Scan Test mit SCANFLEX: Boundary Scan

Der Scan Test ist ein elektrisches Verfahren, um strukturelle Fehler in Schaltungen aufzuspüren. Boundary Scan bedeutet soviel wie "Testen in der Peripherie (at boundaries) eines Schaltkreises".

Um diese Art des Testens zu verwirklichen hat GÖPEL electronic das Prinzip des Zusammenwirkens von verschiedenen Hardwarekomponenten entwickelt:

Controller
I/O-Modul
TAP-Transceiver
Unit Under Test (UUT).

das Zusammenwirken von Controller, I/O-Modul, TAP-Transceiver und Unit Under Test (UUT). — Das Grundprinzip des Scan Test

Sämtliche Hardwareprodukte von GÖPEL electronic werden vollständig von einer JTAG/Boundary Scan Softwareplattform unterstützt - SYSTEM CASCON. Dabei sind die Testprogramme zwischen den Controllern prinzipiell kross-kompatibel.

SCANFLEX Architektur (Boundary Scan) — Die Systemarchitektur SCANFLEX bestehend aus den Komponenten Boundary-Scan-Controller, TAP-Transceiver und I/O-Modul

Boundary Scan3 MB
Grundlagen
Embedded JTAG Solutions25 MB
Überblick Technologien
Produktkatalog10 MB
Portfolio Embedded JTAG Solutions

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