme
Funktionale Prüfung von USB3-Schnittstellen
Testoption für Marvell Automotive Ethernet Switches
RAPIDO mit neuen Features
Neue Module zum Test von CAN-FD und Ethernet-Schnittstellen
GÖPEL electronic tritt PULSE-Community von ASYS bei
Automatischer Verbindungstest von Nicht-Boundary-Scan-fähigen Mikrocontrollern
Neuer JTAG/Boundary Scan Controller für Einsteiger
Neue Test- und Programmieroptionen für Prozessoren von Texas Instruments, Renesas und Microchip
Multi-Panel-Programmierung im Takaya Flying-Prober durch Integrationslösung
Neues TIC-Erweiterungsmodul für SCANFLEX II Controller-Familie
Embedded JTAG Solutions kombiniert mit Seica Compact ICT
AOI-Modul mit Künstlicher Intelligenz für Montageprozesse und THT-Bestückung
GÖPEL electronic auf der productronica 2019
3D-Inspektion von THT-Lötstellen im Fertigungsprozess
Neuer Test Coverage Analyzer erhöht Testabdeckung
Neue VarioTAP-Modelle für Texas Instruments und NXP-Prozessoren
Kooperation für Elektromotoren-Dauerlauftestsysteme
Individuelle MES-Anbindung für Inspektionssysteme mit Systemauslieferung garantiert
Neue SCANFLEX II TAP Interface Card (TIC) für volle 5V-Kompatibilität
Sample Point System für CAN/CAN-FD
Lotpasteninspektion und Bestückkontrolle mit 3D-AOI-Systemen
Verstärkung für Tochtergesellschaft
ADAS-SoC als Test- und Programmierinstrument nutzen
Neues, kompaktes Testsystem für Automotive-Steuergeräte
Frame Grabber und Generator zur Qualitätsprüfung von ADAS-Komponenten
Emulationstechnologie VarioTAP für zwei weitere Prozessoren von Texas Instruments verfügbar
Update für Röntgensystem: AXI-System erhält neuen 3D-Detektor
Embedded JTAG Solutions für SPEA4080
Nachträgliche Fehlerdiagnose für SYSTEM CASCON
Schnittstellentester für modernste Bus-Interfaces
JTAG/Boundary Scan für Spectrum ICT von Teradyne
GÖPEL electronic tritt Smart Electronic Factory-Initiative bei
Renesas und NXP-Prozessoren als Instrumente zum Testen und Programmieren nutzen
Ausgezeichnete Testinstrumente aus der Cloud: Embedded Award für ChipVORX Synthetic Instruments
Neue SYSTEM CASCON Version mit Testinstrumenten aus der Cloud
Neue Testmodule zum Funktionstest von DDR2-SO-DIMM-Speichern
Neue Funktionen für CAN FD Stress- und Triggermodul
Predictive Maintenance für Inline-Röntgensystem
JTAG/Boundary Scan Controller für den industriellen Produktionseinsatz
Neues 3D-Kameramodul für Stand-alone AOI-System Basic Line
JULIET Testsystem geht in die dritte Generation
EasyCON: Neuer Medienkonverter für Automotive Ethernet
VarioTAP für Renesas RH850/F1K
Neueste Entwicklungen auf der electronica 2018
Erweiterungsmodul für SCANFLEX II ermöglicht Analogmessungen
Prozessor-Emulation für Intel Arria 10 SoC
Inspection Days 2018: Elektronikfertiger zu Gast bei GÖPEL electronic
Neue Geschäftsführerin bei der GÖPEL electronic GmbH
GÖPEL electronic erweitert VarioTAP®-Emulationstest
WLAN-Interface für Boundary Scan Controller “SCANFLEX II Cube”
Röntgen-Maschinensoftware jetzt auch verfügbar in Chinesisch
Neue Version der SYSTEM CASCON Software steigert Testdurchsatz
Neue Funktionen für Baugruppen-Produktionstester JULIET
Verbesserte Inspektion von Lot- und Sinterpasten sowie von DCB-Substraten
Neues Testsystem zur berührungslosen 3D-Prüfung von Autositzen in hoher Geschwindigkeit
Hohe Anzahl von analogen Spannungen schnell und einfach messen
Haptiktest von Fahrzeug-Funkschlüsseln
Multibus-Kommunikationscontroller der nächsten Generation
Altera Cyclone V FPGAs gegen potenzielle Angreifer schützen
VarioTAP-Emulationstest erweitert auf Automotive-SoC R-Car M3 von Renesas
