In-Circuit-Tester | ICT - GÖPEL electronic

Der In-Circuit-Test ist das momentan noch am weitesten verbreitete Verfahren, da man damit im Prinzip alle elektrisch detektierbaren Fehler finden kann. Der In-Circuit-Test wird allerdings mehr und mehr durch Zugriffsschwierigkeiten limitiert, da die Bauteile komplexer und die Abstände geringer werden. Embedded JTAG Solutions hingegen hat keine Zugriffsbeschränkungen. Eine Kombination des In-Circuit-Test mit Embedded JTAG Solutions ist dann vorteilhaft, wenn der mechanische Zugriff eingeschränkt oder auch nicht genügend JTAG/Boundary Scan-fähige Bauteile auf der Baugruppe zu finden sind.

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Frau Ulrike Ahlf

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Vorteile der Integration in In-Circuit-Tester

sehr schnelles Gesamtsystem bestehend aus Embedded JTAG Solutions und In-Circuit-Tester

sehr hohe Fehlerabdeckung auch bei hochkompakten Flachbaugruppen

Reduzierung der Kosten für den Nadelbettadapter durch Einsparen von Testpunkten

einfache Testprogrammerstellung, da jedes Testverfahren für seine Kernkompetenzen genutzt wird

Speziell konzipierte Integrationspakete in verschiedenen Leistungsklassen enthalten eine auf das ATE (Automatic Test Equipment) abgestimmte Hardware- und Softwarekonfiguration. Die Funktionen der Softwareplattform SYSTEM CASCON sind in die ATE-Software des In-Circuit-Tests integriert. Ein gemeinsamer Fehlerreport vervollständigt die Integrationslösung.

Mit dieser Kombination der Prüftechnologien verfügt der Anwender über eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus. Im Gegensatz zu einzelnen Systemen bietet die Integration von JTAG/Boundary Scan deutliche Vorteile in Testabdeckung, Diagnosetiefe und Prozessoptimierung.

Systemintegration in Digitaltest MTS 30/180/300/888
- SCANFLEX Controller auf PCIe-Basis
- TAP Transceiver als Einschubkarte für Vakuum- und Kabelschnittstellen
- galvanische Trennung aller GÖPEL-Signale bei Inaktivität
- differentielle Signalübertragung in den Adapter
- 6 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
- interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und ICT mit Hybridkarten
- CASCON GALAXY für Digitaltest MTS ICT
- Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in CITE
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.
⇒ Broschüre Integration in Digitaltest ICT
⇒SCANFLEX Controller SFX-PCIe 1149
Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in Keysight HP3070/3070/i3070/i5000 möglich.
Eigenschaften der Systemintegration in Keysight 3070
Variante 1 mit Utility Card
- Plug-on Modul für Keysight’s Utility Card
- 2 single ended TAPs für JTAG
Variante 2 auf Basis von PCI Express
- SCANFLEX Controller auf PCIe-Basis
- TAP Transceiver als Einschubkarte oder Performance Port
- 4 single ended TAPs für JTAG
- galvanische Trennung aller GÖPEL-Signale bei Inaktivität
Variante 3 auf Basis des SCANFLEX II CUBE
- SFX II CUBE Controller als interne oder externe Lösung
- differentielle Signalübertragung in den Adapter
- bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
- CASCON GALAXY für Keysight 3070
- Communication Link Software (CLS) für den Aufruf aus Testplan
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.
⇒ Broschüre Integration in Keysight ICT
⇒ SCANFLEX Controller SFX-PCIe 1149
⇒ SCANFLEX II CUBE
Systemintegration in Rohde & Schwarz TSVP
- SCANFLEX Controller/Transceiver auf PXI-Basis
- differentielle Signalübertragung in den Adapter
- 4 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
- interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und PMB-Matrix
- analoge Messungen und Stimuli mit PSAM/PSU
- CASCON GALAXY für Rohde & Schwarz TSVP
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.
⇒ Broschüre Integration in Rohde & Schwarz ICT
⇒ SCANFLEX Controller SFX-PXI 1149
Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in Seica Compact SL/TK/Multi/Power/XLmöglich.
Eigenschaften der Systemintegration in Seica Compact
- SFX II CUBE Controller mit SFX-5704 Messmodul
- differentielle Signalübertragung in den Adapter
- bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
- interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und ICT
- CASCON GALAXY für Seica Compact
- Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in VIVA
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.
⇒ Broschüre Integration in Seica ICT
⇒ SCANFLEX II CUBE
⇒ SCANFLEX I/O Module
Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in SPEA 3030 Compact/Inline/Multimode/Multi Core möglich.
Eigenschaften der Systemintegration in SPEA 3030
- SFX II CUBE Controller
- differentielle Signalübertragung in den Adapter
- bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
- interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und ICT
- CASCON GALAXY für SPEA 3030
- Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in Leonardo
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.
⇒ Broschüre Integration in SPEA ICT
⇒ SCANFLEX II CUBE
Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in Teradyne Spectrum und TestStation TSx möglich.
Eigenschaften der Systemintegration in Teradyne Teststation
- SCANFLEX Controller auf PCIe-Basis
- TAP Transceiver als Einschubkarte
- galvanische Trennung aller GÖPEL-Signale bei Inaktivität
- differentielle Signalübertragung in den Adapter
- 4 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
- Variante mit 8 TAPs als “Single ended” Version
- interaktive Tests mit optionalem CION Modul
- CASCON GALAXY für Teradyne
- Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in GR228x/Navigate
- Unterstützung der TSx05x Serie im Linienbetrieb
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.
⇒ Broschüre Integration in Teradyne ICT Spectrum
⇒ Broschüre Integration in Teradyne TestStation ICT
⇒ SCANFLEX Controller SFX-PCIe 1149
Systemintegration in TRI TR5001 Series II
- SFX II CUBE Controller
- Adapterkarte für ICT-Schnittstelle (z.B. VPC)
- galvanische Trennung aller GÖPEL-Signale bei Inaktivität
- differentielle Signalübertragung in den Adapter
- 6 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
- interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und ICT
- CASCON GALAXY für TRI
- Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in ETR5x
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.
⇒ Broschüre Integration in TRI ICT
⇒ SCANFLEX II CUBE
Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in VIAVI 42/52/58xx (ehemals IFR, Marconi, Aeroflex, Cobham) möglich.
Eigenschaften der Systemintegration in VIAVI 42xx/52xx
- SFX II CUBE Controller
- differentielle Signalübertragung in den Adapter
- bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
- CASCON GALAXY für VIAVI
Eigenschaften der Systemintegration in VIAVI 58xx
- SCANFLEX Controller/Transceiver auf PXI-Basis
- differentielle Signalübertragung in den Adapter
- 4 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
- interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und DTP-Karten
- CASCON GALAXY für VIAVI
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.
⇒ Broschüre Integration in VIAVI ICT
⇒ SCANFLEX II CUBE
⇒ SCANFLEX Controller SFX-PXI 1149