Nach dem Einlesen der Prüflingsdaten und dem Modellieren einzelner Bauelemente ist SYSTEM CASCON in der Lage komplette Testsequenzen automatisch zu generieren. Je nach Bauteiltyp oder gewünschter Applikation werden unterschiedliche Testgeneratoren (ATPG – Automated Test Program Generator) verwendet.
Der Zugriff auf FLASH-Komponenten, sowie Standardschnittstellen, wie I2C, erfolgt mit Hilfe des Automated FLASH Program Generators (AFPG). Die Anwenderoberfläche bietet dem Nutzer komplexe Aktionen, zum Beispiel:
Damit wird der Zugriff auf extern angeschlossene FLASH-Bausteine ermöglicht.
VarioTAP- und ChipVORX-Zugriffe werden ebenfalls mit Hilfe mächtiger Generatoren unterstützt. Die Automated VarioTAP Test Generatoren (AVTG), beziehungsweise Chip Assisted Test Werkzeuge ermöglichen Anwendern die Verwendung komplexer Mikrocontroller- oder FPGA-Instrumente zur Erhöhung der Testabdeckung und/oder Performance.
Dank der SYSTEM CASCON Testgeneratoren sind keine Programmierkenntnisse zur Umsetzung umfangreicher Test- und Programmierapplikationen nötig. Sämtliche Routinen und Informationen sind in den CASCON Modellen hinterlegt und werden durch die Software mit den Prüflingsdaten verknüpft. Die Testgeneratoren erzeugen auf Basis der hinterlegten Daten den CASLAN Quellcode. Anwendern stehen zudem Werkzeuge zur Verfügung, um den generierten Code zu modifizieren und prüflingsspezifische Anforderungen anzupassen.
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