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In-Circuit-Tester (ICT) mit Embedded JTAG Solutions

Integration von Embedded JTAG Solutions in In-Circuit-Tester (ICT)

Der In-Circuit-Test ist das momentan noch am weitesten verbreitete Verfahren, da man damit im Prinzip alle elektrisch detektierbaren Fehler finden kann. Der In-Circuit-Test wird allerdings mehr und mehr durch Zugriffsschwierigkeiten limitiert, da die Bauteile komplexer und die Abstände geringer werden. Embedded JTAG Solutions hingegen hat keine Zugriffsbeschränkungen. Eine Kombination des In-Circuit-Test mit Embedded JTAG Solutions ist dann vorteilhaft, wenn der mechanische Zugriff eingeschränkt oder auch nicht genügend JTAG/Boundary Scan-fähige Bauteile auf der Baugruppe zu finden sind.

Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
+49 3641 6896 701 Fon

Vorteile der Integration in In-Circuit-Tester

sehr schnelles Gesamtsystem bestehend aus Embedded JTAG Solutions und In-Circuit-Tester

sehr hohe Fehlerabdeckung auch bei hochkompakten Flachbaugruppen

Reduzierung der Kosten für den Nadelbettadapter

einfache Testprogrammerstellung, da jedes Testverfahren für seine Kernkompetenzen genutzt wird

Boundary Scan mit ICT

Zusätzliche Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene

Speziell konzipierte Integrationspakete in verschiedenen Leistungsklassen enthalten eine auf das ATE (Automatic Test Equipment) abgestimmte Hardware- und Softwarekonfiguration. Die Funktionen der Softwareplattform SYSTEM CASCON sind in die ATE-Software des In-Circuit-Tests integriert. Ein gemeinsamer Fehlerreport vervollständigt die Integrationslösung.

Mit dieser Kombination der Prüftechnologien verfügt der Anwender über eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus. Im Gegensatz zu einzelnen Systemen bietet die Integration deutliche Vorteile in Testabdeckung, Diagnosetiefe und Prozessoptimierung.

Integrieren Sie Embedded JTAG Solutions in Ihren In-Circuit-Tester

Die Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Serie 42x/52x von In-Circuit-Testern der Firma Cobham.

Mit dieser Embedded-JTAG-Solutions-Integration steht den Anwendern eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus ohne zusätzliche Kontaktierung zur Verfügung.

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des Cobham In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich, Embedded JTAG Solutions Tests auf dem Adapter der Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Die integrierte Embedded JTAG Solutions Hardware besteht aus einem PCI-Express-Controller und einem TAP-Transceiver mit TAP Interface Card. 

Integrationsbeispiel für Cobham Tester 4200

Kombination aus Cobham Tester 4200 mit SCANFLEX-Hardware:

  • Controller SFX/PCIe1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/FXT
  • TAP Interface Card TIC02/SR
  • Software: CASCON GALAXY für Cobham

Systemintegration in Digitaltest MTS 30/180/300/888

  • SCANFLEX Controller auf PCIe-Basis
  • TAP Transceiver als Einschubkarte für Vakuum- und Kabelschnittstellen
  • galvanische Trennung aller GÖPEL-Signale bei Inaktivität 
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • 6 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und ICT mit Hybridkarten
  • CASCON GALAXY für Digitaltest MTS ICT
  • Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in CITE

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in Digitaltest ICT

SCANFLEX Controller SFX-PCIe 1149

SCANFLEX TAP Interface Cards

Systemintegration in Keysight HP3070/3070/i3070/i5000

Variante 1 mit Utility Card

  • Plug-on Modul für Keysight’s Utility Card
  • 2 single ended TAPs für JTAG

Variante 2 auf Basis von PCI Express

  • SCANFLEX Controller auf PCIe-Basis
  • TAP Transceiver als Einschubkarte oder Performance Port
  • 4 single ended TAPs für JTAG
  • galvanische Trennung aller GÖPEL-Signale bei Inaktivität

Variante 3 auf Basis des SCANFLEX II CUBE

  • SFX II CUBE Controller als interne oder externe Lösung
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • CASCON GALAXY für Keysight 3070
  • Communication Link Software (CLS) für den Aufruf aus Testplan

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in Keysight ICT

SCANFLEX Controller SFX-PCIe 1149

SCANFLEX TAP Interface Cards

SCANFLEX II CUBE

Systemintegration in Rohde & Schwarz TSVP

  • SCANFLEX Controller/Transceiver auf PXI-Basis
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • 4 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und PMB-Matrix
  • analoge Messungen und Stimuli mit PSAM/PSU
  • CASCON GALAXY für Rohde & Schwarz TSVP

