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In-Circuit-Tester (ICT) mit Embedded JTAG Solutions

Integration von Embedded JTAG Solutions in In-Circuit-Tester (ICT)

Der In-Circuit-Test ist das momentan noch am weitesten verbreitete Verfahren, da man damit im Prinzip alle elektrisch detektierbaren Fehler finden kann. Der In-Circuit-Test wird allerdings mehr und mehr durch Zugriffsschwierigkeiten limitiert, da die Bauteile komplexer und die Abstände geringer werden. Embedded JTAG Solutions hingegen hat keine Zugriffsbeschränkungen. Eine Kombination des In-Circuit-Test mit Embedded JTAG Solutions ist dann vorteilhaft, wenn der mechanische Zugriff eingeschränkt oder auch nicht genügend JTAG/Boundary Scan-fähige Bauteile auf der Baugruppe zu finden sind.

Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
+49 3641 6896 701 Fon

Vorteile der Integration in In-Circuit-Tester

sehr schnelles Gesamtsystem bestehend aus Embedded JTAG Solutions und In-Circuit-Tester

sehr hohe Fehlerabdeckung auch bei hochkompakten Flachbaugruppen

Reduzierung der Kosten für den Nadelbettadapter durch Einsparen von Testpunkten

einfache Testprogrammerstellung, da jedes Testverfahren für seine Kernkompetenzen genutzt wird

Boundary Scan mit ICT

Zusätzliche Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene

Speziell konzipierte Integrationspakete in verschiedenen Leistungsklassen enthalten eine auf das ATE (Automatic Test Equipment) abgestimmte Hardware- und Softwarekonfiguration. Die Funktionen der Softwareplattform SYSTEM CASCON sind in die ATE-Software des In-Circuit-Tests integriert. Ein gemeinsamer Fehlerreport vervollständigt die Integrationslösung.

Mit dieser Kombination der Prüftechnologien verfügt der Anwender über eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus. Im Gegensatz zu einzelnen Systemen bietet die Integration von JTAG/Boundary Scan deutliche Vorteile in Testabdeckung, Diagnosetiefe und Prozessoptimierung.

Integrieren Sie Embedded JTAG Solutions in Ihren In-Circuit-Tester

Systemintegration in Digitaltest MTS 30/180/300/888

  • SCANFLEX Controller auf PCIe-Basis
  • TAP Transceiver als Einschubkarte für Vakuum- und Kabelschnittstellen
  • galvanische Trennung aller GÖPEL-Signale bei Inaktivität 
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • 6 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und ICT mit Hybridkarten
  • CASCON GALAXY für Digitaltest MTS ICT
  • Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in CITE

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in Digitaltest ICT

SCANFLEX Controller SFX-PCIe 1149

SCANFLEX TAP Interface Cards

Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in Keysight HP3070/3070/i3070/i5000 möglich.

Eigenschaften der Systemintegration in Keysight 3070

Variante 1 mit Utility Card

  • Plug-on Modul für Keysight’s Utility Card
  • 2 single ended TAPs für JTAG

Variante 2 auf Basis von PCI Express

  • SCANFLEX Controller auf PCIe-Basis
  • TAP Transceiver als Einschubkarte oder Performance Port
  • 4 single ended TAPs für JTAG
  • galvanische Trennung aller GÖPEL-Signale bei Inaktivität

Variante 3 auf Basis des SCANFLEX II CUBE

  • SFX II CUBE Controller als interne oder externe Lösung
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • CASCON GALAXY für Keysight 3070
  • Communication Link Software (CLS) für den Aufruf aus Testplan

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in Keysight ICT

SCANFLEX Controller SFX-PCIe 1149

SCANFLEX TAP Interface Cards

SCANFLEX II CUBE

Systemintegration in Rohde & Schwarz TSVP

  • SCANFLEX Controller/Transceiver auf PXI-Basis
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • 4 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und PMB-Matrix
  • analoge Messungen und Stimuli mit PSAM/PSU
  • CASCON GALAXY für Rohde & Schwarz TSVP

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in Rohde & Schwarz ICT

SCANFLEX Controller SFX-PXI 1149

SCANFLEX TAP Interface Cards

Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in Seica Compact SL/TK/Multi/Power/XL möglich.

Eigenschaften der Systemintegration in Seica Compact

  • SFX II CUBE Controller mit SFX-5704 Messmodul
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und ICT
  • CASCON GALAXY für Seica Compact
  • Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in VIVA

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in Seica ICT

SCANFLEX II CUBE

SCANFLEX I/O Module

SCANFLEX TAP Interface Cards

Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in SPEA 3030 Compact/Inline/Multimode/Multi Core möglich.

Eigenschaften der Systemintegration in SPEA 3030

  • SFX II CUBE Controller
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und ICT
  • CASCON GALAXY für SPEA 3030
  • Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in Leonardo

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in SPEA ICT

SCANFLEX II CUBE

SCANFLEX TAP Interface Cards

Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in Teradyne Spectrum und TestStation TSx möglich.

Eigenschaften der Systemintegration in Teradyne Teststation

  • SCANFLEX Controller auf PCIe-Basis
  • TAP Transceiver als Einschubkarte
  • galvanische Trennung aller GÖPEL-Signale bei Inaktivität 
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • 4 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • Variante mit 8 TAPs als “Single ended” Version
  • interaktive Tests mit optionalem CION Modul
  • CASCON GALAXY für Teradyne
  • Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in GR228x/Navigate
  • Unterstützung der TSx05x Serie im Linienbetrieb

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in Teradyne ICT Spectrum

Broschüre Integration in Teradyne TestStation ICT

SCANFLEX Controller SFX-PCIe 1149

SCANFLEX TAP Interface Cards

Systemintegration in TRI TR5001

  • SFX II CUBE Controller
  • Adapterkarte für ICT-Schnittstelle (z.B. VPC)
  • galvanische Trennung aller GÖPEL-Signale bei Inaktivität 
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • 6 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und ICT
  • CASCON GALAXY für TRI
  • Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in ETR5x

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in TRI ICT

SCANFLEX II CUBE

SCANFLEX TAP Interface Cards

Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in VIAVI 42/52/58xx möglich.

Eigenschaften der Systemintegration in VIAVI 58xx

  • SCANFLEX Controller/Transceiver auf PXI-Basis
  • differentielle Signalübertragung in den Adapter
  • 4 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und DTP-Karten
  • CASCON GALAXY für VIAVI

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in VIAVI ICT

SCANFLEX Controller SFX-PXI 1149

SCANFLEX TAP Interface Cards

Anwendbare Technologien bei Integrationen

Embedded JTAG Solutions:
Boundary Scan
Boundary Scan
ChipVORX
IP-basierende Software-Technologie
VarioTAP
Prozessor Emulationstechnologie
Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
+49 3641 6896 701 Fon