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Test Coverage Analyzer für erhöhte Testabdeckung
Flächendeckende Analyse
Der Test Coverage Analyzer ist ein leistungsfähiges Werkzeug in SYSTEM CASCON. Mit zahlreichen Details werden die erreichte Testabdeckung und mögliche Testlücken präsentiert. Der TCA gibt Ihnen somit eine umfangreiche Auskunft darüber, welche Netze und Pins ausreichend und welche ungenügend getestet sind.
Die intelligente Ergänzung zum TCA in SYSTEM CASCON ist der smartTCA. Durch den Einsatz von Künstlicher Intelligenz wird der Vorbereitungsprozess der Analyse der Testabdeckung automatisiert. Nach dem Einlesen der CAD- oder Boarddaten unterstützt das smarte Feature den Anwender von der Klassifizierung der elektronischen Bauteile bis hin zum Anlegen der Tests und spart dadurch erheblich Zeit und Aufwand.
Die KI erkennt die Bausteinstrukturen und die Architektur des Boards und kalkuliert die theoretisch mögliche, geschätzte Testabdeckung auf Pin, Netz und Device-Level.
Highlights Test Coverage Analyzer
- Testgruppen-Definition: Sie können genau definieren, ab wann ein Element als getestet gilt, und welche Attribute dafür notwendig sind.
- Erweiterte TCA-Attribut-Basis: Durch Eigenschaften wie Level (High/Low), Direction (In/Out) oder Speed (Dynamic, Static, Functional, Stress) erkennen Sie jederzeit, wie umfangreich ein Element getestet wurde.
- Abbildung von Emulationstechnologien: VarioTAP, ChipVORX/SI, JEDOS und andere Technologien werden nun im neuen TCA abgebildet.
- Verbesserte Aussage durch Nachbarschaftsanalyse: Die Nachbarschaft eines Elements wird identifiziert und analysiert. Dadurch wird die Test Coverage-Genauigkeit deutlich gesteigert, da bspw. Kurzschlüsse nur zwischen benachbarten Pins betrachtet werden.
- Vergleichen von Test Coverage-Ergebnissen: Sie erkennen direkt, welchen Beitrag zur Testabdeckung die unterschiedlichen Testprogramme beitragen.
- Import externer Testabdeckungsinformationen: Lassen Sie Informationen von anderen Testsystemen (z.B. Flying-Probe-Tester, In-Circuit-Tester) oder Inspektionssystemen (z.B. AOI, AXI oder SPI) in die Analyse einfließen und erhalten Sie noch genauere Aussagen über die Testabdeckung Ihres Boards.
- Hierarchische Visualisierung: Sie können den Grad der Übersichtlichkeit, bzw. der Details jederzeit anpassen.
Maximale Zeitersparnis mit smartTCA
- Automatisierte Bauteil- und Netzklassifizierung durch KI
- Zuordnung von Bibliotheksmodellen
- Erkennung von Bausteinstrukturen und Board-Architekturen
- Generierung von Pseudobibliotheksmodellen für Testgeneratoren der Software SYSTEM CASCON
- Automatische Erstellung theoretischer Tests (z.B. Infrastruktur-, Interconnection-, RAM- und Flash-Tests)
- Ausgabe der theoretisch möglichen geschätzten Testabdeckung auf Pin-, Netz- und Device-Level
- Manuelle Korrektur und Verfeinerung der Daten durch den Anwender für präzisere Ergebnisse
Das TCA-Tool in SYSTEM CASCON bietet Ihnen einen optimalen Ansatz zur Analyse der Testabdeckung des Prüflings. Damit lassen sich effektiv Problemstellen (z.B. durch ungenügende Tests) oder mögliche Zeitersparnisse (z.B. durch zu viele Tests) aufdecken.
Durch Verwendung von Filtern und umschaltbaren Templates für Testgruppen-Definitionen können Sie den Fokus der Analyse blitzschnell ändern. Mit wenigen Klicks erfahren Sie nicht nur was getestet wurde, sondern auch wie.
Mehr Informationen
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