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Schnittstellentester für modernste Bus-Interfaces

Test-Erweiterung für Labor und Produktion

Der  SCANFLEX II Interface Tester Master (SFX II ITM) repräsentiert  eine neue Generation von Schnittstellentester im Rahmen der Embedded JTAG Solutions Hardware-Plattform SCANFLEX II. Das neue Erweiterungsmodul zielt insbesondere auf den Test von Schnittstellen im Labor und in der Produktion ab.

Die Lösung basiert auf einer Multi-Core Architektur in Kombination von Prozessor und FPGA und ermöglicht eine signifikante Verbesserung der Testtiefe im Bereich modernster Bus-Interfaces. Dazu verfügt der Interface Test Master über 8 unabhängige und frei konfigurierbare ITMC-Slots zum Aufstecken von sogenannten ITM-Cards (ITMC). Durch diese Offenheit können unterschiedlichste Schnittstellen auf entsprechende Eigenschaften systematisch getestet werden - beginnend bei einfachen Varianten wie RS232, I2C und SPI bis hin zu komplexeren Interfaces wie USB, LAN und Media-Verbindungen. Auch der simultane Schnittstellentest an mehreren Prüflingen wird unterstützt. Damit setzt diese Lösung neue Maßstäbe in Bezug auf Modularität, Flexibilität und Leistungsfähigkeit.

Die Ansteuerung des SFX II ITM/8  erfolgt primär über eine LAN-Verbindung zum SFX II-Controller, sie kann jedoch mit eingeschränktem Funktionsumfang auch über ein UART-Interface (RS232) oder einen IEEE1149.1 TAP-Anschluss erfolgen. Der Interface Test Master kann auch Stand-alone betrieben werden. Hierfür bietet er einen integrierten Web Service,  basierend auf der Web Service Description Language (WSDL).

Durch die flexible Ansteuerung  und  die universelle Slot-Technologie lässt sich das SFX II ITM/8 an das konkrete Testszenario des Anwenders perfekt anpassen. Dabei können auch mehrere ITM zum Einsatz kommen. Die Performance des Multi-Core  Systems ermöglicht parallele Schnittstellentests von bis zu acht Interfaces, bzw. Prüflingen.

Die Architektur des SFX II ITM ist optimiert für den direkten Einbau in Fixtures und die einfache Signalzuführung und Verdrahtung. Dadurch wird auch die Verbindung zum Prüfling optimiert.

Im Rahmen der SCANFLEX II-Architektur bietet das ITM die Möglichkeit, Interfacetests mit anderen Prozeduren wie JTAG/Boundary Scan, Processor Emulation Test, FPGA Assisted Test oder Flash Programmierung nahtlos auf einer Plattform zu kombinieren und dadurch die Testtiefe und die Prozesseffektivität deutlich zu steigern. 

Created by Matthias Müller | |   Embedded JTAG Solutions
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Schnittstellentester SFX II ITM/8