Aufzeichnungen unserer vergangenen Web-Seminare der Embedded JTAG Solutions

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Sie haben hier die Auswahl der kurzen Mikro-Webcasts, die ca. zehn Minuten umfassen oder der einstündigen Webcasts, welche die Themen detailierter und ausführlicher betrachten.

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Webcasts zu unseren Embedded JTAG Solutions

Tiefgreifendes Wissen zu Herangehensweisen verschiedener Themenbereiche mit praktischen Anwendungen.

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Webcasts bei ElektronikPraxis

Weitere Webcasts aus dem Bereich Embedded JTAG Solutions finden Sie bei ElektronikPraxis:

Vergeuden Sie keine wertvolle Zeit für die Fehlersuche!

Webinar mit Elektronik Praxis

In diesem Webinar lernen Sie, wie Sie schnell und effizient Fehler finden, ohne dazu eine Inbetriebnahme-Software zu benötigen. Ganz nebenbei erfahren Sie alles zur geeigneten Teststrategie für die Produktion der neuen Hardware. Mit diesem Wissen kann die Time-to-Market Ihrer Produkte massiv reduziert werden.

10. Juni 2021

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Sechs Wege, Fehler in verdeckten Lötstellen aufzuspüren

Die Crux der verdeckten Lötstellen

Der Anteil verdeckter Lötstellen bei BGAs, QFNs oder LGAs auf Baugruppen steigt. Die Gefahr liegt darin, dass Fehler oft erst später auftreten – mit verheerenden Folgen. Das Webinar zeigt technische Lösungen zum Aufspüren dieser Fehler.

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JTAG/Boundary Scan auf das nächste Level gebracht

So sprengen Sie die Grenzen des Testens und Programmieren

Im Webcast erfahren Sie wie die integrierten Ressourcen zur Steuerung von Tests und Flash-Programmierung genutzt werden, und was diese noch mit dem einfachen strukturellen und parametrischen Test gemeinsam haben, wie Testgeschwindigkeiten erreicht werden können, welche die angestrebte Boardfunktion weit übersteigen und wie Programmierdaten in hoher Geschwindigkeit über Kommunikationsschnittstellen übertragen werden können.

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Embedded JTAG – Testen vom Prototypen bis zur Serie

Im Webcast erfahren Sie wie die Einführung geeigneter Embedded JTAG-Softwarelösungen in den Entwicklungszyklus und den Prototypentest die Überführung in die Serienproduktion vereinfacht und beschleunigt, wie sich schon im Prototypenstatus kritische Bereiche erkennen und analysieren lassen, und wie durch Nachnutzung und Anpassung bereits entwickelter Testschritte weitere Zeit- und Kostenersparnisse entstehen.

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Mikro-Webcasts

Hier finden Sie kurze, informative Webcasts mit kompaktem Wissen zu verschiedenen Themenbereichen und praktischen Anwendungen.

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BARCUDA VP230

Wenn Sie eine schlüsselfertige Lösung zum flexiblen Testen und Programmieren suchen, dann ist BARCUDA die perfekte Lösung. Das Stand-alone-System ist mit einer robusten VPC-Adapterschnittstelle ausgestattet und somit besonders gut konfigurierbar.

JULIET Series 3

JULIET ist ein professioneller, voll produktionstauglicher Desktop-JTAG/Boundary-Scan-Tester. Er kombiniert die gesamte Systemelektronik und die Prüflingsadaption per Wechselkassette in einem Komplettgerät.

RAPIDO RPS910

Planen Sie gerade Ihre neue Produktionslinie oder stecken inmitten der Produktentwicklung einer neuen elektronischen Baugruppe? Das Inline-System "RAPIDO" programmiert, testet und hält dabei den Linientakt hoch. Eine kurze Einführung dazu bekommen Sie in diesem Mikro-Webinar.

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Der neue Test Coverage Analyser

Der neue TCA gibt Ihnen eine verbesserte Auskunft darüber, welche Netze und Pins ausreichend und welche ungenügend getestet sind. Damit finden Sie die beste Prüfstrategie für Ihren Prüfling.

Fünf häufige Fehler beim Boundary Scan

Im Baugruppentest kann man viel verkehrt machen. Vor allem Anfänger, aber auch Erfahrene stolpern immer wieder über bestimmte Hindernisse. Mit diesen Tipps sparen Sie Zeit bei der Fehlersuche.

Baugruppendaten visualisieren

Testprogramme können schnell unübersichtlich sein. Unser neuer Viewer stellt komplexe Board- und Testinformationen einfach dar. Sie können Netze im Detail analysieren und mit sämtlichen Elementen interagieren. Dabei werden auch nur die Informationen angezeigt, die Sie wirklich benötigen - einfach überschaubar also!

Erweiterter Verbindungstest mit µP ohne Boundary Scan

Ein automatischer Verbindungstest, der sogenannte Emulation based Interconnection Test, erhöht die Testabdeckung Ihrer Baugruppe erheblich: durch die automatische Einbindung Ihrer Microcontroller, die gar nicht Boundary-Scan-fähig sind.

Das perfekte Hardware-Setup finden

Labor, Produktion oder Inline-Lösungen, Einzelbaugruppen oder Panel-Test: Wir haben Systeme für so ziemlich alle Anforderungen. Doch welche ist die passende Lösung für Sie? Das Mikro-Webinar gibt dabei eine Hilfestellung.