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Flying Probe Tester (FPT) mit Embedded JTAG Solutions

Integration von Embedded JTAG Solutions in Flying Probe Tester (FPT)

Das Flying Probe Testverfahren ist eine flexible Lösung, diskrete analoge Bauteile zu testen. Mit sehr präzisen Nadeln („Probes“) sind Flying Probe Tester für kleine und mittlere Produktionsvolumen interessant.

Der Nachteil vieler Flying Probe Tester, deren Abarbeitungsgeschwindigkeit, wird durch die Kombination mit JTAG/Boundary Scan weitestgehend angeglichen. Der Boundary Scan-Test deckt zudem die Prüfung im digitalen Bereich ab. 

Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
03641-6896-732 Fon

Vorteile der Integration in Flying Probe Tester (FPT)

schnelles Gesamtsystem

sehr hohe Fehlerabdeckung auch bei hochkompakten Flachbaugruppen

hohe Flexibilität, da kein prüflingsspezifischer Adapter benötigt wird

einfache Testprogrammerstellung, da jedes Testverfahren technologie-spezifisch angewendet wird

Integrieren Sie Embedded JTAG Solutions in Ihr System

Embedded JTAG Solutions Integration in die Acculogic FLS-Serien

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Flying Prober Serie FLS der Firma Acculogic.

Die integrierte Embedded JTAG Solutions Hardware besteht aus einem PCI-Express-Controller unud einem TAP-Transceiver mit TAP Interface Card.

Ein Highlight ist die Möglichkeit interaktive Tests zwischen Boundary Scan-IC und Flying Probes auszuführen. Dabei steuert die Software SYSTEM CASCON™ die Positionierung der Probes und nutzt die Funktionen zum Treiben und Messen der Signalpegel. 

Integrationsbeispiel für Acculogic FLS

Kombination aus Acculogic Tester mit SCANFLEX Hardware

  • Controller SFX/ASL1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP2/FXT
  • TAP InterfaceCard TIC022/SR
  • Software: CASCON GALAXY für Scorpion

Embedded JTAG Solutions Integration in Digitaltest MTS500.

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt den Flying Prober MTS500 der Firma Digitaltest.

Mit dieser Embedded JTAG Solutions Integration steht den Anwendern eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus ohne invasiven Nadelbettzugriff zur Verfügung.

Ein Highlight ist die Möglichkeit interaktive Tests zwischen Boundary-Scan-IC und Flying Probes auszuführen. Dabei steuert die Software SYSTEM CASCON die Positionierung der Probes und nutzt die Funktionen zum Treiben und Messen der Signalpegel.

Integrationsbeispiel für Digitaltest Tester MTS500

Kombination aus Digitaltest Tester MTS500 mit SCANFLEX-Hardware

  • Controller SFX/PCIe1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP6/MTS-FXT/CAB
  • TAP InterfaceCard TIC022/SR
  • Software: CASCON GALAXY für Digitaltest Condor

Integration in Polar Instruments Flying Probe Leiterplatten-Reparatursystem GRS500

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt das Flying Probe Leiterplatten-Reparatursystem GRS500 der Firma Polar Instruments.

Diese gemeinsam entwickelte Option ergänzt das Polar Instruments GRS500 Active Test Grundmodul um Boundary Scan Test. Stimulieren Sie Ihre Baugruppen mit Boundary Scan und nutzen Sie die Testnadel des GRS500 um Logikpegel, Schaltzustände und Signalformen von Schaltungsnetzen zu überprüfen.

Die integrierte Embedded JTAG Solutions Hardware besteht aus einem PCI-Controller mit TAP Transceiver und einem I/O Modul SFX-5704.

Ein Highlight ist die Möglichkeit interaktive Tests zwischen Boundary Scan-IC und Flying Probes auszuführen. Dabei steuert die Software SYSTEM CASCON™ die Positionierung der Probes und nutzt die Funktionen zum Treiben und Messen der Signalpegel. 

Integrationsbeispiel für Polar GRS550

Kombination aus Polar Instruments Leiterplatten-Reparatursystem GRS500 mit SCANFLEX Hardware:

  • Controller SFX/PCIe1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP2
  • I/O Modul SFX-5704
  • Software: CASCON GALAXY für Polar Instruments

Embedded JTAG Solutions Integration in Seica Pilot

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Flying Prober Serie Pilot/Aerial der Firma Seica.

Mit dieser Embedded JTAG Solutions Integration stehen den Anwendern eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus ohne zusätzliche Kontaktierungen zur Verfügung.

Ein Highlight ist die Möglichkeit interaktive Tests zwischen Boundary Scan-IC und Flying Probes auszuführen. Dabei steuert die Software SYSTEM CASCON™ die Positionierung der Probes und nutzt die Funktionen (des I/O-Moduls SFX-5704) zum Treiben und Messen der Signalpegel.  

Integrationsbeispiel für Flying Probe Tester Seica Pilot

Kombination aus Seica Tester Pilot/Aerial mit SCANFLEX Hardware

  • Controller SFX/ASL1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/CR
  • I/O Modul SFX-5704
  • Software: CASCON GALAXY für Seica Pilot

Embedded JTAG Solutions Integration in SPEA Serie 4020/4040/4050/4060/4080

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Flying Prober Serie 4020/4040/4050/4060/4080 Highline/Multimode der Firma SPEA.

Mit dieser Embedded JTAG Solutions Integration stehen den Anwendern eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus ohne invasiven Nadelbettzugriff zur Verfügung.

Ein Highlight ist die Möglichkeit interaktive Tests zwischen Boundary-Scan-IC und Flying Probes auszuführen. Dabei steuert die Software SYSTEM CASCON die Positionierung der Probes und nutzt die Funktionen zum Treiben und Messen der Signalpegel.

Integrationsbeispiel für Serie 4060 von SPEA

Kombination aus SPEA Tester 4060 mit SCANFLEX Hardware:

  • Controller SFX/ASL1149
  • TAP Transceiver SFX/TAP4-FXT
  • TAP Interface Card TIC022/SR
  • Software: CASCON GALAXY für SPEA 4060

Embedded JTAG Solutions Integration in die TAKAYA Serien APT94xx und APT1400F

Die Embedded JTAG Solutions Hardwareplattform SCANFLEX unterstützt die Flying Prober Serie der Firma Takaya.

Die integrierte Embedded JTAG Solutions Hardware besteht aus einem PCI-Express-Controller, einem TAP Transceiver und einem I/O Modul SFX-5704.

Ein Highlight ist die Möglichkeit interaktive Tests zwischen Boundary Scan-IC und Flying Probes auszuführen. Dabei steuert die Software SYSTEM CASCON™ die Positionierung der Probes und nutzt die Funktionen (des I/O Moduls SFX-5704) zum Treiben und Messen der Signalpegel.

Integrationsbeispiel für TAKAYA APT94xx

Kombination aus TAKAYA Tester APT94xx mit SCANFLEX Hardware

  • Controller SFX/PCIe1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/CR
  • I/O Modul SFX-5704
  • Modulträger SFX-Carrier5
  • Software: CASCON GALAXY für TAKAYA

 

Integrationsbeispiel für TAKAYA APT1400F

Kombination aus TAKAYA Tester APT1400F mit SCANFLEX Hardware

  • Controller SFX/PCIe1149
  • TAP Transceiver SFX-TAP4/FXT
  • I/O Modul SFX-5704
  • TAP Interface Card TIC022/SR
  • Software: CASCON GALAXY für TAKAYA
Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
03641-6896-732 Fon