Here you have the choice of short micro-webcasts, which last about ten minutes, or one-hour webcasts, which look at the topics in more detail.
PIN-accurate fault diagnosis with smart FCT
The new features of version 4.10 will be presented in the webinar. The focus will be on the new smartTCA, the first AI-supported tool for detailed test coverage analyses, the revised tester configuration and the addition of new navigation and display options to ViPX.
In this webinar, we will show you how you can find faults quickly and effectively - including precise details of the affected component and even down to the faulty pin.
You will learn how you can create comprehensive and high-performance test applications using exist-ing FPGAs already on your boards, and which test and programming applications can be created using ChipVORX.
How can the limits of EJS testing be extended with the help of various additional modules? Available modules, realisable test solutions and the integration of these modules into existing test systems are presented.
The webinar explains how to solve PCBA testing challenges with existing test instruments, offering solutions for optimal test coverage and simple debugging for all experience levels.
Bringing new designs to market – efficiently
Handling multi panel PCB assemblies in production
Typical chicken-egg dilemmas
New features of the SYSTEM CASCON 4.9
Detect functional faults across processes - Theory and fundamentals of functional test
Improved fault coverage, test efficiency and programming speed - Turn key solutions in production
Discover Smart Speed Boosters. Whether serial flashes (eMMC, I²C, SPI), parallel flashes (NAND, NOR) or complex devices (processor, controller, FPGA, CPLD). Learn more about the new possibilities of versatile programming with Embedded Instruments!
based on application examples
6 ways to detect defects in hidden solder joints
Targeted localisation of invisible structural defects: Structure Test Theory
Fault detection through embedded instruments and digital twins. Strategic Technology Information
6 ways to detect defects in hidden solder joint
Two proven and complementary test methods combined to reduce cost and enhance defect coverage - Automatic Test Equipment in Production
New features: Workbench/GUI, ViPX, IEEE1687 iJTAG Generator, Flash Generator, IEEE1581 DDR4, Switches & Level-Shifters, Latches
Save weeks of development time on every new project
IEEE 1687 - iJTAG, Artificial Intelligence, Remote Support, NAND Flash, RS232 Control, Power Supply
New technology levels with Boundary Scan plus and IP plus. Boundless test and programming applications
Boardfehler schnell erkennen mit smartFKT (FCT). Pin-genaue Fehlerdiagnose.
Der vielseitige Universal Programmer und seine Integrationsmöglichkeiten
Im Webinar werden neue Features der Version 4.10.0 vorgestellt. Im Fokus stehen der neue smartTCA, das erste KI-gestützte Werkzeug zur detaillierten Testabdeckungsanalyse, die überarbeitete Testerkonfiguration sowie die Erweiterung von ViPX um neue Navigations- und Darstellungsoptionen.
Wie sie umfangreiche und performante Testinstrumente für FPGAs verwenden können und welche Test- und Programmiermöglichkeiten durch ChipVORX ermöglicht werden, wird im Webinar präsentiert.
Wie können die Grenzen der EJS-Testmöglichkeiten mit Hilfe von unterschiedlichen Zusatzmodulen erweitert werden? Vorgestellt werden verfügbare Module, realisierbare Testlösungen und die Einbindung dieser Module in bestehende Testsysteme.
Anhand von aktuell umgesetzten Beispielprojekten wird erläutert, wie bestimmte Einheiten auf einer Baugruppe, die sonst nur mit großem Aufwand oder zusätzlichen Mechanismen, in Form von spezifischer Hard- und Software, trotzdem einfach und effektiv getestet werden können.
Im Webinar lernt der Teilnehmer, wie sich mit dem innovativen Produktionsprogrammer FlashFOX mehrere Bausteine auf einem Prüfling oder mehrere Prüflinge parallel programmieren lassen. Auf diese Weise lassen sich mehr Daten in kürzerer Zeit programmieren.
Neue Designs effektiv in Betrieb nehmen
FlashFOX
© Copyright Hüthig Verlag
Fortsetzung der Reihe "Auswahl optimaler Teststrategien"
Mit der richtigen Teststrategie auf die Überholspur
Brücken schlagen zwischen Entwicklung und Produktion
Entdecken Sie die Smart Speed Boosters. Programmierlösungen der nächsten Generation.
