Flying Probe Tester mit JTAG Solutions

Das Flying Probe Testverfahren ist eine flexible Lösung, diskrete analoge Bauteile auf Baugruppen zu testen. Mit hoch präzisen Nadeln („Probes“) anstelle von Adaptern sind Flying Probe Tester für kleine und mittlere Produktionsvolumen interessant.

Der Nachteil vieler Tester, deren Abarbeitungsgeschwindigkeit, wird durch die Kombination mit JTAG/Boundary Scan optimiert. Der Boundary Scan-Test deckt zudem die Prüfung der Baugruppe im digitalen Bereich ab. Im Ergebnis erhalten Sie ein Testsystem, dass fast alles abdeckt.

Vorteile einer GÖPEL electronic-Integration in den Flying Probe Tester

sehr hohe Fehlerabdeckung auch bei hochkompakten Baugruppen

hohe Flexibilität und schnelle Entwicklungszeit durch Einsparung des prüflingsspezifischen Adapters

„Testen ohne Testpunkte“ durch mögliche Kontaktierung auf den Bauteil-Pads der Baugruppe

einfache Testprogrammerstellung, da jedes Testverfahren technologie-spezifisch angewendet wird

schnelles Gesamtsystem durch mögliche Testschrittreduzierung

Speziell konzipierte Integrationspakete in verschiedenen Leistungsklassen enthalten eine auf das ATE (Automatic Test Equipment) abgestimmte Hardware- und Softwarekonfiguration. Die Funktionen der Softwareplattform SYSTEM CASCON sind in die ATE-Software des Flying-Probe-Testsystems integriert. Ein gemeinsamer Fehlerreport vervollständigt die Integrationslösung.

Mit dieser Kombination der Prüftechnologien verfügt der Anwender über eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus. Im Gegensatz zu einzelnen Systemen bietet die Integration von JTAG/Boundary Scan deutliche Vorteile in Testabdeckung, Diagnosetiefe und Prozessoptimierung.

Ein Beispiel der Systemintegration in Acculogic FLS Tester
- SFX II CUBE Controller
- differentielle Signalübertragung zu den Kontaktiermodulen
- bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
- CASCON GALAXY für Acculogic Scorpion FLS
- Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in den Integrator
Weitere Informationen:
⇒ SCANFLEX II CUBE
⇒ SCANFLEX TAP Interface Cards
Der Einsatz von JTAG/Boundary Scan ist in MTS505/Condor möglich.
Eigenschaften der Systemintegration in Digitaltest Condor
- SCANFLEX Controller auf PCIe-Basis
- zahlreiche Möglichkeiten für Ihr Board
- TAP Transceiver als Einschubkarte in das Basis-Rack
- galvanische Trennung aller GÖPEL-Signale bei Inaktivität
- differentielle Signalübertragung in den Probe-Bereich
- 6 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
- interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und Flying Probes
- CASCON GALAXY für Digitaltest Condor
- Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in CITE
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.
⇒ Broschüre Integration in Digitaltest FPT
⇒ SCANFLEX Controller SFX-PCIe 1149
⇒ SCANFLEX TAP Interface Cards

Auch für den In-Circuit-Test mit Digitaltest bieten wir verschiedene System-Integrationen zur automatischen Prüfung von Boards und Baugruppen an.
Eine Integration von JTAG/Boundary Scan ist in Polar Instruments GRS550 möglich.
Flexibilität bei der Systemintegration in Polar Instruments GRS
Variante 1 auf Basis des SCANBOOSTER II
- SCANBOOSTER II Controller
- 2 single ended TAPs für JTAG
Variante 2 auf Basis von SCANFLEX II
- SFX II CUBE Controller
- SFX-5704 Messmodul auf SFX II CUBE
- “Prober alignment” und “Testpoint detection”
- interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und Flying Probe
- CASCON GALAXY für Polar Instruments
- Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in Active Test
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.
⇒ Broschüre Integration in Polar FPT
⇒ SCANBOOSTER II
⇒ SCANFLEX II CUBE
⇒ SCANFLEX I/O Modul SFX-5704
⇒ SCANFLEX TAP Interface Cards
Eine Integration von JTAG/Boundary Scan ist in Seica Pilot H4/L4/M4/V8 möglich.
Ein Beispiel der Systemintegration in Seica Pilot
- SFX II CUBE Controller mit SFX-5704 Messmodul
- bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
- interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und Flying Probe
- CASCON GALAXY für Seica Pilot
- Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in VIVA
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.
⇒ Broschüre Integration in Seica FPT
⇒ SCANFLEX II CUBE
⇒ SCANFLEX I/O Module
⇒ SCANFLEX TAP Interface Cards

Auch für den In-Circuit-Test mit Seica bieten wir verschiedene System-Integrationen zur automatischen Prüfung von Boards an.
Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in SPEA 4020/4040/4050/4060/4080 möglich.
Systemintegration in SPEA Flying Prober
- SFX II CUBE Controller
- bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
- interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und Flying Probe
- CASCON GALAXY für SPEA Flying Probe
- Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in Leonardo
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.
⇒ Broschüre Integration in SPEA FPT
⇒ SCANFLEX II CUBE
⇒ SCANFLEX TAP Interface Cards

Auch für den ICT mit Spea bieten wir verschiedene Systeme zur automatischen Prüfung von Boards an.
Eine Integration von JTAG/Boundary Scan in Takaya APT-1400F/1600FD/9411CE/9600CE
Beispiel der Systemintegration in Takaya APT
- SFX II CUBE Controller mit SFX-5704 Messmodul
- bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
- einfache Kontaktierung Ihres Boards
- mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
- interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und Flying Probe
- Unterstützung der Multiprobe Option bei Takaya APT-1600FD
- CASCON GALAXY für Takaya APT
- Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in APT-SW
Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.
⇒ Broschüre Integration in Takaya FPT
⇒ SCANFLEX II CUBE
⇒ SCANFLEX I/O Module
⇒ SCANFLEX TAP Interface Cards