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Flying Probe Tester (FPT) mit Embedded JTAG Solutions

Integration von Embedded JTAG Solutions in Flying Probe Tester (FPT)

Das Flying Probe Testverfahren ist eine flexible Lösung, diskrete analoge Bauteile zu testen. Mit sehr präzisen Nadeln („Probes“) sind Flying Probe Tester für kleine und mittlere Produktionsvolumen interessant.

Der Nachteil vieler Flying Probe Tester, deren Abarbeitungsgeschwindigkeit, wird durch die Kombination mit JTAG/Boundary Scan optimiert. Der Boundary Scan-Test deckt zudem die Prüfung im digitalen Bereich ab. 

Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
+49 3641 6896 701 Fon

Vorteile der Integration in Flying Probe Tester (FPT)

sehr hohe Fehlerabdeckung auch bei hochkompakten Flachbaugruppen

hohe Flexibilität und schnelle Entwicklungszeit durch Einsparung des prüflingsspezifischen Adapters

„Testen ohne Tespunkte“ durch mögliche Kontaktierung auf Bauteilpads

einfache Testprogrammerstellung, da jedes Testverfahren technologie-spezifisch angewendet wird

schnelles Gesamtsystem durch mögliche Testschrittreduzierung

Boundary Scan & Flying Probe Test

Zusätzliche Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene

Speziell konzipierte Integrationspakete in verschiedenen Leistungsklassen enthalten eine auf das ATE (Automatic Test Equipment) abgestimmte Hardware- und Softwarekonfiguration. Die Funktionen der Softwareplattform SYSTEM CASCON sind in die ATE-Software des Flying Probe Testers integriert. Ein gemeinsamer Fehlerreport vervollständigt die Integrationslösung.

Mit dieser Kombination der Prüftechnologien verfügt der Anwender über eine Vielzahl zusätzlicher Testmöglichkeiten auf Board- und Systemebene über den gesamten Produktlebenszyklus. Im Gegensatz zu einzelnen Systemen bietet die Integration von JTAG/Boundary Scan deutliche Vorteile in Testabdeckung, Diagnosetiefe und Prozessoptimierung.

Integrieren Sie Embedded JTAG Solutions in Ihren Flying Probe Tester

Systemintegration in Acculogic FLS

  • SFX II CUBE Controller
  • differentielle Signalübertragung zu den Kontaktiermodulen
  • bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • CASCON GALAXY für Acculogic Scorpion FLS
  • Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in den Integrator

Weitere Informationen:

SCANFLEX II CUBE

SCANFLEX TAP Interface Cards

Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in Digitaltest MTS505/Condor möglich.

Eigenschaften der Systemintegration in Digitaltest Condor

  • SCANFLEX Controller auf PCIe-Basis
  • TAP Transceiver als Einschubkarte in das Basis-Rack
  • galvanische Trennung aller GÖPEL-Signale bei Inaktivität 
  • differentielle Signalübertragung in den Probe-Bereich
  • 6 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und Flying Probes
  • CASCON GALAXY für Digitaltest Condor
  • Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in CITE

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in Digitaltest FPT

SCANFLEX Controller SFX-PCIe 1149

SCANFLEX TAP Interface Cards

Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in Polar Instruments GRS550 möglich.

Eigenschaften der Systemintegration in Polar Instruments GRS

Variante 1 auf Basis des SCANBOOSTER

  • SCANBOOSTER Controller
  • 2 single ended TAPs für JTAG

Variante 2 auf Basis von PCI Express

  • SCANFLEX Controller auf PCIe-Basis
  • SFX-5704 Messmodul auf TAP2 Transceiver
  • “Prober alignment” und “Testpoint detection”
  • interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und Flying Probe
  • CASCON GALAXY für Polar Instruments
  • Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in Active Test

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in Polar FPT

SCANBOOSTER

SCANFLEX Controller SFX-PCIe 1149

SCANFLEX I/O Modul SFX-5704

SCANFLEX TAP Interface Cards

Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in Seica Pilot H4/L4/M4/V8 möglich.

Eigenschaften der Systemintegration in Seica Pilot

  • SFX II CUBE Controller mit SFX-5704 Messmodul
  • bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und Flying Probe
  • CASCON GALAXY für Seica Pilot
  • Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in VIVA

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in Seica FPT

SCANFLEX II CUBE

SCANFLEX I/O Module

SCANFLEX TAP Interface Cards

Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in SPEA 4020/4040/4050/4060/4080 möglich.

Systemintegration in SPEA Flying Prober

  • SFX II CUBE Controller
  • bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und Flying Probe
  • CASCON GALAXY für SPEA Flying Probe
  • Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in Leonardo

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in SPEA FPT

SCANFLEX II CUBE

SCANFLEX TAP Interface Cards

Eine Integration der Embedded JTAG Solutions ist in Takaya APT1400F/1600FD/9411CE/9600CE möglich.

Systemintegration in Takaya APT

  • SFX II CUBE Controller mit SFX-5704 Messmodul
  • bis zu 8 Anschlüsse für TAP Interface Cards (TIC Module)
  • mögliche Adaptierung von JTAG, SWD, SBW, PIC1x und BDM
  • interaktive Tests zwischen JTAG/Boundary Scan und Flying Probe
  • CASCON GALAXY für Takaya APT
  • Communication Link Software (CLS) für die Einbindung in APT-SW

Weitere Informationen entnehmen Sie bitte der Broschüre.

Broschüre Integration in Takaya FPT

SCANFLEX II CUBE

SCANFLEX I/O Module

SCANFLEX TAP Interface Cards

Applicable technologies for integrations

Embedded JTAG Solutions:
Boundary Scan
Boundary Scan
ChipVORX
IP based software technology
VarioTAP
Processor based emulation technology
Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
+49 3641 6896 701 Fon