Die immer größeren Aufwände bei der Fehlererkennung können mit der Nutzung von funktionalen Testverfahren auf Basis von eingebetteten Instrumenten verbessert werden. Aufgezeigt werden die Theorie des Funktionstests, EJS Technologien, sowie Testapplikationen und Fallstudien.
Verbesserte Fehlerabdeckung, Testeffizienz und Programmiergeschwindigkeit mit den Embedded JTAG Turnkey Solutions.
Neue Features der Systemsoftware SYSTEM CASCON 4.8.1
anhand von Applikationsbeispielen
Die Zukunft im Fokus: Embedded JTAG Solutions & Inspektionslösungen zu AOI, AXI, SPI
Unsichtbare Strukturfehler gezielt lokalisieren: Strategische Technologie-Informationen
Strategische Technologie-Informationen
Neue Features: Workbench/GUI Fenster, ViPX, IEEE 1687 iJTAG Generator, Flash Generator, IEEE 1581 DDR4, Switches & Level-Shifters, Latches
Automatisches Testequipment in der Produktion: Testverfahren, interaktiver Test, Integration in ICT & FPT
Neue Features der Systemsoftware SYSTEM CASCON 4.7.1. Inhalte: IEEE 1687 - iJTAG, Künstliche Intelligenz, Remote Support, NANS Flash, RS232 Ansteuerung, Power Supply
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Pingenaue Fehlerdiagnose Ihrer Elektronik ohne Firmware
Die Fehlersuche im elektrischen Test ist oft komplex und zeitaufwendig, da Funktions- und End-of-Line-Tests unzureichende Diagnosen liefern. Dieses Webinar zeigt, wie Sie Fehler in Sekunden und ohne Firmware effizient erkennen können.
15. Oktober 2024
Anbieter und Registrierung über ► ElektronikPraxis
Vergeuden Sie keine wertvolle Zeit für die Fehlersuche!
In diesem Webinar lernen Sie, wie Sie schnell und effizient Fehler finden, ohne dazu eine Inbetriebnahme-Software zu benötigen. Ganz nebenbei erfahren Sie alles zur geeigneten Teststrategie für die Produktion der neuen Hardware. Mit diesem Wissen kann die Time-to-Market Ihrer Produkte massiv reduziert werden.
10. Juni 2021
Anbieter und Registrierung über ► Elektronik Praxis
Sechs Wege, Fehler in verdeckten Lötstellen aufzuspüren
Die Crux der verdeckten Lötstellen
Der Anteil verdeckter Lötstellen bei BGAs, QFNs oder LGAs auf Baugruppen steigt. Die Gefahr liegt darin, dass Fehler oft erst später auftreten – mit verheerenden Folgen. Das Webinar zeigt technische Lösungen zum Aufspüren dieser Fehler.
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BARCUDA VP230
If you are looking for a turnkey solution for flexible testing and programming, BARCUDA is the perfect solution. The stand-alone system is equipped with a robust VPC adapter interface and is therefore particularly configurable.
JULIET Series 3
JULIET is a professional, fully production-ready desktop JTAG/Boundary Scan tester. It combines the entire system electronics and the test item adaptation via exchangeable cassette in one complete device.
RAPIDO RPS910
Are you currently planning your new production line or are you in the middle of product development for a new electronic assembly? Have you just reached the point of "test & programming"? The inline system "RAPIDO" programs, tests and keeps the line speed high.
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Test Coverage Analyser
The new TCA gives you improved information about which nets and pins are sufficiently and which are insufficiently tested. This helps you find the best testing strategy for your UUT.
Five common mistakes with Boundary Scan
You can make a lot of mistakes in the assembly test. Beginners in particular, but also experienced ones, stumble over certain obstacles again and again. These tips will save you time in troubleshooting.
Visualize assemblies data with ViPX
Test programmes can quickly become confusing. Our new viewer displays complex board and test information in a simple way. You can analyse networks in detail and interact with all elements. Only the information you really need is displayed - simply and easily manageable!
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