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in Rohde & Schwarz ICT

SCANFLEX Controller SFX-PXI 1149

SCANFLEX TAP Interface Cards

Systemintegration in Seica Compact

  • SFX II CUBE Controller mit SFX-5704 Messmodul
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und ICT
  • CASCON GALAXY für Seica Compact
  • Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in VIVA

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in Seica ICT

SCANFLEX II CUBE

SCANFLEX I/O Module

SCANFLEX TAP Interface Cards

Embedded JTAG Solutions Integration in die SPEA Serie 3030

Die Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die 3030-Serie von In-Circuit-Tester Serie der Firma SPEA.

Die integrierte Embedded JTAG Solutions Hardware besteht aus einem PCI-Controller, einem TAP Transceiver mit TAP Interface Card (TIC).

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des SPEA In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich Embedded JTAG Solutions Tests auf dem Adapter der SPEA-Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Integrationsbeispiel für SPEA 3030

Kombination aus SPEA Tester 3030 mit SCANFLEX-Hardware:

  • Controller SFX/ASL1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/FXT
  • TAP Interface Card TIC02/SR
  • Software: CASCON GALAXY für SPEA 3030 

Embedded JTAG Solutions Integration in Teradyne Serie TSSE/Spectrum 88xx/TS12x LH/LX/TSi052

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Spectrum-Serie von In-Circuit Testern der Firma Teradyne.

Die integrierte Embedded JTAG Solutions Hardware besteht aus einem PCI-Express-Controller und einem TAP Transceiver mit TAP Interface Cards (TIC).

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des TERADYNE In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich Embedded JTAG Solutions Tests auf dem Adapter der TERADYNE-Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Integrationsbeispiel für Teradyne Testers 88xx/Spectrum/TSSE

Kombination aus Teradyne Tester mit SCANFLEX Hardware 

  • Controller SFX/PCIe1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/88x-FXT
  • TAP Interface Card TIC02/SR
  • Software: CASCON GALAXY Teradyne Spectrum

 

TERADYNE Tester TestStation TS12x LH/LX und ehemaliger Genrad-Tester Serie 228x

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Serie TestStation von In-Circuit Testern der Firma Teradyne.

Integrationsbeispiel für Teradyne Testers TS12x/TSLH/TSL/GR228x

Kombination aus Teradyne Tester mit SCANFLEX Hardware

  • Controller SFX/PCIe1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/228x-FXT
  • TAP Interface Card TIC02/SR
  • Software: CASCON GALAXY Teradyne Teststaion

 

TERADYNE Tester TestStation TSi052

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Serie TestStation TSi052 von In-Circuit Testern der Firma Teradyne.

Integrationsbeispiel für Teradyne Testers TSi052

Kombination aus Teradyne Tester TSi052 mit SCANFLEX Hardware

  • Controller SFX/PCIe1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP6/FXT
  • TAP Interface Card TIC022/SR
  • Software: CASCON GALAXY für TSi

Embedded JTAG Solutions Integration in die TRI Serie TR5001

Die Hardwareplattform SCANFLEX II unterstützt die TR5001-Serie von In-Circuit-Tester Serie der Firma TRI.

Die integrierte Hardware besteht aus einem SCANFLEX II CUBE und VPC-Schnittstellenadapter mit SFX-gesteuerter Relaistrennung.

Ein Highlight dieser Integration ist die softwareseitige Ansteuerung der Testkanäle des TRI In-Circuit-Tester. Dadurch ist es möglich Embedded JTAG Solutions Tests auf dem Adapter der TRI-Maschine mit Interaktion zwischen Boundary Scan IC und In-Circuit Tester auszuführen.

Integrationsbeispiel für TR5001 

Kombination aus TRI Tester TR5001 mit SCANFLEX II-Hardware:

  • SFX II CUBE
  • SFX-TAP6/VPC (VPC-Schnittstellenadapter)
  • TAP Interface Card TIC02/SR
  • Software: CASCON GALAXY für TRI TR5001 

Anwendbare Technologien bei Integrationen

Embedded JTAG Solutions:

Boundary Scan
Boundary Scan
ChipVORX
IP-basierende Software-Technologie
VarioTAP
Prozessor Emulationstechnologie
Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
+49 3641 6896 701 Fon