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Anwendungen zu Embedded JTAG Solutions

ChipVORX

Debuggen, Testen und Programmieren

Zynq-7000-SoCs (System-on-Chip) von Xilinx

Die "All-Programmable"-System-on-Chip (SoC)-Reihe Zynq-7000 von Xilinx bietet ein hohes Niveau an Programmierbarkeit zum hochflexiblen Design von SoC-basierenden Lösungen.

Hauptanwendungsgebiete der Zynq-Bausteine sind Regelung und Steuerung, Kommunikation, Sicherheitstechnik, Systemmanagement und -Analyse.

Die In-System-Technologie ChipVORX konfiguriert und steuert Test-, Debug- und Programmierfunktionen für die Zynq-7000-SoCs. Die ChipVORX-Modelle enthalten sämtliche notwendige strukturelle und funktionale Informationen zur Ansteuerung der Embedded-Hardware auf Kommandoebene.

Ulrike Ahlf
Frau Ulrike Ahlf
+49 3641 6896 701 Fon

Anwendungsbeispiel Infineon

Infineon Automotive-Power-ICs testen und programmieren mit VarioTAP

Die neueste Generation der AURIX-MultiCore-Bausteine sowie die TLE987x-Familie aus dem Bereich Automotive und Embedded Power von Infineon eignen sich besonders für Steuer-Applikationen wie zum Beispiel:

  • Kraftstoffpumpen
  • Klimaanlagen-Gebläse
  • sensorbasierte Motoransteuerungen
  • sicherheitskritische Anwendungen

Herausforderung

Durch die platzsparenden BGA-, bzw. VQFN-48-Gehäuse ist typischerweise keine direkte Kontaktierung mit externen Instrumenten möglich.

 

Unsere Lösung

VarioTAP ermöglicht den Zugriff auf die bausteineigenen Ressourcen über dessen Teststrukturen. Dadurch können sowohl statische wie auch dynamische Testpattern generiert werden, welche zudem mit anderen Testmethoden wie z.B. Boundary Scan kombiniert werden können.

Damit werden strukturelle Tests erweitert, bzw. funktionale oder diagnostische Tests überhaupt erst möglich.


Anwendungsbeispiel: Helmut BEYERS

Der elektrische Test mit dem JTAG-/Boundary-Scan

Die Helmut BEYERS GmbH aus Mönchengladbach ist ein mittelständischer Auftragsfertiger. Das Unternehmen arbeitet im Auftrag von OEM-Kunden aus der Telekommunikations-, Medizin- oder Haustechnik. Zunehmend kommen Anfragen aus den Bereichen intelligenter Elektronik für Industrie 4.0- und Smart-Home-Anwendungen. Von Nullserien, Prototypen bis hin zu 50.000er Losgrößen skaliert die Fertigung flexibel und setzt auch anspruchsvolle technologische Kundenwünsche um. 

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JTAG/Boundary Scan Tester und Programmer

Herausforderung

  • Kunden fordern Fehlertoleranz von teilweise < 1 %
  • schwere Testbarkeit durch hohen BGA-Einsatz und fehlende Testpunkte
  • Ergänzung zum In-Circuit-Test notwendig
  • Einhalten von Taktzeiten

Lösung

Produktionstester JULIET

  • Kombination von Prüfstrategien für nahezu 100-prozentige Testtiefe   
  • schnelle Adaption von Prüflingen          
  • Testsystem in Kombination mit automatischer Baugruppenprogrammierung spart Zeit
  • vollautomatische Programmierung sämtlicher ICs direkt im Prüfprozess integriert

Funktionale Schaltungstests für energieeffiziente i.MX6-Multimedia-Prozessoren von NXP

Basierend auf der ARM® Cortex™-A9-Architektur mit bis zu vier Kernen wurden die i.MX6-Prozessoren von NXP speziell für Unterhaltungs-, Industrie- und Automobilanwendungen entwickelt. Der Fokus der Funktionalität liegt in einer Kombination aus neuester 3D/2D-HD-Grafiktechnologie bei effizientem Energiemanagement.

Mit JEDOS führen Sie spezielle Test- und Programmierprozeduren für die i.MX6-Familie durch:

  • Test und Kalibrierung von DDR-Bausteinen
  • Test von High-Speed-Schnittstellen (PCIe)
  • Laden von Flash-Bausteinen über externe Medien oder Kommunikationsinterfaces
i.MX6-Multimedia-Prozessoren von NXP