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In-Circuit-Tester (ICT) mit Embedded JTAG Solutions

Integration von Embedded JTAG Solutions in In-Circuit-Tester (ICT)

Der In-Circuit-Test ist das momentan noch am weitesten verbreitete Verfahren, da man damit im Prinzip alle elektrisch detektierbaren Fehler finden kann. Der In-Circuit-Test wird allerdings mehr und mehr durch Zugriffsschwierigkeiten limitiert, da die Bauteile komplexer und die Abstände geringer werden. Embedded JTAG Solutions hingegen hat keine Zugriffsbeschränkungen. Eine Kombination des In-Circuit-Test mit Embedded JTAG Solutions ist dann vorteilhaft, wenn der mechanische Zugriff eingeschränkt oder auch nicht genügend JTAG/Boundary Scan-fähige Bauteile auf der Baugruppe zu finden sind.

Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
03641-6896-732 Fon

Vorteile der Integration in In-Circuit-Tester

sehr schnelles Gesamtsystem bestehend aus Embedded JTAG Solutions und In-Circuit-Tester

sehr hohe Fehlerabdeckung auch bei hochkompakten Flachbaugruppen

Reduzierung der Kosten für den Nadelbettadapter

einfache Testprogrammerstellung, da jedes Testverfahren für seine Kernkompetenzen genutzt wird

Integrieren Sie Embedded JTAG Solutions in Ihr System

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Serie 42x/52x von In-Circuit-Testern der Firma Cobham.

Mit dieser Embedded JTAG Solutions Integration steht den Anwendern eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus ohne zusätzliche Kontaktierung zur Verfügung.

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des Cobham In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich, Embedded JTAG Solutions Tests auf dem Adapter der Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Die integrierte Embedded JTAG Solutions Hardware besteht aus einem PCI-Express-Controller und einem TAP-Transceiver mit TAP Interface Card. 

Integrationsbeispiel für Cobham Tester 4200

Kombination aus Cobham Tester 4200 mit SCANFLEX-Hardware:

  • Controller SFX/PCIe1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/FXT
  • TAP Interface Card TIC02/SR
  • Software: CASCON GALAXY für Cobham

Embedded JTAG Solutions Integration in Digitaltest MTS 30/180/300/888

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die MTS-Serie von In-Circuit-Testern der Firma Digitaltest.

Die integrierte Embedded JTAG Solutions Hardware besteht aus einem PCI-Express-Controller, einem Fixture TAP Transceiver und der TAP Interface Card (TIC).

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des Digitaltest In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich, Embedded JTAG Solutions Tests auf dem Adapter der Digitaltest-Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Integrationsbeispiel für Digitaltest Tester MTS300

Boundary Scan Integration in Digitaltest MTS300

Kombination aus Digitaltest Tester MTS300 mit SCANFLEX Hardware:

  • Controller SFX/PCIe1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP6/MTS-FXT/VAC
  • TAP Interface Card TIC02/SR
  • Software: CASCON GALAXY für Digitaltest ICT

Embedded JTAG Solutions Integration in die Keysight 3070 Serie

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Serie 3070 von In-Circuit-Testern der Firma Keysight Technologies.

Die integrierte Embedded JTAG Solutions Hardware besteht aus einem PCI-Express-Controller und einem TAP Transceiver.

Integrationsbeispiel für die 3070 Serie von Keysight Technologies

Kombination aus Keysight Tester 3070/i5000 mit SCANFLEX Hardware:

  • Controller SFX/PCIe1149
  • SFX-TAP4/3070-PIC für den Pin Slot
  • Software: CASCON GALAXY für Keysight UCM

 

Keysight 3070 - Utility Card Module UCM3070/x

Die UCM3070/x ist eine professionelle Embedded JTAG Solutions Option, welche speziell für die Utility Card von Keysight Technologies entwickelt wurde. 

  • Embedded JTAG Solutions Lösung für die Utility Card von Keysight in den Medalist ICT
  • Offizell von Keysight und GÖPEL electronic validierte Systemintegration
  • Einfache und voll dokumentierte SYSTEM CASCON™-Schnellinstallation
  • Erweiterte Selbsttestfunktionen für einfachen Systemcheck
  • SCANBOOSTER™-Architektur auf Basis von USB 2.0 Highspeed
  • Zwei TAPs, 8 parallele PIPs und zwei optionale analoge Kanäle
  • On-Board-Powermanagement - Stromversorgung von Keysight

Embedded JTAG Solutions Integration in die Rohde & Schwarz Serie TSVP

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Rohde & Schwarz Serie TSVP von Multikonfigurations bzw. Multifunktions-ATE Systemen.