Testlösungen für Elektronik- und Automotive-Anwendungen auf der embedded world 2018
Störmodul für Automotive-Ethernet-Anwendungen
GÖPEL electronic verzeichnet erneut Rekordjahr
GÖPEL electronic erschließt In-System-Emulation für Blackfin-Mikrocontroller von Analog Devices
Vereinfachtes Testen und Programmieren von Cypress PSoC 4 mit VarioTAP-Technologie
Neues Modul zum Boundary Scan Test von DDR4 DIMM-Sockeln für hohe Prüfabdeckung von Mainboards
Flash In-System-Programmierung (ISP) über den Automotive-Bus
Vollautomatische Erstellung und Optimierung von Prüfprogrammen mit 3D-AOI
Neuer Detektor für flexible automatische Röntgeninspektion
Test- und Emulation erweitert auf Infineon-Microcontroller für autonomes und elektrifiziertes Fahren
PILOT Supervisor ist nominiert für den productronica innovation award 2017
Viertes Firmengebäude feierlich eingeweiht
Neues Test- und Programmierinterface
Serie 61 Kommunikationscontroller nun auch Linux-kompatibel
Neue Test- und Programmieroptionen für Prozessoren von Texas Instruments und Renesas
Magneti Marelli entscheidet sich für Röntgensysteme von GÖPEL electronic
Inspection Days 2017 als Gipfeltreffen der AOI-, AXI- und SPI-Anwender
Effizientes und günstiges Programmieren von Cypress EZ-USB FX 3 Bausteinen
Reinraumfähige AOI- und SPI-Systeme
Neues System zum Dauerlauftest von Kfz-Lüftern und Klimaanlagen
ATI wird Testhausdienstleister für Produktionstester von GÖPEL electronic
Schutz und Sicherheit für Xilinx Ultrascale FPGAs
Test- und Kommunikationslösungen auf Automotive Testing Expo in Stuttgart
SCANFLEX II CUBE: Neue Generation von JTAG/Boundary-Scan-Controllern
ChipVORX-Technologie für Chip Embedded Instruments auf Intel® MAX® 10 FPGAs erweitert
Mobile und einheitliche Steuerung verschiedener Inspektionssysteme mit PILOT Inspect
Gesteigerte Prüfgeschwindigkeit und neue Option für Inline-Röntgensysteme
Prüftechnologie-Forum zur Qualitätssicherung in allen Bereichen der Elektronikfertigung
Debuggen und Testen der Zynq UltraScale+ Multi-Prozessor-SoCs von Xilinx
VarioTAP-Emulationstest erweitert auf Automotive-SoC R-Car H3 von Renesas
Kombinierte Test- und Programmiertechnologien für Intel Arria 10 SoCs
Test- und Programmierlösungen für Embedded-Elektronik der Zukunft
Weltweit erstes Stress- und Triggermodul für CAN FD
Enics Group kooperiert mit GÖPEL electronic
Test- und Diagnose-Betriebssystem JEDOS verfügbar für i.MX6-Prozessoren
INGUN und GÖPEL electronic kooperieren für vollständigen Test von High-Speed Schnittstellen "Made in Germany"
Die Übertragungsqualität von Highspeed-Link-Kabeln testen
Automatische Lotperlensuche verhindert plötzliche Kurzschlüsse
Zentrale Verifikation von Inspektionsergebnissen mehrerer Systeme
Test- und Inspektionslösungen zur electronica 2016
IPC-konforme THT-Lötstellenkontrolle von Automotive Steckverbindern
Inspection Days 2016 - GÖPEL electronic
Erweiterung der ChipVORX-Technologie für Chip Embedded Instruments auf Arria-V-SoC-Serie von Altera
Test und Emulation auf Bluetooth-SoC-Controller von Nordic Semiconductor erweitert
Verschleißfreies AOI-Inline-System auf engstem Raum
Veranstaltungen
Veranstaltungen
- 25. - 27. Nov '25 09:00 - 16:30 Uhr
- |
- Embedded JTAG Solutions
- |
- Seminar
Embedded JTAG Solutions Seminar für Fortgeschrittene
07745 Jena, Deutschland- 02. - 03. Dez '25 09:00 - 16:30 Uhr
- |
- Embedded JTAG Solutions
- |
- Seminar
Embedded JTAG Solutions Seminar für Einsteiger
07745 Jena, Deutschland- 04. Dez '25 09:00 - 16:30 Uhr
- |
- Embedded JTAG Solutions
- |
- Seminar