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Erweiterungen für Embedded JTAG Solutions

SCANFLEX II Interface Tester Master (SFX II ITM)

SCANFLEX II Interface Tester Master (SFX II ITM)
Schnittstellentester SFX II ITM/8

Ihre Lösung für den Test von Schnittstellen

Im Rahmen der innovativen JTAG/Boundary Scan Hardware Plattform SCANFLEX II hat GÖPEL electronic einen Schnittstellentester entwickelt. Der SCANFLEX II Interface Tester Master (SFX II ITM) ermöglicht Ihnen eine bedeutende Verbesserung der Testtiefe im Bereich modernster Bus-Interfaces.

Der Interface Test Master verfügt über acht unabhängige und frei konfigurierbare ITMC-Slots zum Aufstecken von ITM-Cards (ITMC).
Mit den austauschbaren ITM-Cards passen Sie das Modul an Ihr konkretes Testszenario an und testen unterschiedlichste Schnittstellen auf ihre Eigenschaften - beginnend bei einfachen Varianten, wie RS232, I2C und SPI bis hin zu komplexeren Interfaces, wie USB, LAN und Media-Verbindungen. Die Performance des Multi-Core-Systems ermöglicht parallele Schnittstellentests von bis zu acht Interfaces, bzw. Prüflingen. Die Architektur des SFX II ITM/8 ist optimiert für den direkten Einbau in Fixtures und einfache Signalzuführung und Verdrahtung. Dadurch wird auch die Verbindung zum Prüfling optimiert.

Die Ansteuerung des SFX II ITM/8 erfolgt primär über eine LAN Verbindung zum SFX II Controller, alternativ über ein UART-Interface (RS232) oder einen IEEE1149.1 TAP-Anschluss. Über den Betrieb im Rahmen von SCANFLEX II hinaus kann der Interface Test Master auch stand-alone betrieben werden. Hierfür bietet er einen integrierten Web Service basierend auf der Web Service Description Language ( WSDL).

  • 8 frei belegbare Ports für den Anschluss von ITMC (INTERFACE TEST MASTER CARD)
  • automatische Erkennung und Konfiguration der ITMCs
  • Ansteuerung durch GBit LAN und API
  • externe Stromversorgung (5 V) erforderlich
  • ITM-Cards nicht im Lieferumfang enthalten

CION Module™

CION Module sind externe Boundary-Scan-Erweiterungen der Prüflinge und basieren auf dem ebenfalls von GÖPEL electronic entwickelten Interface-Chip CION™. Sie werden seriell über einen TAP angesteuert und sind in der Lage, periphere I/O, Steckverbinder, Backplanes, Sockel etc. zu testen.

Zur Vergrößerung der Kanalzahl können auch mehrere Module gleicher oder unterschiedlicher Größe problemlos kaskadiert werden. Derzeit existieren CION Module in vier verschiedenen Versionen.

Versionen der CION Module

  • Standard - zur Integration in Testfixtures
  • für DIMM-Interfaces
  • Slot - als konfigurierbare PCI-Karte
  • Card-Fixture - zum Test von PCI-Karten und Karten mit AMC-Interface