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Embedded JTAG Solutions
Lecture
JTAG / Boundary Scan project development from start to finish
Alexander Labrada, GÖPEL electronic GmbH
Workshop
From the laboratory to production - project transfer and troubleshooting
Sven Haubold, GÖPEL electronic GmbH
Inspection Solutions
5 Sessions about Inspection Solutions
Embedded JTAG Solutions
Lecture
System integration in ICT, FPT and FKT
Alexander Beck, GÖPEL electronic GmbH
Workshop
Turnkey solutions for production - JULIET, BARCUDA and RAPIDO
Marc Fuchs & Falk Steingroewer, GÖPEL electronic GmbH
Test Convention connect
Missed the October 2021 digital conference?
Recordings from 27th September until 7th October 2021
Learn more about technological advances, new system developments, and problem solving around electronic component testing and inspection.
Register here free of charge to view the recordings of Test Convention connect and get more details on test solutions in electronics. Test Convention connect is the digital event on artificial intelligence in industrial test engineering, embedded test, programming and other electronics test technologies. These topics were discussed in 90-minute web sessions followed by a workshop recorded in the year 2020.
Embedded JTAG Solutions vom 27.09. - 07.10.2021
Systemintegrationen in ICT, FPT und FKT
Vortrag
Systemintegrationen in ICT, FPT und FKT
Alexander Beck, GÖPEL electronic GmbH
Workshop
Komplettlösungen für die Produktion - JULIET, BARCUDA und RAPIDO
Marc Fuchs & Falk Steingroewer, GÖPEL electronic GmbH
SYSTEM CASCON 4.8.0 - Übersicht der neuen Features
Vortrag
SYSTEM CASCON 4.8.0 - Übersicht der neuen Features
Jan Heiber, GÖPEL electronic GmbH
Workshop
SYSTEM CASCON 4.8.0 - Ein Blick in die Details
Ricardo Schmidt, GÖPEL electronic GmbH
JTAG/Boundary Scan Projektentwicklung von Anfang bis Ende
Vortrag
JTAG/Boundary Scan Projektentwicklung von Anfang bis Ende
Alexander Labrada, GÖPEL electronic GmbH
Workshop
Vom Labor in die Produktion - Projektüberführung und Troubleshooting
Sven Haubold, GÖPEL electronic GmbH
Die nächste Generation der Prozessor Emulation - JEDOS II
Vortrag
Die nächste Generation der Prozessor Emulation - JEDOS II
Ricardo Wenzel, GÖPEL electronic GmbH
Workshop
Prozessor Emulation - Wege und Möglichkeiten für Test und Programmierung
Martin Kögler, GÖPEL electronic GmbH
Inspektionslösungen (AOI · AXI · SPI · IBV) vom 27.09. - 07.10.2021
Von der Bestückkontrolle bis zur Lötstellenprüfung - Smarte und ganzheitliche Inspektionslösungen im THT-Prozess
Vortrag
Von der Bestückkontrolle bis zur Lötstellenprüfung - Smarte und ganzheitliche Inspektionslösungen im THT-Prozess
Dr. Jörg Schambach, GÖPEL electronic GmbH
Der schnelle Weg zum AOI-Programm - mit Musterbaugruppe oder Digitalem Zwilling?
Vortrag
Der schnelle Weg zum AOI-Programm - mit Musterbaugruppe oder Digitalem Zwilling?
Jens Kokott, GÖPEL electronic GmbH
Einsatz und Parametrierung von 3D-Messfunktionen auf SMD- und THT-Baugruppen
Vortrag
Einsatz und Parametrierung von 3D-Messfunktionen auf SMD- und THT-Baugruppen
Jens Kokott, GÖPEL electronic GmbH
AXI Systeme zur Erhöhung der Prüfabdeckung - Möglichkeiten und Grenzen
Vortrag
AXI Systeme zur Erhöhung der Prüfabdeckung - Möglichkeiten und Grenzen
Andreas Türk, GÖPEL electronic GmbH
Workshop
AXI Systeme in der Praxis - Hardware und Software
Andreas Türk, GÖPEL electronic GmbH