Die integrierte Embedded JTAG Solutions Hardware für die TSVP-Systeme besteht aus einem PXI Compact-Controller mit Paddle Card und der TAP Interface Card.

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des Rohde & Schwarz In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich, Embedded JTAG Solutions Tests auf dem Adapter der Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen. 

Integrationsbeispiel für TSVP Tester von Rohde & Schwarz

Embedded JTAG Solutions Integration in TSVP Tester

Kombination des PXI-Multifunktionstesters der Serie TSVP von Rohde & Schwarz mit SCANFLEX Hardware

  • Controller SFX/PXI1149/C4-FXT
  • TAP Interface Card TIC02/SR
  • Software: CASCON GALAXY für Rohde & Schwarz 

Embedded JTAG Solutions Integration in Seica Serie Compact SL/TK/Multi

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die In-Circuit-Tester Serie Compact SL/TK/Multi der Firma Seica.

Mit dieser Embedded JTAG Solutions Integration stehen den Anwendern eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus ohne zusätzliche Kontaktierungen zur Verfügung.

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des Seica In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich, Embedded JTAG Solutions Tests auf dem Adapter der Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Die integrierte Embedded JTAG Solutions Hardware besteht aus einem PCI-Express-Controller, einem TAP-Transceiver mit TAP Interface Card und einem I/O Modul. 

Integrationsbeispiel für ICT-Tester Seica Compact SL/TK/Multi

Kombination aus Seica Tester Compact SL/TK/Multi mit SCANFLEX Hardware

  • Controller SFX/PCIe1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/FXT
  • I/O Modul SFX-5704
  • TAP Interface Card TIC02/SR
  • Software: CASCON GALAXY für Seica Compact

Embedded JTAG Solutions Integration in die SPEA Serie 3030

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die 3030-Serie von In-Circuit-Tester Serie der Firma SPEA.

Die integrierte Embedded JTAG Solutions Hardware besteht aus einem PCI-Controller, einem TAP Transceiver mit TAP Interface Card (TIC).

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des SPEA In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich Embedded JTAG Solutions Tests auf dem Adapter der SPEA-Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Integrationsbeispiel für SPEA 3030

Kombination aus SPEA Tester 3030 mit SCANFLEX-Hardware:

  • Controller SFX/ASL1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/FXT
  • TAP Interface Card TIC02/SR
  • Software: CASCON GALAXY für SPEA 3030 

Embedded JTAG Solutions Integration in Teradyne Serie TSSE/Spectrum 88xx/TS12x LH/LX/TSi052

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Spectrum-Serie von In-Circuit Testern der Firma Teradyne.

Die integrierte Embedded JTAG Solutions Hardware besteht aus einem PCI-Express-Controller und einem TAP Transceiver mit TAP Interface Cards (TIC).

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des TERADYNE In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich Embedded JTAG Solutions Tests auf dem Adapter der TERADYNE-Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Integrationsbeispiel für Teradyne Testers 88xx/Spectrum/TSSE

Kombination aus Teradyne Tester mit SCANFLEX Hardware 

  • Controller SFX/PCIe1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/88x-FXT
  • TAP Interface Card TIC02/SR
  • Software: CASCON GALAXY Teradyne Spectrum

 

TERADYNE Tester TestStation TS12x LH/LX und ehemaliger Genrad-Tester Serie 228x

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Serie TestStation von In-Circuit Testern der Firma Teradyne.

Integrationsbeispiel für Teradyne Testers TS12x/TSLH/TSL/GR228x

Kombination aus Teradyne Tester mit SCANFLEX Hardware

  • Controller SFX/PCIe1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/228x-FXT
  • TAP Interface Card TIC02/SR
  • Software: CASCON GALAXY Teradyne Teststaion

 

TERADYNE Tester TestStation TSi052

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Serie TestStation TSi052 von In-Circuit Testern der Firma Teradyne.

Integrationsbeispiel für Teradyne Testers TSi052

Kombination aus Teradyne Tester TSi052 mit SCANFLEX Hardware

  • Controller SFX/PCIe1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP6/FXT
  • TAP Interface Card TIC022/SR
  • Software: CASCON GALAXY für TSi
Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
03641-6896-732 Fon